[發(fā)明專利]含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611157808.6 | 申請日: | 2016-12-15 | 
| 公開(公告)號(hào): | CN107043923A | 公開(公告)日: | 2017-08-15 | 
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | M·袁;J·B·馬特澤拉;D·A·史密斯 | 申請(專利權(quán))人: | 西爾科特克公司 | 
| 主分類號(hào): | C23C16/34 | 分類號(hào): | C23C16/34;C23C16/455;C23C16/30 | 
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司72002 | 代理人: | 左路 | 
| 地址: | 美國賓夕*** | 國省代碼: | 暫無信息 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氮化 熱化學(xué) 沉積 涂層 | ||
1.一種方法,包括:
在腔室內(nèi)的表面上制備含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層;
其中,在所述表面上制備含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層的過程中,流入和流出所述腔室是受限的或暫停的。
2.權(quán)利要求1的方法,其中制備過程包括將三甲硅烷基胺引入所述腔室中。
3.權(quán)利要求2的方法,其中三甲硅烷基胺的引入包括:當(dāng)所述腔室處于第一壓力時(shí),打開與包含所述三甲硅烷基胺的容器連接的流量控制裝置,然后當(dāng)所述腔室內(nèi)的壓力處于第二壓力時(shí),閉合流量控制裝置,第一壓力與第二壓力不同。
4.權(quán)利要求2的方法,其中制備過程還包括在引入三甲硅烷基胺的同時(shí),將氨引入所述腔室中。
5.權(quán)利要求2的方法,其中制備過程還包括在引入三甲硅烷基胺之前,將氨引入所述腔室中。
6.權(quán)利要求2的方法,其中制備過程還包括在引入三甲硅烷基胺之后,將氨引入所述腔室中。
7.權(quán)利要求2的方法,其中引入過程包括:當(dāng)所述腔室處于第一壓力時(shí),打開與包含所述胺的容器連接的流量控制裝置,然后當(dāng)所述腔室內(nèi)的壓力處于第二壓力時(shí),閉合流量控制裝置,第一壓力與第二壓力不同。
8.權(quán)利要求1的方法,其中制備過程在至少325℃的溫度下進(jìn)行。
9.權(quán)利要求1的方法,其中制備過程包括氧化,所述氧化在至少300℃的溫度下進(jìn)行。
10.權(quán)利要求1的方法,其中所述含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層是純的或基本上純的氮化硅。
11.權(quán)利要求1的方法,其中所述含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層包括氧氮化硅。
12.權(quán)利要求1的方法,其中所述含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層是官能化的。
13.權(quán)利要求1的方法,其還包括在所述含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層上制備額外的含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層。
14.權(quán)利要求13的方法,其中所述額外的含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層具有第一厚度且所述含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層具有第二厚度,第一厚度和第二厚度不同。
15.權(quán)利要求1的方法,其中所述表面是金屬的或金屬性的。
16.權(quán)利要求1的方法,其中所述表面至少具有被遮擋而無法看見的隱蔽部分。
17.通過權(quán)利要求1的方法制備的表面。
18.一種表面,其包含含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層,其中所述表面至少具有被遮擋而無法看見的隱蔽部分。
19.一種制品,包含:
在腔室內(nèi)的表面上的含氮化硅的熱化學(xué)氣相沉積涂層;
其中所述表面至少具有被遮擋而無法看見的隱蔽部分。
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時(shí)基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機(jī)材料為特征的
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