[發(fā)明專(zhuān)利]用于空氣顆粒物光學(xué)檢測(cè)的光室和空氣顆粒物監(jiān)測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611154943.5 | 申請(qǐng)日: | 2016-12-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106644845B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-04-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉保獻(xiàn);王陳海;張大偉;陳添;安欣欣;姜南;李海軍;周一鳴;王莉華;曹陽(yáng) | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京市環(huán)境保護(hù)監(jiān)測(cè)中心 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N15/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01N15/00;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京頭頭知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11729 | 代理人: | 劉鋒 |
| 地址: | 100048 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 空氣顆粒物 維護(hù)倉(cāng) 光室 檢測(cè) 隔離擋片 光學(xué)檢測(cè) 光學(xué)鏡頭 監(jiān)測(cè)系統(tǒng) 檢測(cè)裝置 清潔裝置 位移電機(jī) 自動(dòng)清潔 光檢測(cè) 缺口處 伸縮桿 狀態(tài)時(shí) 倉(cāng)壁 維護(hù) 監(jiān)測(cè) 節(jié)約 污染 | ||
1.一種用于空氣顆粒物光學(xué)檢測(cè)的光室,其特征在于,包括檢測(cè)倉(cāng)和維護(hù)倉(cāng),所述維護(hù)倉(cāng)連接有位移電機(jī),所述維護(hù)倉(cāng)靠近所述檢測(cè)倉(cāng)的倉(cāng)壁下方開(kāi)有缺口,所述缺口處設(shè)置有隔離擋片,所述隔離擋片連接有伸縮桿,所述檢測(cè)倉(cāng)內(nèi)設(shè)置有光學(xué)鏡頭,所述維護(hù)艙內(nèi)設(shè)置有清潔裝置;
所述清潔裝置包括清潔輪、第一圓筒和第二圓筒,帶狀清潔材料纏繞在所述第一圓筒和第二圓筒上,并經(jīng)過(guò)所述清潔輪,所述第一圓筒和/或第二圓筒連接有旋轉(zhuǎn)電機(jī);
所述清潔輪通過(guò)第一連桿連接有一個(gè)扭力彈簧,且所述清潔輪由所述扭力彈簧固定,所述第一連桿通過(guò)第二連桿連接所述伸縮桿;
所述位移電機(jī)設(shè)置在所述光室內(nèi)部,所述位移電機(jī)與所述維護(hù)倉(cāng)遠(yuǎn)離所述檢測(cè)倉(cāng)的倉(cāng)壁連接;
所述伸縮桿位于所述維護(hù)倉(cāng)內(nèi),所述伸縮桿的一端與所述隔離擋片連接,另一端與所述維護(hù)倉(cāng)遠(yuǎn)離所述檢測(cè)倉(cāng)的倉(cāng)壁內(nèi)壁連接;
其中,對(duì)光學(xué)鏡頭進(jìn)行清潔的方法包括:
位移電機(jī)推動(dòng)維護(hù)倉(cāng)向光學(xué)鏡頭的方向移動(dòng),當(dāng)隔離擋片遇到光學(xué)鏡頭時(shí)隔離擋片停止運(yùn)動(dòng);
維護(hù)倉(cāng)繼續(xù)向光學(xué)鏡頭的方向移動(dòng),伸縮桿收縮,清潔輪被第一連桿和第二連桿拉下,將帶狀清潔材料逐漸壓緊在光學(xué)鏡頭上;
旋轉(zhuǎn)電機(jī)將帶狀清潔材料從第一圓筒或第二圓筒中抽出,經(jīng)過(guò)清潔輪,實(shí)現(xiàn)對(duì)光學(xué)鏡頭的自動(dòng)清潔;
當(dāng)清潔結(jié)束后,位移電機(jī)推動(dòng)維護(hù)倉(cāng)遠(yuǎn)離光學(xué)鏡頭的方向,伸縮桿支撐隔離擋片逐漸展開(kāi),重新將隔離擋片撐在維護(hù)倉(cāng)的倉(cāng)壁上,閉合維護(hù)倉(cāng)體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于空氣顆粒物光學(xué)檢測(cè)的光室,其特征在于,所述帶狀清潔材料為無(wú)塵紙帶。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于空氣顆粒物光學(xué)檢測(cè)的光室,其特征在于,所述伸縮桿自由狀態(tài)下為伸長(zhǎng)狀態(tài)。
4.一種空氣顆粒物監(jiān)測(cè)系統(tǒng),其特征在于,包括權(quán)利要求1-3任一所述的用于空氣顆粒物光學(xué)檢測(cè)的光室。
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