[發明專利]一種模塊LOS的測試設備及其測試方法

在審

• 申請號: 201611159314.1
• 申請日: 2016-12-15
• 公開（公告）號: CN106788692A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 張德玲;付永安
• 申請（專利權）人: 武漢電信器件有限公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07;H04B10/075;H04B10/077
• 代理公司: 北京中北知識產權代理有限公司11253
• 代理人: 段秋玲

技術領域

本發明屬于光通信網絡領域，尤其涉及一種模塊LOS的測試設備及其測試方法。

背景技術

光收發模塊作為光纖接入網的核心器件推動了干線光傳輸系統向低成本、高性能方向發展。光模塊是一個由光電子器件、功能電路和光接口等結構件組成的光電轉換模塊。光模塊主要用于光信號的收發，光信號通過光纖接入光模塊，可以將光信號轉換為電信號。同時也可以將電信號的信息通過光模塊轉換成光信號，然后通過光纖發送出去。

智能SFP光模塊，即采用數字診斷功能的SFP光模塊，是各廠商技術升級換代的標志性產品。在光模塊內部會帶有DDM監控功能，尤其帶有LOS(LOS of Signal，光信號丟失)告警控制功能。告警控制電路主要包括信號標示器、接地的取樣電阻；用于將輸出的光信號經接收信號標示器，得到對應的探測器電流鏡像值，通過接地取樣電阻轉換成電壓后，輸入控制單元，以使控制單元實時采集接收的光信號大小，當接收到的光信號小于功率閾值時，輸出告警信號。當接收光信號功率在給定的時間內一直低于某一設定的門限值，或者當檢測到某個不安全條件狀況超出了定義范圍時，則設備進入LOS狀態。廠家可根據LOS狀態順藤摸瓜，對癥下藥，解決問題。

目前自動測試均為軟件監測，并不能完全代替硬件。因為目前不管輸出是上拉還是MOS輸出，都不能完全保證硬件與軟件同步；導致在現有的測試條件下對于一些硬件上出現的問題就無法測試出來，尤其LOS信號。在生產光模塊的測試過程中，如果無法測試出LOS失效的情況，導致不良品流出到客戶，則在客戶端將影響系統層會報錯，無法正常進行通訊，造成不必要的損失。

發明內容

有鑒于此，為了克服現有技術的不足，本發明提供一種模塊LOS的測試設備及其測試方法，能夠完全保證硬件與軟件同步監測，并且能夠準確測試出LOS信號是否有失效。

為實現上述目的，本發明的技術方案如下：

一種模塊LOS的測試設備，該測試設備包括：光模塊和測試板，

所述光模塊包括第一微型處理器、IC芯片和光模塊金手指接口，所述第一微型處理器接收并判斷IC芯片所發出的LOS信號，所述光模塊金手指接口將所述第一微型處理器所判斷的LOS信號輸出；

所述測試板包括測試板插座、硬件檢測裝置和第二微型處理器，

所述測試板插座與所述光模塊金手指接口相連接；

所述硬件檢測裝置對所述測試板上的LOS信號同步發出告警指示；

所述第二微型處理器對所述測試板上的LOS信號進行檢測。

進一步，所述硬件檢測裝置包括反相器、報警裝置、電阻和電源VCC，其中，所述報警裝置一端與所述反相器相連接，所述報警裝置另一端與所述電阻的一端相連接，所述電阻的另一端與所述電源VCC相連接。

進一步，所述光模塊金手指接口能夠插入所述測試板插座；所述光模塊金手指接口能夠從所述測試板插座中拔出。

進一步，所述報警裝置為LED燈和/或蜂鳴器和/或Wifi模塊。

本發明還提供一種操作模塊LOS的測試方法，包括以下步驟：

1)第一微型處理器監控IC芯片的LOS引腳輸出的電平變化，第一微型處理器監控的LOS輸出管腳根據IC芯片的LOS電平狀態輸出相應的電平；

2)當IC芯片的LOS引腳輸出的電平發生變化時，第一微型處理器的LOS輸出管腳電平將隨之發生變化；

3)第二微型處理器采集并判斷光模塊金手指接口所輸出的LOS信號。

進一步，當所述第二微型處理器檢測到所述光模塊金手指接口所輸出的LOS信號異常時，LOS輸出引腳升高；通過所述反相器反相后，所述報警裝置報警。

進一步，當所述第二微型處理器檢測到所述光模塊金手指接口所輸出的LOS信號正常時，LOS輸出引腳降底；通過所述反相器反相后，所述報警裝置不報警。

進一步，所述第一微型處理器和所述第二微型處理器均未檢測到LOS信號發生跳轉時，LOS輸出信號正常。

進一步，所述第一微型處理器或所述第二微型處理器檢測到LOS信號發生跳轉時，LOS輸出信號異常。

本發明的有益效果為：能夠完全保證硬件與軟件的同步檢測，即使在現有的測試條件下對于一些硬件上出現的問題都能夠測試出來。

1)光模塊本身帶有第一微型處理器，能夠對上報的LOS信號進行匯總和判斷，從而對光模塊本身進行監控；

2)測試板上安裝有測試板插座，可以與光模塊金手指接口插入或拔出式的活動連接，非固定安裝，能夠適用于其它需要檢測的光模塊設備，降低了成本；