[發(fā)明專利]一種軸向漏磁信號(hào)長(zhǎng)度量化方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611168423.X | 申請(qǐng)日: | 2016-12-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106770627B | 公開(公告)日: | 2019-12-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 魏寧;鄭莉;李娜;呼婧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京華航無線電測(cè)量研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N27/83 | 分類號(hào): | G01N27/83 |
| 代理公司: | 11386 北京天達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 張春;龔頤雯 |
| 地址: | 100013 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 長(zhǎng)度量化 長(zhǎng)度特征 求解模型 缺陷信號(hào) 缺陷樣本 融合策略 屬性建立 速度因素 未知參數(shù) 穩(wěn)定特征 圓周信號(hào) 軸向漏磁 閾值特征 魯棒性 外部管 減小 量化 | ||
1.一種軸向漏磁信號(hào)長(zhǎng)度量化方法,其特征在于,該方法包括:
步驟1、漏磁信號(hào)長(zhǎng)度特征提取;具體實(shí)現(xiàn)步驟為:
1.1、微分長(zhǎng)度特征提取
設(shè)漏磁信號(hào)表示為S(x),計(jì)算其微分信號(hào)S'(x)
設(shè)微分信號(hào)S'(x)最大值與最小值橫軸坐標(biāo)之差Ld為微分長(zhǎng)度特征;
1.2、固定閾值特征提取
以漏磁信號(hào)S(x)的最大值乘以比例系數(shù)ρ作為閾值T,則由閾值T截取的軸向長(zhǎng)度Lt為長(zhǎng)度特征;
1.3、長(zhǎng)度特征融合
設(shè)融合系數(shù)為τ,則最終的漏磁信號(hào)長(zhǎng)度特征為Fl
Fl=τ*Ld+(1-τ)*Lt,τ∈[0,1] (2)
步驟2、圓周信號(hào)特征提取及幅值特征提取;
步驟3、建立基于多參數(shù)的信號(hào)長(zhǎng)度量化模型,其中,所述多參數(shù)包括上述漏磁信號(hào)長(zhǎng)度特征、圓周信號(hào)特征及幅值特征;
步驟4、求解所述基于多參數(shù)的信號(hào)長(zhǎng)度量化模型中的未知參數(shù),從而得到最終的信號(hào)長(zhǎng)度量化模型,利用該模型對(duì)軸向漏磁信號(hào)進(jìn)行長(zhǎng)度量化。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟2、圓周信號(hào)特征提取及幅值特征提取,其具體實(shí)現(xiàn)步驟為:
2.1、圓周信號(hào)特征提取
設(shè)漏磁信號(hào)周向跨度信號(hào)為C(x),則圓周特征Fc計(jì)算如下
其中Max(x)和Min(x)分別是最大值、最小值函數(shù);
2.2、幅值特征提取
設(shè)漏磁信號(hào)S(x)波峰、波谷差值為幅值特征Fa
Fa=Max[S(x)]-Min[S(x)] (4)
其中Max(x)和Min(x)分別是最大值、最小值函數(shù)。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟3、建立基于多參數(shù)的信號(hào)長(zhǎng)度量化模型,其具體實(shí)現(xiàn)步驟如下:
根據(jù)缺陷內(nèi)外屬性,建立信號(hào)長(zhǎng)度量化模型如下所示
其中,in表示是內(nèi)缺陷,ou表示是外缺陷,ak,bk為待求解參數(shù),k取0,1,2,3;x,y,z參數(shù)分別表示長(zhǎng)度特征、圓周信號(hào)特征和幅值特征,由樣本數(shù)據(jù)獲取。
4.如權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述步驟4、求解所述基于多參數(shù)的信號(hào)長(zhǎng)度量化模型中的未知參數(shù),其中內(nèi)缺陷參數(shù)求解的具體實(shí)現(xiàn)步驟如下:
4.1、計(jì)算特征值,建立多元參數(shù)方程
任意漏磁信號(hào)樣本i,缺陷長(zhǎng)度真值為L(zhǎng)i,根據(jù)公式(1)~(4)分別計(jì)算與任意漏磁信號(hào)樣本i對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)度特征Fli、圓周信號(hào)特征Fci和幅值特征Fai,缺陷長(zhǎng)度估計(jì)值表示如下:
4.2、最小二乘求解未知參數(shù):
建立誤差函數(shù)H
其中,n為樣本數(shù);
求解方程組獲得未知參數(shù)aj:
5.如權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述步驟4、求解所述基于多參數(shù)的信號(hào)長(zhǎng)度量化模型中的未知參數(shù),其外缺陷參數(shù)的求解方法與內(nèi)缺陷參數(shù)求解的方法相同。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京華航無線電測(cè)量研究所,未經(jīng)北京華航無線電測(cè)量研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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