[發明專利]一種無效像元在軌檢測方法

有效

• 申請號: 201611154200.8
• 申請日: 2016-12-14
• 公開（公告）號: CN106846292B
• 公開（公告）日: 2019-08-27
• 發明（設計）人: 王愛春;傅俏燕;閔祥軍;陸書寧;潘志強;韓啟金;張學文;劉李;邵俊;李照洲;趙航
• 申請（專利權）人: 中國資源衛星應用中心
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T5/50
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 范曉毅

本發明公開了一種無效像元在軌檢測方法，包括：從自然目標中選擇一個或多個作為類均勻源；在不同太陽高度角和不同積分時間下，分別對選定的一個或多個類均勻源所在的區域進行多次成像，得到多張遙感圖像；對所述多張遙感圖像中滿足設定條件的遙感圖像進行均一化處理，得到Num景均一化遙感圖像；將所述Num景均一化遙感圖像轉換為矩陣向量表達式，根據所述矩陣向量表達式，判定得到實測無效像元；根據所述實測無效像元的位置和參考無效像元的位置，得到可變積分時間面陣CMOS在軌期間的無效像元位置集。通過本發明實現了對可見光近紅外面陣COMS相機無效像元的在軌檢測，確保了圖像的成像質量。

技術領域

本發明屬于圖像處理技術領域，尤其涉及一種無效像元在軌檢測方法。

背景技術

可見光近紅外面陣CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，互補金屬氧化物半導體)相機擁有上萬個像元，可以直接獲取像素陣列式的目標反射太陽光能量的數字圖像，但是由于工藝的限制，面陣COMS相機存在一個不可回避的問題，即無效像元的存在，無效像元在CMOS相機中主要表現為響應過低和響應過高的像元。無效像元的存在嚴重影響圖像成像的質量，在成像時如果不加以考慮(補償)，就會在圖像中出現無法反映目標真實特性的暗點和亮點。

在航天領域，衛星在發射前，可以通過實驗方式確定面陣COMS相機中無效像元的位置：實驗室通過積分球均勻光源給出面陣COMS相機無效像元的位置。但是由于衛星在發射過程中以及在發射后空間環境變化和元器件老化等因素，會出現實驗室未檢測到的新的無效像元，而對于新的無效像元，通過現有方案無法進行檢測，進而也無法對所述新的無效像元進行補償，影響圖像成像的質量。

發明內容

本發明的技術解決問題：克服現有技術的不足，提供一種無效像元在軌檢測方法，旨在實現對可見光近紅外面陣COMS相機無效像元的在軌檢測，確保圖像的成像質量。

為了解決上述技術問題，本發明公開了一種無效像元在軌檢測方法，包括：

從自然目標中選擇一個或多個作為類均勻源；

在不同太陽高度角和不同積分時間下，分別對選定的一個或多個類均勻源所在的區域進行多次成像，得到多張遙感圖像；

對所述多張遙感圖像中滿足設定條件的遙感圖像進行均一化處理，得到 Num景均一化遙感圖像；

將所述Num景均一化遙感圖像轉換為矩陣向量表達式，根據所述矩陣向量表達式，判定得到實測無效像元；

根據所述實測無效像元的位置和參考無效像元的位置，得到可變積分時間面陣CMOS在軌期間的無效像元位置集。

在所述無效像元在軌檢測方法中，作為類均勻源的自然目標滿足如下條件：

自然目標的面積大于面陣CMOS相機的幅寬；

自然目標的均勻性優于3％。

在所述無效像元在軌檢測方法中，所述在不同太陽高度角和不同積分時間下，分別對選定的一個或多個類均勻源所在的區域進行多次成像，得到多張遙感圖像，包括：

根據遙感衛星的軌道預報，通過面陣CMOS相機對選定的一個或多個類均勻源所在的區域，在不同太陽高度角和不同積分時間下進行多次成像，得到多張遙感圖像。

在所述無效像元在軌檢測方法中，所述對所述多張遙感圖像中滿足設定條件的遙感圖像進行均一化處理，得到Num景均一化遙感圖像，包括：

從所述多張遙感圖像中篩選得到滿足設定條件的待處理遙感圖像；

對所述待處理遙感圖像進行均一化處理，得到所述Num景均一化遙感圖像。