[發(fā)明專利]低熔點(diǎn)低鎘銀釬料有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611156602.1 | 申請(qǐng)日: | 2016-12-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106736003B | 公開(公告)日: | 2019-01-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 顧立勇;袁維;顧文華;顧建昌 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 常熟市華銀焊料有限公司 |
| 主分類號(hào): | B23K35/24 | 分類號(hào): | B23K35/24 |
| 代理公司: | 常熟市常新專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32113 | 代理人: | 朱偉軍 |
| 地址: | 215513 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 熔點(diǎn) 低鎘銀釬料 | ||
1.一種低熔點(diǎn)低鎘銀釬料,其特征在于其化學(xué)組成按質(zhì)量百分?jǐn)?shù)配比為:24-26%的Ag,30-41%的Cu,0.05-0.13%的Cd,0.001-0.005%的In,0.001-0.005%的 Ga,余為Zn。
2.一種低熔點(diǎn)低鎘銀釬料,其特征在于其化學(xué)組成按質(zhì)量百分?jǐn)?shù)配比為:24%的Ag,41%的Cu,0.05%的Cd,0.001%的In,0.005%的 Ga,余為Zn。
3.一種低熔點(diǎn)低鎘銀釬料,其特征在于其化學(xué)組成按質(zhì)量百分?jǐn)?shù)配比為: 26%的Ag,30%的Cu, 0.13%的Cd,0.001%的In,0.001%的 Ga,余為Zn。
4.一種低熔點(diǎn)低鎘銀釬料,其特征在于其化學(xué)組成按質(zhì)量百分?jǐn)?shù)配比為:25%的Ag,36%的Cu,0.1%的Cd,0.005%的In, 0.005%的 Ga,余為Zn。
5.一種低熔點(diǎn)低鎘銀釬料,其特征在于其化學(xué)組成按質(zhì)量百分?jǐn)?shù)配比為:25.2%的Ag,40.3%的Cu,0.12%的Cd,0.002%的In,0.003%的 Ga,余為Zn。
6.一種低熔點(diǎn)低鎘銀釬料,其特征在于其化學(xué)組成按質(zhì)量百分?jǐn)?shù)配比為:24.3%的Ag,39.6%的Cu,0.11%的Cd,0.004%的In,0.002%的 Ga,余為Zn。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于常熟市華銀焊料有限公司,未經(jīng)常熟市華銀焊料有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611156602.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 熔點(diǎn)儀
- 異種材料的連接方法、連接裝置及連接結(jié)構(gòu)
- 熔點(diǎn)杯
- 由高熔點(diǎn)金屬合金、高熔點(diǎn)金屬硅化物、高熔點(diǎn)金屬碳化物、高熔點(diǎn)金屬氮化物或高熔點(diǎn)金屬硼化物這些難燒結(jié)物質(zhì)構(gòu)成的靶及其制造方法以及該濺射靶 -背襯板組件及其制造方法
- 高熔點(diǎn)顆粒或纖維和低熔點(diǎn)顆粒混合粉末合金及其制備方法
- 由難燒結(jié)物質(zhì)構(gòu)成的靶及其制造方法以及靶-背襯板組件及其制造方法
- 熔絲元件、熔絲器件、保護(hù)元件、短路元件、切換元件
- 一種低熔點(diǎn)金屬器件的制作方法及太陽能電池的制作方法
- 熱塑性布及以此熱塑性布制成的制品
- 光纖熔點(diǎn)保護(hù)裝置





