[發明專利]用于構件的定位系統及方法

有效

• 申請號: 201611167111.7
• 申請日: 2016-12-16
• 公開（公告）號: CN106969734B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: Y.E.奧斯特克;S.H.伊奇利;M.于瓦拉克利奧盧;B.J.杰曼;J.L.伯恩塞德
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 嚴志軍;傅永霄

1.一種用于構件(10)的定位方法(200)，所述構件(10)具有外表面(11)，所述方法(200)包括：

通過分析所述構件的圖像(212)以獲得關于所述構件的表面特征(30)的X軸線數據點(214)和關于所述構件的表面特征(30)的Y軸線數據點(216)來沿X軸線(50)和Y軸線(52)定位配置在所述外表面(11)上的所述表面特征(30)；

沿Z軸線(54)直接地測量所述表面特征(30)，以獲得所述表面特征(30)的Z軸線數據點(222)，其中所述X軸線(50)、所述Y軸線(52)和所述Z軸線(54)相互正交；

基于關于所述構件的所述表面特征的X軸線數據點和直接測量的Z軸線數據點計算所述表面特征的縱傾角；并且

基于關于所述構件的所述表面特征的Y軸線數據點和直接測量的Z軸線數據點計算所述表面特征的側傾角。

2.根據權利要求1所述的方法(200)，其特征在于，所述表面特征(30)使用非接觸直接測量技術來直接地測量。

3.根據權利要求1所述的方法(200)，其特征在于，直接測量步驟包括：

朝所述表面特征(30)發射光(124)；

在所述光(124)反射之后探測所述光(124)；以及

基于探測的光(124)來計算所述Z軸線數據點(222)。

4.根據權利要求1所述的方法(200)，其特征在于，分析所述圖像(212)包括執行所述圖像(212)的像素(219)分析。

5.根據權利要求1所述的方法(200)，其特征在于，所述表面特征(30)為應變傳感器(40)。

6.根據權利要求1所述的方法(200)，其特征在于，所述表面特征(30)為冷卻孔(35)。

7.一種用于構件(10)的定位系統(100)，所述構件(10)具有外表面(11)，所述系統(100)包括：

數據采集系統(100)，所述數據采集系統(100)包括：

用于獲得所述構件(10)的圖像(212)的成像裝置(106)；以及

用于檢查配置在所述構件(10)的所述外表面(11)上的表面特征(30)的三維數據采集裝置(108)；以及

與所述數據采集系統(102)可操作通信的處理器(104)，所述處理器(104)配置成用于：

通過分析所述圖像以獲得所述表面特征(30)的X軸線數據點(214)和Y軸線數據點(216)來沿X軸線(50)和Y軸線(52)定位所述表面特征(30)；

基于來自所述三維數據采集裝置(108)的信號獲得所述表面特征(30)的沿Z軸線(54)的Z軸線數據點(222)，其中所述X軸線(50)、所述Y軸線(52)和所述Z軸線(54)相互正交；以及

基于由分析所述圖像獲得的X軸線數據點和來自所述三維數據采集裝置獲得的Z軸線數據點計算所述表面特征的縱傾角；并且

基于由分析所述圖像獲得的Y軸線數據點和來自所述三維數據采集裝置獲得的Z軸線數據點計算所述表面特征的側傾角。

8.根據權利要求7所述的系統(100)，其特征在于，所述三維數據采集裝置(108)為非接觸三維數據采集裝置(108)。

9.根據權利要求7所述的系統(100)，其特征在于，分析所述圖像(212)包括執行所述圖像(212)的像素(218)分析。