[發明專利]一種測量結構物形變的測量系統及其測量方法在審
| 申請號: | 201611152316.8 | 申請日: | 2016-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN106595564A | 公開(公告)日: | 2017-04-26 |
| 發明(設計)人: | 李鑫奎;蘇昱晟;伍小平 | 申請(專利權)人: | 上海建工集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B21/32 | 分類號: | G01B21/32 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 200120 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量 結構 形變 系統 及其 測量方法 | ||
1.一種測量結構物形變的測量系統,其特征在于,包括設置于結構物周圍的四個穩定的基點、設置于結構物上的若干個測點、用于測量基點高程的水準儀、數據傳輸裝置、用戶端,所述基點和測點上分別設置測距傳感器,所述測距傳感器用于測量基點、測點之間的距離,所述測距傳感器通過所述數據傳輸裝置將測得的距離傳輸至所述用戶端,所述水準儀通過所述數據傳輸裝置將測得的基點高程傳輸至所述用戶端。
2.一種測量結構物形變的測量方法,其特征在于,包括如下步驟:
第一步,在結構物周圍設置的四個穩定的基點,在基點上設置測距傳感器;
第二步,利用測距傳感器測量基點之間的距離,利用水準儀測量出基點的高程;
第三步,將第二步中測出的數據通過數據傳輸裝置傳輸至所述用戶端,在用戶端中建立坐標系,并計算出每個基點的坐標;
第四步,在結構物上設置一個測點,在測點上設置測距傳感器;
第五步,利用測距傳感器分別測量測點與每個基點之間的距離;
第六步,將第五步中測出的數據通過數據傳輸裝置傳輸至所述用戶端,并計算出測點的坐標;
第七步,根據結構物的形狀重復第四步,在結構物上的其他位置設置另一個測點,直至測點足夠表達結構物的形狀;
第八步,通過用戶端實時監控所有測點的坐標,測量結構物的形變情況。
3.如權利要求2所述的測量結構物形變的測量方法,其特征在于,第一步中,所述基點設置在結構物周圍的地面上。
4.如權利要求2所述的測量結構物形變的測量方法,其特征在于,第三步中,坐標系的原點為四個基點中的一個。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海建工集團股份有限公司,未經上海建工集團股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611152316.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





