[發明專利]電子器件在板卡圖中的突顯方法及系統

在審

• 申請號: 201611177687.1
• 申請日: 2016-12-19
• 公開（公告）號: CN106803249A
• 公開（公告）日: 2017-06-06
• 發明（設計）人: 劉柏芳
• 申請（專利權）人: 廣州視源電子科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/181
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙)11201
• 代理人: 何世磊

技術領域

本發明涉及自動光學檢測技術領域，特別涉及一種電子器件在板卡圖中的突顯方法及系統。

背景技術

AOI(Automatic Optical Inspection，自動光學檢測)是基于光學原理來對焊接生產中遇到的常見缺陷進行檢測的技術，是液晶及微電子等行業廣泛使用的測量手段，而AOI設備則是液晶及微電子等行業廣泛使用的檢測設備，AOI設備可用于在線檢測PCB板卡，判斷PCB板卡上的相關器件是否達到預設的參數。

目前采用AOI設備在線對PCB板卡檢測時，通常需要拍攝整個板卡的圖片，然后在板卡圖片中將所有待測電子器件各自所在的圖像區域一一選中，使得所有待測電子器件各自所在的圖像區域均在板卡圖片中進行突顯，間接使所有待測電子器件在板卡圖片中進行突顯，以制作成測試板式文件，然后AOI設備將根據測試板式文件當中突顯的圖像區域，自動在板卡中匹配出與突顯的圖像區域的位置對應的檢測區域，然后對檢測區域內的電子器件進行檢測，從而實現對所有待測電子器件進行檢測。

然而，現有技術當中，目前在制作上述的測試板式文件時，通常是通過人工在板卡圖片中將所有待測電子器件各自所在的圖像區域進行一一選中，而一個板卡上可能會有上百個不同種類的電子器件，采用人工一個一個選中突顯將費時費力，降低檢測的效率，同時經常出現遺漏未被突顯的器件，從而出現漏檢測的電子器件，減低了檢測的可靠性。

發明內容

基于此，本發明的目的是提供一種電子器件在板卡圖中的突顯方法及系統，以實現對所有待測電子器件各自所在的圖像區域在板卡圖片中進行突顯，進而實現將所有待測電子器件在板卡圖片中進行突顯。

根據本發明實施例的一種電子器件在板卡圖中的突顯方法，包括：

選中板卡圖中任一目標電子器件所在的圖像區域，并將選中的圖像區域作為所述目標電子器件的器件樣版圖進行存儲；

將所述器件樣版圖對整個所述板卡圖進行掃描；

當檢測到所述板卡圖中存在與所述器件樣版圖一致的目標圖像區域時，將所述目標圖像區域進行突顯，以將所有的所述目標電子器件在所述板卡圖中進行突顯。

另外，根據本發明上述實施例的一種電子器件在板卡圖中的突顯方法，還可以具有如下附加的技術特征：

所述將所述器件樣版圖對整個所述板卡圖進行掃描的步驟包括：

獲取所述板卡圖當中在所述器件樣版圖當前掃描位置下的當前圖像區域；

將所述當前圖像區域與所述器件樣版圖進行比較。

所述將所述目標圖像區域進行突顯的步驟包括：

獲取所述目標圖像區域的所有邊界點的坐標信息；

根據所述所有邊界點的坐標信息，從預設邊界點開始按照預設的連接順序通過預設參數的線條依次將所述目標圖像區域的所有邊界點連接，以生成所述目標圖像區域的邊框，所述預設參數包括線條的顏色、形狀及大小。

在所述選中板卡圖中任一目標電子器件所在的圖像區域，并將選中的圖像區域作為所述目標電子器件的器件樣版圖進行存儲的步驟之后，所述電子器件在板卡圖中的突顯方法還包括：

獲取輸入的與所述目標電子器件對應的器件待測參數，并將所述器件待測參數進行存儲。

所述電子器件在板卡圖中的突顯方法運用于一自動光學檢測設備，在所述當檢測到所述板卡圖中存在與所述器件樣版圖一致的目標圖像區域時，將所述目標圖像區域進行突顯，以將所有的所述目標電子器件在所述板卡圖中進行突顯的步驟之后，所述電子器件在板卡圖中的突顯方法還包括：

提取所述器件待測參數；

根據所述目標圖像區域在所述板卡圖上的位置，以得到在與所述板卡圖對應的板卡中位置與所述目標圖像區域對應的檢測區域；

將所述自動光學檢測設備按照所述器件待測參數對所述檢測區域內的器件進行檢測。

根據本發明實施例的一種電子器件在板卡圖中的突顯系統，包括：

圖像存儲模塊，用于選中板卡圖中任一目標電子器件所在的圖像區域，并將選中的圖像區域作為所述目標電子器件的器件樣版圖進行存儲。

圖像掃描模塊，用于將所述器件樣版圖對整個所述板卡圖進行掃描；

圖像突顯模塊，用于當檢測到所述板卡圖中存在與所述器件樣版圖一致的目標圖像區域時，將所述目標圖像區域進行突顯，以將所有的所述目標電子器件在所述板卡圖中進行突顯。

另外，根據本發明上述實施例的一種電子器件在板卡圖中的突顯系統，還可以具有如下附加的技術特征：

所述圖像掃描模塊包括：