[發明專利]一種RF參數調整的方法及裝置

在審

• 申請號: 201611157913.X
• 申請日: 2016-12-15
• 公開（公告）號: CN108235330A
• 公開（公告）日: 2018-06-29
• 發明（設計）人: 魯文濤
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04W16/18
• 分類號: H04W16/18;H04W16/22;H04W24/02;H04W24/10
• 代理公司: 北京元本知識產權代理事務所 11308
• 代理人: 秦力軍

本發明公開了一種RF參數調整的方法及裝置，涉及無線通信技術領域，其方法包括：根據UE當前上報的MR數據，對覆蓋優化區域進行柵格化建模，得到每個柵格的覆蓋模型；根據當前的覆蓋優化區域覆蓋率，確定是否需要對RF參數進行調整；若確定需要對RF參數進行調整，則通過計算覆蓋模型對各RF參數分別求導，得到RF參數導數，并根據RF參數導數對RF參數進行調整。本發明通過調整小區RF參數，提升了小區的覆蓋率，尤其在通訊領域的無線網絡優化階段。

技術領域

本發明涉及無線通信技術領域，特別涉及一種RF(Radio Frequency，射頻)參數調整的方法及裝置。

背景技術

LTE(Long Term Evolution，長期演進)系統在進行覆蓋優化時，雖然可以找到覆蓋不好的區域，但在調整這些區域對應小區的RF參數時只能通過隨機抽取的方式來嘗試獲取更好的覆蓋，無法做到快速收斂。

發明內容

根據本發明實施例提供的方案解決的技術問題是LTE系統在進行覆蓋優化時，雖然可以找到覆蓋不好的小區，但在調整這些小區的RF參數時只能通過隨機抽取的方式來嘗試獲取更好的覆蓋，無法做到快速收斂。

根據本發明實施例提供的一種RF參數調整的方法，包括：

根據UE當前上報的MR數據，對覆蓋優化區域進行柵格化建模，得到每個柵格的覆蓋模型；

根據當前的覆蓋優化區域覆蓋率，確定是否需要對RF參數進行調整；

若確定需要對RF參數進行調整，則通過計算覆蓋模型對各RF參數分別求導，得到RF參數導數，并根據RF參數導數對RF參數進行調整。

優選地，所述MR數據包括UE位置數據、參考信號接收功率數據以及主鄰小區關系數據。

優選地，所述RF參數包括電子下傾角、機械下傾角、朝向角以及參考功率。

優選地，所述根據當前的覆蓋優化區域覆蓋率，確定是否需要對RF參數進行調整包括：

將所述覆蓋優化區域覆蓋率與預置的區域覆蓋率進行比較；

若所述覆蓋優化區域覆蓋率超過預置的區域覆蓋率，則確定不需要對RF參數進行調整；

若所述覆蓋優化區域覆蓋率未超過預置的區域覆蓋率，則確定需要對RF參數進行調整。

優選地，所述通過計算覆蓋模型對各RF參數分別求導，得到RF參數導數，并根據RF參數導數對RF參數進行調整包括：

通過計算所述覆蓋模型對RF參數中的電子下傾角、機械下傾角、朝向角以及參考功率分別求導，得到RF參數中電子下傾角的導數、機械下傾角的導數、朝向角的導數以及參考功率的導數；

根據所得到RF參數中電子下傾角的導數、機械下傾角的導數、朝向角的導數以及參考功率的導數，確定RF參數中電子下傾角調整方向、機械下傾角調整方向、朝向角調整方向以及參考功率調整方向，并根據其對RF參數進行調整。

根據本發明實施例提供的一種RF參數調整的裝置，包括：

獲取模塊，用于根據UE當前上報的MR數據，對覆蓋優化區域進行柵格化建模，得到每個柵格的覆蓋模型；

確定模塊，用于根據當前的覆蓋優化區域覆蓋率，確定是否需要對RF參數進行調整；

調整模塊，用于當確定需要對RF參數進行調整，則通過計算覆蓋模型對各RF參數分別求導，得到RF參數導數，并根據RF參數導數對RF參數進行調整。

優選地，所述MR數據包括UE位置數據、參考信號接收功率數據以及主鄰小區關系數據。

優選地，所述RF參數包括電子下傾角、機械下傾角、朝向角以及參考功率。