[發明專利]內置式巖樣內孔徑向變形測試裝置

有效

• 申請號: 201611176095.8
• 申請日: 2016-12-19
• 公開（公告）號: CN106595468B
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發明（設計）人: 趙寶云;黃天柱;劉洋;陳超;蔣斌;張馳;劉東燕;黃偉;董倩;陳高武;劉洪;蘇堪華;李子運;王麗萍;許年春;王自健;吳同情;況龍川;董秀坤;王思長
• 申請（專利權）人: 重慶科技學院
• 主分類號: G01B7/16
• 分類號: G01B7/16
• 代理公司: 重慶謝成律師事務所 50224
• 代理人: 鄔劍星

本發明公開了一種內置式巖樣內孔徑向變形測試裝置，內置式巖樣內孔徑向變形測試裝置，包括可放置于待測巖樣內孔內并可隨待測巖樣內孔徑向變形而變形的環狀引伸計、用于使所述環狀引伸計貼附于待測巖樣內孔壁的貼附裝置和用于感應環狀引伸計變形的傳感器；所述環狀引伸計為設有開口的圓環，圓環開口一端設置有滑桿，所述滑桿可沿其自身軸向相對開口另一端單自由度滑動。本發明的內置式巖樣內孔徑向變形測試裝置，可放置于待測巖樣內孔內，并且設置有貼附裝置使得引伸計與待測巖樣內孔內壁緊密接觸，測量巖樣內孔徑向變形方便，且測量結果精準。

技術領域

本發明涉及一種巖樣變形測試裝置，特別涉及一種內置式巖樣內孔徑向變形測試裝置。

背景技術

在進行有內孔的巖石力學特性試驗時，需要對內孔的變形進行測試，由于巖樣的內孔尺寸小，內孔試驗時處于封閉狀態，不易直接監測其變形，而且引伸計不容易固定于巖樣內孔徑內，測量內孔徑向變形很不方便而且測量結果不精準。

因此，有必要對現有技術中的引伸計進行改進，使其易于檢測巖樣內孔徑向變形，且測量結果精準。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種內置式巖樣內孔徑向變形測試裝置，使其易于檢測巖樣內孔徑向變形，且測量結果精準。

本發明的內置式巖樣內孔徑向變形測試裝置，包括可放置于待測巖樣內孔內并可隨待測巖樣內孔徑向變形而變形的環狀引伸計、用于使所述環狀引伸計貼附于待測巖樣內孔壁的貼附裝置和用于感應環狀引伸計變形的傳感器；

所述環狀引伸計為設有開口的圓環，圓環開口一端設置有滑桿，所述滑桿可沿其自身軸向相對開口另一端單自由度滑動。

進一步，所述貼附裝置包括主骨架、次骨架、第一圓盤和第二圓盤；所述第一圓盤、第二圓盤和所述環狀引伸計三者的圓心共線，第二圓盤到環狀引伸計的距離小于第一圓盤到環狀引伸計的距離，第一圓盤和第二圓盤之間設置有拉伸彈簧；所述主骨架的一端鉸接于所述環狀引伸計，另一端鉸接于第一圓盤；所述次骨架的一端鉸接于第二圓盤，另一端鉸接于主骨架。

進一步，所述第二圓盤背向第一圓盤的一面設置有支撐桿。

進一步，所述傳感器電容式傳感器，所述電容式傳感器的電容可隨所述滑桿滑動而變化。

進一步，所述電容式傳感器包括設置于所述圓環開口無滑桿端的電極板，所述電極板包括第一電極板和第二電極板，所述滑桿伸入第一電極板和第二電極板之間并可沿其自身軸向在電極板表面單自由度滑動。

進一步，所述滑桿的軸徑小于第一電極板和第二電極板之間的距離，滑桿靠近電極板的端部軸徑增大至可與電極板接觸形成可沿電極板表面單自由度滑動的滑板。

進一步，還包括用于防止所述滑板滑出所述第一電極板和第二電極板之間的限位裝置。

進一步，所述限位裝置包括設置于所述滑板和圓環開口端之間的彈簧。

進一步，所述限位裝置還包括設置于所述第一電極板和第二電極板之間的限位板。

本發明的有益效果：本發明的內置式巖樣內孔徑向變形測試裝置，可放置于待測巖樣內孔內，并且設置有貼附裝置使得引伸計與待測巖樣內孔內壁緊密接觸，測量巖樣內孔徑向變形方便，且測量結果精準。

附圖說明

下面結合附圖和實施例對本發明作進一步描述：

圖1為本發明的結構示意圖；

圖2為圖1的俯視圖；

圖3為圖2中電容式傳感器附近的放大結構示意圖。

具體實施方式