[發明專利]一種多波長晝夜整層大氣透過率實時測量裝置有效
| 申請號: | 201611178096.6 | 申請日: | 2016-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN106769931B | 公開(公告)日: | 2019-05-03 |
| 發明(設計)人: | 張巳龍;譚逢富;靖旭;何楓;侯再紅 | 申請(專利權)人: | 中國科學院合肥物質科學研究院 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務所 11569 | 代理人: | 王加貴 |
| 地址: | 23000*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 透過率 光闌 望遠鏡 成像 多波長 濾光片 通光孔 光楔 實時測量裝置 光斑 波長 測量 電荷耦合元件 背景噪聲 測量裝置 多條光束 光束通過 恒星跟蹤 亮度計算 實時測量 有效抑制 信噪比 恒星 鏡蓋 前鏡 | ||
1.一種多波長晝夜整層大氣透過率實時測量裝置,其特征在于,所述裝置包括:恒星跟蹤平臺,鏡蓋,N個光楔,N個濾光片,光闌和電荷耦合元件,N為正整數;
所述恒星跟蹤平臺包括望遠鏡,用于實時跟蹤恒星進行測量;
所述望遠鏡前安裝所述鏡蓋,所述鏡蓋包括N個通光孔;
所述N個光楔位于所述鏡蓋與所述望遠鏡之間,所述鏡蓋的N個通光孔與所述N個光楔一一對應,所述光楔用于將通過所述N個通光孔的N條光束向背離光楔分布中心的方向偏折,所述光楔分布中心為所述N個光楔組成的平面圖形的幾何中心;
所述N個濾光片安裝于所述望遠鏡之后,位于所述望遠鏡的焦平面之前,用于對經過所述N個光楔進入所述望遠鏡的N條光束進行濾光;
所述光闌位于所述N個濾光片之后,所述光闌包括N個通道,所述N個通道與所述N個濾光片一一對應,所述N個通道用于分別傳輸經過所述N個濾光片的N條光束;
所述電荷耦合元件安裝于所述光闌之后,所述電荷耦合元件的接收靶面與所述望遠鏡的焦平面重合;
所述恒星的光束通過所述鏡蓋的N個通光孔,分為N條光束,每一條光束的傳播路徑為:通過一個所述光楔后進入所述望遠鏡,然后依次通過一個所述濾光片、所述光闌的一個通道,最后到達所述電荷耦合元件的接收靶面,成像為一個光斑;所述N條光束在傳播過程中經過的所述光楔、所述濾光片、所述光闌的通道各不相同。
2.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述N個濾光片為窄帶濾光片。
3.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括:
所述N個濾光片與所述電荷耦合元件之間安裝有N個衰減片,所述N個衰減片與所述N個濾光片一一對應,所述N個衰減片的透過率與在所述電荷耦合元件靶面成像的N個光斑的亮度值成反比,所述N個光斑為未安裝所述N個衰減片時,經過所述N個通光孔、所述N個濾光片的N條光束在所述電荷耦合元件靶面成像的N個光斑。
4.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述N個通光孔的直徑大小與在所述電荷耦合元件靶面成像的N個光斑的亮度成反比,所述N個光斑為當所述N個通光孔直徑相同時,經過所述N個通光孔、所述N個濾光片的N條光束在所述電荷耦合元件靶面成像的N個光斑。
5.一種多波長晝夜整層大氣透過率實時測量方法,其特征在于,所述方法包括:
調節恒星跟蹤平臺,使得所述恒星跟蹤平臺的望遠鏡實時跟蹤恒星;所述恒星跟蹤平臺包括望遠鏡,用于實時跟蹤恒星進行測量;所述望遠鏡前安裝鏡蓋,所述鏡蓋包括N個通光孔,N為正整數;所述鏡蓋與所述望遠鏡之間還包括N個光楔,所述鏡蓋的N個通光孔與所述N個光楔一一對應,所述光楔用于將通過所述N個通光孔的N條光束向背離光楔分布中心的方向偏折,所述光楔分布中心為所述N個光楔組成的平面圖形的幾何中心;所述望遠鏡之后還包括N個濾光片,所述N個濾光片位于所述望遠鏡的焦平面之前,用于對經過所述N個光楔進入所述望遠鏡的N條光束進行濾光;所述N個濾光片之后包括光闌,所述光闌包括N個通道,所述N個通道與所述N個濾光片一一對應,所述N個通道用于分別傳輸經過所述N個濾光片的N條光束;所述光闌之后安裝有電荷耦合元件,所述電荷耦合元件的接收靶面與所述望遠鏡的焦平面重合;恒星的光束通過所述鏡蓋的N個通光孔,分為N條光束,每一條光束的傳播路徑為:通過一個所述光楔后進入所述望遠鏡,然后依次通過一個所述濾光片、所述光闌的一個通道,最后到達所述電荷耦合元件的接收靶面,成像為一個光斑;所述N條光束傳播過程中經過的所述光楔、所述濾光片、所述光闌的通道各不相同;
獲取所述電荷耦合元件的接收靶面上N個光斑的亮度,N為正整數,所述N個光斑為光束依次經過所述鏡蓋的N個通光孔,N個光楔,望遠鏡,N個濾光片,光闌的N個通道,到達所述電荷耦合元件接收靶面的N個光斑;
根據所述N個光斑的亮度,獲取所述N個光斑對應的N個波長光束的整層大氣透過率。
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