[發明專利]一種半導體器件及其制造方法有效
| 申請號: | 201611152920.0 | 申請日: | 2016-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN108231757B | 公開(公告)日: | 2020-10-16 |
| 發明(設計)人: | 劉劍;司徒道海 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/02 | 分類號: | H01L27/02;H01L27/088;H01L29/78;H01L21/8234 |
| 代理公司: | 北京市磐華律師事務所 11336 | 代理人: | 董巍;高偉 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 半導體器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導體器件,其特征在于,包括:
晶圓,在所述晶圓上間隔設置有多個芯片,其中,每個所述芯片均包括間隔平行設置的多個條狀溝槽,相鄰所述芯片中的所述條狀溝槽彼此相互垂直,在每個所述芯片的每個所述條狀溝槽中均形成有柵極結構。
2.如權利要求1所述的半導體器件,其特征在于,所述芯片的俯視形狀為正方形。
3.如權利要求2所述的半導體器件,其特征在于,在所述晶圓上設置有中心芯片,在所述中心芯片的四條邊的外側設置有若干周邊芯片,所述周邊芯片中的所述條狀溝槽與所述中心芯片中的所述條狀溝槽彼此相互垂直。
4.如權利要求1所述的半導體器件,其特征在于,所述芯片為溝槽型IGBT芯片。
5.如權利要求1所述的半導體器件,其特征在于,所述多個芯片成陣列狀排布在所述晶圓上。
6.一種半導體器件的制造方法,其特征在于,所述方法包括:
提供晶圓;
在所述晶圓上形成間隔設置的多個芯片,其中,每個所述芯片均包括間隔平行設置的多個條狀溝槽,相鄰所述芯片中的所述條狀溝槽彼此相互垂直,在每個所述條狀溝槽中形成柵極結構。
7.如權利要求6所述的制造方法,其特征在于,形成每個所述芯片的所述條狀溝槽時所使用的光罩下線制版時,將任一所述芯片四周緊鄰的芯片旋轉90度或270度,以使相鄰芯片中的所述條狀溝槽彼此相互垂直。
8.如權利要求6或7所述的制造方法,其特征在于,所述芯片為溝槽型IGBT芯片。
9.如權利要求6所述的制造方法,其特征在于,所述芯片的俯視形狀為正方形。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





