[發(fā)明專利]一種檢測人工合成色素的表面增強拉曼散射基底及其制備方法和應(yīng)用在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611173322.1 | 申請日: | 2017-08-07 |
| 公開(公告)號: | CN107192701A | 公開(公告)日: | 2017-09-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 韓彩芹;姚悅;鄒琦;王穩(wěn);段凌風(fēng) | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇師范大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 221000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測 人工合成 色素 表面 增強 散射 基底 及其 制備 方法 應(yīng)用 | ||
1.一種檢測人工合成色素的的表面增強拉曼散射基底,其特征在于,包括基片,覆蓋于基片表面的鈦薄膜層,覆蓋于鈦薄膜層表面的銀薄膜層,以及覆蓋于銀薄膜層表面的銀納米棒陣列層,且銀納米棒與玻璃片表面的夾角為86°。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基底,其特征在于,所述的銀納米棒的棒長為850-950 nm、直徑為80-99 nm、棒間距為150-300 nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基底,其特征在于,所述的基片為硅晶片或玻璃片。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基底,其特征在于,所述的鈦薄膜層的厚度為20 nm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基底,其特征在于,所述的銀薄膜層的厚度為100 nm。
6.一種根據(jù)權(quán)利要求1-5任一所述基底的制備方法,其特征在于,包括如下具體步驟:
A、清洗基片:先配制洗液清洗基片,然后用去離子水沖洗干凈,氮氣吹干,固定在真空沉積室中;
B、制備鈦、銀薄膜層:在壓力小于1×10-6 Torr的真空沉積室中,通過電子束蒸發(fā),在上步干凈的基片上,先以0.2nm/s的速度沉積鈦薄膜層,再以0.3nm/s的速度沉積銀薄膜層;
C、制備銀納米棒陣列層:采用傾斜角沉積技術(shù),通過電子束蒸發(fā),在上步銀薄膜層表面以0.3nm/s的速度生長銀納米棒陣列層,且旋轉(zhuǎn)基片使其法線與沉積方向夾角為86°。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于,所述的洗液采用體積比為8:2的98%硫酸和30%雙氧水的混合溶液,或者體積比為5:1:1的去離子水、過氧化氫、氫氧化銨的混合溶液。
8.一種根據(jù)權(quán)利要求1-5任一所述基底檢測人工合成色素的應(yīng)用,其特征在于,包括如下具體步驟:在室溫條件下,將人工合成色素樣品滴加到上述基底表面,選取上述樣品上任意多個位置,利用便攜式拉曼光譜儀進行檢測,檢測條件為激光功率30-100mW,積分時間為1-10s,光譜探測范圍350-1800cm-1,檢測結(jié)果為多個樣品點的平均光譜。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





