[發(fā)明專利]一種薄膜熱電模塊有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611153842.6 | 申請日: | 2016-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN106784281B | 公開(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 虞瀾;宋世金;劉丹丹;談文鵬;胡建力;劉安安 | 申請(專利權(quán))人: | 昆明理工大學(xué) |
| 主分類號: | H01L35/32 | 分類號: | H01L35/32 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 650093 云*** | 國省代碼: | 云南;53 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 薄膜 熱電 模塊 | ||
本發(fā)明公開了一種薄膜熱電模塊,屬于功能薄膜材料及器件領(lǐng)域。包括:上部N型熱電臂陣列,由N型半導(dǎo)體薄膜在單晶襯底Ⅰ的下表面傾斜布置;下部P型熱電臂陣列,由P型半導(dǎo)體薄膜在單晶襯底Ⅱ的上表面傾斜布置;隔離層,包括工字形絕緣隔層和金電極陣列。所述上部N型熱電臂陣列和下部P型熱電臂陣列由所述隔離層隔開,并由金電極連接成兩個獨(dú)立的串聯(lián)通路;所述上部N型熱電臂陣列、下部P型熱電臂陣列和隔離層的相對位置由位于其側(cè)面的通孔、插銷固定。本發(fā)明相比現(xiàn)有薄膜熱電模塊單位面積上的輸出功率密度顯著提高,P、N型熱電臂可單獨(dú)更換,構(gòu)型靈活,且襯底作為薄膜物理支撐的同時起到封裝作用,制造成本低。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明公開了一種薄膜熱電模塊,屬于功能薄膜材料及器件領(lǐng)域。
背景技術(shù)
氧化物基熱電材料相比傳統(tǒng)合金熱電材料,具有高溫性能穩(wěn)定、抗氧化性和無毒性等優(yōu)點(diǎn),受到廣泛關(guān)注,氧化物薄膜熱電模塊也成為新興研究焦點(diǎn)。
目前薄膜熱電模塊的構(gòu)型主要為π型,即P、N型氧化物薄膜在同一基底上平行、交替排列,并由電極串聯(lián)聯(lián)結(jié)。根據(jù)其熱流和材料的使用方向,薄膜熱電模塊又可分為熱流方向垂直于薄膜表面(cross-plane)和熱流方向平行于薄膜表面(in-plnae)兩種。cross-plane熱電模塊的制備工藝相對簡單,集成度較高,但其沿薄膜厚度方向的熱阻小,難以產(chǎn)生較大的溫差,在很多場合無法應(yīng)用。in-plane模塊的熱阻大,有利于大溫度梯度的建立,且現(xiàn)有氧化物熱電材料如Ca3Co4O9、NaxCoO2、Zn1-xAlxO、CaMnO3等薄膜的生長均自發(fā)沿c軸擇優(yōu),其沿in-plane方向的熱電性能遠(yuǎn)高于cross-plane方向,因此氧化物薄膜熱電模塊多使用in-plane構(gòu)型,但其P-N熱電對集成度相對較小,單位面積上的輸出功率密度小,電極用量大,模塊制造成本高。
現(xiàn)有in-plane薄膜模塊的P、N型熱電臂均交替集成在同一襯底上,如附圖1,這要求P、N型薄膜材料的晶體結(jié)構(gòu)、晶格常數(shù)和熱膨脹系數(shù)均要與襯底匹配才能獲得較高結(jié)晶質(zhì)量的薄膜陣列。但通常P、N型薄膜材料的結(jié)構(gòu)和性能差別很大,實際中很難找到同時兼顧P、N型薄膜生長的襯底,使襯底的選擇十分困難。
現(xiàn)有in-plane薄膜模塊由于其P、N型熱電臂交替集成在同一襯底上,使P、N型薄膜陣列無法單獨(dú)更換,如果模塊中的某一條P、N型薄膜因氧化、分解而損壞,將導(dǎo)致模塊整體失效,增加模塊的使用和更換成本。
現(xiàn)有薄膜熱電模塊為了提高其穩(wěn)定性和使用壽命,除模塊本身外,還需額外的封裝工藝和封裝原料,增加了模塊的制造成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種薄膜熱電模塊,包括N型熱電臂陣列1、P型熱電臂陣列2、隔離層3,N型熱電臂陣列1包括一個以上的N型半導(dǎo)體薄膜11和單晶襯底Ⅰ12,N型半導(dǎo)體薄膜11傾斜生長在單晶襯底Ⅰ12上;P型熱電臂陣列2包括一個以上的P型半導(dǎo)體薄膜21和單晶襯底Ⅱ22,P型半導(dǎo)體薄膜21傾斜生長在單晶襯底Ⅱ22上;N型熱電臂陣列1、P型熱電臂陣列2由隔離層3隔開,并固定在一起,N型熱電臂陣列1和P型熱電臂陣列2均是生長有半導(dǎo)體薄膜的一面與隔離層3接觸;N型半導(dǎo)體薄膜11與P型半導(dǎo)體薄膜21呈X形交叉分布,N型半導(dǎo)體薄膜11與P型半導(dǎo)體薄膜21的兩端由電極5依次連接,形成兩個獨(dú)立的串聯(lián)通路,電極5位于隔離層3的兩側(cè)。
優(yōu)選的,本發(fā)明所述隔離層3包括腹板31、翼板32,翼板32固定在腹板31的兩邊;腹板31、單晶襯底Ⅰ12、單晶襯底Ⅱ22的長度、寬度相同,翼板32高度等于腹板31、N型熱電臂陣列1、P型熱電臂陣列2的厚度之和。
優(yōu)選的,本發(fā)明所述電極5嵌入、貫穿在隔離層3的腹板31上,電極5的厚度大于腹板31的厚度,以保證N型半導(dǎo)體薄膜11與P型半導(dǎo)體薄膜21的串連連接。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于昆明理工大學(xué),未經(jīng)昆明理工大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611153842.6/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L35-00 包含有一個不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電器件,即顯示出具有或不具有其他熱電效應(yīng)或其他熱磁效應(yīng)的Seebeck效應(yīng)或Peltier 效應(yīng)的熱電器件;專門適用于制造或處理這些熱電器件或其部件的方法或設(shè)備;這些熱電器件
H01L35-02 .零部件
H01L35-12 .結(jié)點(diǎn)引出線材料的選擇
H01L35-28 .只利用Peltier或Seebeck效應(yīng)進(jìn)行工作的
H01L35-34 .專門適用于制造或處理這些器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L35-30 ..按在結(jié)點(diǎn)處進(jìn)行熱交換的方法區(qū)分的





