[發明專利]一種光柵投影三維測量系統的誤差校正方法有效
| 申請號： | 201611159007.3 | 申請日： | 2016-12-15 |
| 公開（公告）號： | CN106595522B | 公開（公告）日： | 2018-11-09 |
| 發明（設計）人： | 達飛鵬;饒立 | 申請（專利權）人： | 東南大學 |
| 主分類號： | G01B11/24 | 分類號： | G01B11/24;G01B11/25 |
| 代理公司： | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 孟紅梅 |
| 地址： | 210096*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光柵 投影 三維 測量 系統 誤差 校正 方法 | ||
1.一種光柵投影三維測量系統的誤差校正方法，其特征在于，包括：
(1)用投影儀向待測物體表面投射N幅相移正弦光柵圖像并用相機采集；
(2)根據采集得到的N幅相移條紋圖求解調制度系數；
(3)基于調制度系數確定物體表面發射率較低的部分，該部分對應的像素點為需要處理的像素點；
(4)將所有要處理的像素點根據調制度系數進行分類，同一類的像素點的調制度系數相近；
(5)對于每一類中若干個像素，每個像素對應一組N個灰度值，將這些像素的若干組N個灰度值對應位置進行求均值操作，然后用均值替換原像素的灰度值，實現圖像校正；
(6)基于校正后的圖像計算主值相位并最終求解物體的三維信息。
2.根據權利要求1所述的一種光柵投影三維測量系統的誤差校正方法，其特征在于，所述步驟(2)中根據采集到的N幅相移條紋圖Ii,i＝1,2,..,N，求解調制度系數I″的公式為：
其中δi是每一步的相移量。
3.根據權利要求1所述的一種光柵投影三維測量系統的誤差校正方法，其特征在于，所述步驟(2)中求解得到調制度系數后根據如下公式歸一化至區間[0,1]：
I″z＝(I″-I″min)/(I″max-I″min)
其中I″z為歸一化之后的調制度系數，I″max，I″min分別表示求取的調制度系數I″的最大和最小值。
4.根據權利要求3所述的一種光柵投影三維測量系統的誤差校正方法，其特征在于，所述步驟(3)中通過設定一個分割閾值，將歸一化后的調制度系數低于設定閾值的像素點確定為需要處理的像素點；所述分割閾值取值范圍為0.25～0.4。
5.根據權利要求3所述的一種光柵投影三維測量系統的誤差校正方法，其特征在于，所述步驟(4)中通過設定一個最小閾值，將每兩個像素點對應的調制度系數差值小于設定閾值的像素點劃分在同一類中；所述最小閾值取值范圍為0.008～0.012。
6.根據權利要求1所述的一種光柵投影三維測量系統的誤差校正方法，其特征在于，所述步驟(6)中主值相位的計算公式為：
其中，為校正后的第n幅圖像的灰度值。
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