[發明專利]電路裝置、振蕩器、電子設備以及移動體

有效

• 申請號: 201611167338.1
• 申請日: 2016-12-16
• 公開（公告）號: CN106953633B
• 公開（公告）日: 2022-03-22
• 發明（設計）人: 米澤岳美
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: H03L7/093
• 分類號: H03L7/093;H03L7/099
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;鄧毅

1.一種電路裝置，其中，該電路裝置包含：

振蕩信號生成電路，其使用頻率控制數據和振子生成振蕩信號；

基準信號輸入端子，其輸入基準信號；

內部相位比較部，其進行基于所述振蕩信號的輸入信號、和經由所述基準信號輸入端子輸入的所述基準信號的相位比較；以及

處理部，其進行信號處理，

所述振蕩信號生成電路在第1模式下，使用基于外部相位比較部的相位比較結果的所述頻率控制數據，生成所述振蕩信號，所述外部相位比較部進行所述基準信號和基于所述振蕩信號的輸入信號的相位比較，

所述振蕩信號生成電路在第2模式下，使用基于所述內部相位比較部的相位比較結果的所述頻率控制數據，生成所述振蕩信號，

所述處理部在所述第1模式下，根據輸入保持模式檢測信號的輸入端子的電壓、或者經由數字接口部輸入的保持模式檢測信息，判斷是否處于第1保持模式狀態，所述第1保持模式狀態是由所述基準信號的消失或者異常引起的所述外部相位比較部的保持模式。

2.根據權利要求1所述的電路裝置，其中，

在所述第2模式下，根據經由所述基準信號輸入端子輸入的所述基準信號，判斷是否處于第2保持模式狀態，所述第2保持模式狀態是由所述基準信號的消失或者異常引起的所述內部相位比較部的保持模式。

3.根據權利要求2所述的電路裝置，其中，

該電路裝置還包含檢測電路，所述檢測電路檢測包含所述內部相位比較部的PLL電路的鎖定狀態，

所述處理部在所述第2模式下，根據經由所述基準信號輸入端子輸入的所述基準信號、和來自所述檢測電路的PLL鎖定檢測信號，判斷是否處于所述第2保持模式狀態。

4.根據權利要求3所述的電路裝置，其中，

所述處理部在判斷為所述基準信號消失或者異常、并且所述PLL電路不是所述鎖定狀態的情況下，判斷為處于所述第2保持模式狀態。

5.根據權利要求2所述的電路裝置，其中，

所述處理部在判斷為處于所述第1保持模式狀態或者所述第2保持模式狀態的情況下，生成老化校正后的所述頻率控制數據，并輸出到所述振蕩信號生成電路。

6.根據權利要求1所述的電路裝置，其中，

該電路裝置還包含數字接口部，

在所述第1模式下，基于所述外部相位比較部的相位比較結果的所述頻率控制數據被輸入到所述數字接口部，所述振蕩信號生成電路根據輸入到所述數字接口部的所述頻率控制數據，生成所述振蕩信號。

7.一種振蕩器，其中，該振蕩器包含：

權利要求1所述的電路裝置；以及

所述振子。

8.一種電子設備，其特征在于，該電子設備包含權利要求1所述的電路裝置。

9.一種移動體，其特征在于，該移動體包含權利要求1所述的電路裝置。