[發明專利]基于金-鐵電單晶體系的負微分電阻效應器件及其制備有效
| 申請號: | 201611167302.3 | 申請日: | 2016-12-16 | 
| 公開(公告)號: | CN108206239B | 公開(公告)日: | 2019-10-01 | 
| 發明(設計)人: | 張靜;柯三黃 | 申請(專利權)人: | 同濟大學 | 
| 主分類號: | H01L47/00 | 分類號: | H01L47/00 | 
| 代理公司: | 上海科盛知識產權代理有限公司 31225 | 代理人: | 林君如 | 
| 地址: | 200092 *** | 國省代碼: | 上海;31 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 金電極 負微分電阻效應 鐵電單晶 鐵電單晶體 制備 電子元器件 三明治結構 制備高性能 周期性排列 薄層材料 接觸設置 耦合 表面態 散射區 減小 漏極 源極 兩邊 軌道 | ||
1.一種基于金-鐵電單晶體系的負微分電阻效應器件,其特征在于,包括分別作為源極和漏極的兩個金電極,接觸設置在兩個金電極之間并構成中間散射區的鐵電單晶,以及分別連接所述鐵電單晶兩邊的柵極,所述的金電極、鐵電單晶均為位于X軸和Y軸構成平面內的薄層材料,所述的兩個金電極和鐵電單晶以“金電極-鐵電單晶-金電極”式的“三明治結構”沿Z軸周期性排列并構成所述負微分電阻效應器件;
所述的兩個金電極的間距為納米量級,所述的鐵電單晶薄層材料的沿Z軸方向的厚度為納米量級;
所述的鐵電單晶為鐵電晶體CdPbO3;
負微分電阻效應,是利用所述鐵電單晶的陽離子Cd的4d軌道的態密度與金電極表面態之間耦合而形成的。
2.如權利要求1所述的基于金-鐵電單晶體系的負微分電阻效應器件的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)利用金表面作為負微分電阻效應器件的源極和漏極;
(2)將構成中間散射區的鐵電單晶的氧表面與金電極兩端接觸,形成氧化層;
(3)將位于X軸與Y軸構成平面內的金電極和鐵電單晶的材料薄層在Z軸方向上排列形成“三明治結構”,并將所述“三明治結構”沿Z軸周期性排列構成層狀結構的雙電極體系的電輸送系統;
(4)在所述電輸送系統的鐵電單晶兩邊設計出留作柵極的孔洞,并在孔洞中制作所述柵極,即得到所述負微分電阻效應器件。
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