[發明專利]激光解吸電離質譜裝置

在審

• 申請號: 201611173975.X
• 申請日: 2016-12-16
• 公開（公告）號: CN106783513A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 賈善余;楊灝
• 申請（專利權）人: 浙江和譜生物科技有限公司;上海華質生物技術有限公司
• 主分類號: H01J49/40
• 分類號: H01J49/40;H01J49/10
• 代理公司: 杭州知通專利代理事務所(普通合伙)33221
• 代理人: 馮燕青

1.激光解吸電離質譜裝置，其特征在于，所述裝置包括MALDI離子源真空腔，線性離子阱真空腔和飛行時間分析器真空腔；其中MALDI離子源真空腔內設有MALDI離子源靶板；MALDI離子源靶板的靶板運動系統位于真空腔之外，處于常壓環境；MALDI離子源靶板和靶板運動系統之間設有靶板運動系統真空過渡機構；靶板運動系統真空過渡機構將靶板運動系統的動能傳遞至MALDI離子源真空腔內，實現MALDI離子源靶板的運動。

2.根據權利要求1所述的激光解吸電離質譜裝置，其特征在于，MALDI離子源真空腔內還設有MALDI濺射離子聚集成束裝置。

3.根據權利要求1所述的激光解吸電離質譜裝置，其特征在于，靶板運動系統的電機為常壓電機。

4.根據權利要求1所述的激光解吸電離質譜裝置，其特征在于，所述MALDI離子源真空腔內的真空度為大于10Pa。

5.根據權利要求1所述的激光解吸電離質譜裝置，其特征在于，線性離子阱真空腔的真空度為10^-2-10^-3Pa。

6.根據權利要求1所述的激光解吸電離質譜裝置，其特征在于，所述飛行時間分析器真空腔采用反射式分析器結構。

7.根據權利要求1所述的激光解吸電離質譜裝置，其特征在于，所述飛行時間分析器真空腔的真空度為小于10^-4Pa。

8.根據權利要求1所述的激光解吸電離質譜裝置，其特征在于，所述飛行時間分析器真空腔內設有離子加速器，離子反射器和離子檢測器。

9.根據權利要求1所述的激光解吸電離質譜裝置，其特征在于，所述裝置的工作電壓小于5kV。