[發明專利]一種微控制器芯片中的調試單元

在審

• 申請號: 201611157025.8
• 申請日: 2016-12-15
• 公開（公告）號: CN106776433A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 萬上宏;葉媲舟;黎冰;涂柏生
• 申請（專利權）人: 深圳市博巨興實業發展有限公司
• 主分類號: G06F13/40
• 分類號: G06F13/40;G06F13/42
• 代理公司: 深圳力拓知識產權代理有限公司44313
• 代理人: 李偉

技術領域

本發明涉及一種調試單元，具體是一種微控制器芯片中的調試單元。

背景技術

MCU調試器是用戶在開發基于MCU芯片的應用程序的時候，用來調試應用程序的工具。MCU調試器使程序能夠根據用戶的意愿來運行，如單步運行，全速運行，或者在指定的某行指令暫停運行（斷點）。也可以通過調試器來查看MCU芯片在運行時的相關信息，比如查看堆棧、程序指針、累加器、狀態寄存器、SRAM存儲空間或者其它特殊功能寄存器等。

發明內容

本發明的目的在于提供一種微控制器芯片中的調試單元，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種微控制器芯片中的調試單元，微控制器芯片內部包括IO控制單元IO_CTRL、串行通信調試接口模塊SC_INTF、調試模式控制模塊DEBUG_CTRL、程序存儲器PMEM以及微控制器內核MCU_CORE，微控制器芯片通過串行通信調試接口模塊SC_INTF與芯片外部進行串行通信，串行通信調試接口模塊SC_INTF內部包括串行接收單元RXC以及串行發送單元TXC，串行接收單元RXC負責完成串行通信調試的接收過程，串行發送單元RXC負責完成串行通信調試的發送過程，串行通信調試接口模塊SC_INTF與芯片外部上位機通過調試通信數據端口DDA進行串行通信，當調試通信數據端口DDA為輸入狀態時，IO控制單元IO_CTRL通過接收數據信號rxd將芯片外部的數據傳送至串行接收單元RXC進行處理，當微控制器芯片需要傳送數據至芯片外部的上位機時，調試通信數據端口DDA為輸出狀態，串行發送單元TXC通過發送數據信號txd將數據傳送至IO控制單元IO_CTRL。

作為本發明再進一步的方案：所述調試通信數據端口DDA是一個雙向端口。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：本發明采用串行通信調試接口只需要1個雙向端口即可以完成微控制器芯片與芯片外部上位機的通信，實現上位機對微控制器芯片的調試。本方案與需要2個端口進行通信的普通調試方案相比，節省了1個端口，從而節省芯片的生產成本。本方案中采用的串行通信調試接口中物理層協議定義的通信起始位、通信結束位、比特0、比特1、字節分界位的相互之間的差異較大，即使在工作時鐘頻率存在較大偏差的情況下，依然能夠保證數據的正常通信。調試方案中實現上位機對微控制器芯片內部數據存儲器空間或者特殊功能寄存器的讀寫時，無需增加過多的邏輯資源，而是使用替代程序存儲器指令碼的方式，利用微控制器芯片內核的邏輯資源即可以實現，從而節省芯片的面積、節約生產成本。

附圖說明

圖1為本發明中微控制器芯片的原理框圖。

圖2為本發明中串行通信調試接口數據格式。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述。

請參閱圖1～2，本發明實施例中，一種微控制器芯片中的調試單元，微控制器芯片包括IO控制單元IO_CTRL、串行通信調試接口模塊SC_INTF、調試模式控制模塊DEBUG_CTRL、程序存儲器PMEM以及微控制器內核MCU_CORE。