[發明專利]切割裝置

有效

• 申請號: 201611149593.3
• 申請日: 2016-12-13
• 公開（公告）號: CN106769844B
• 公開（公告）日: 2019-08-20
• 發明（設計）人: 巫景銘
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01N19/04
• 分類號: G01N19/04
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

本發明提供了一種切割裝置，用于對基板表面涂層劃格試驗，包括支撐底座、導軌組件和刮刀。所述支撐底座用于固定所述基板。所述導軌組件與所述支撐底座配合形成第一導軌和第二導軌，所述第一導軌與所述第二導軌相交，所述導軌組件安裝于所述支撐底座上，與所述支撐底座之間形成收容空間，用于收容所述基板。所述刮刀沿所述第一導軌和所述第二導軌切割所述基板的表面涂層，以進行劃格試驗。本發明通過導軌組件控制了刮刀的切割方向，得到標準的網格圖形，從而提高劃格試驗的成功率。

技術領域

本發明涉及產品表面涂層檢測領域，具體涉及一種用于劃格試驗的切割裝置。

背景技術

TFT-LCD(Thin film transistor-liquid crystal display：薄膜晶體管-液晶顯示器)是由薄膜晶體管陣列基板、彩色濾光陣列基板及夾在兩基板間的液晶構成液晶面板。在彩色濾光陣列基板的制造過程中，先在玻璃基板上涂布彩膜層，然后經過曝光、顯影、蝕刻等工藝得到彩色濾光陣列基板。彩色濾光陣列基板上的彩膜層對于玻璃基板的附著力是影響液晶面板可靠性因素之一。

現有技術中大多使用手工法切割彩膜層劃格試驗來檢測彩膜層對于玻璃基板的附著力，該試驗以直角網格圖形切割彩膜層穿透至底層玻璃基板，通過觀察彩膜層上切割區域的切割影響嚴重性，并以此來判斷彩膜層或色阻層在玻璃基板上的附著力級別。

然而，在進行劃格試驗時較難掌握百格刮刀的方向，切割的網格圖形不易形成標準方格圖形，導致劃格試驗的成功率較低，試驗結果準確度不高。

因此，研制出一種用于劃格試驗的切割裝置，得到標準的網格圖形，以提高劃格試驗的成功率，為業界持續研究的課題。

發明內容

針對以上的問題，本發明的目的是提供一種用于劃格試驗的切割裝置，得到標準的網格圖形，以提高劃格試驗的成功率。

為了解決背景技術中存在的問題，本發明提供了一種切割裝置，用于對基板表面涂層劃格試驗，包括支撐底座、導軌組件和刮刀；

所述支撐底座用于固定所述基板；

所述導軌組件與所述支撐底座配合形成第一導軌和第二導軌，所述第一導軌與所述第二導軌相交，所述導軌組件安裝于所述支撐底座上，與所述支撐底座之間形成收容空間，用于收容所述基板；及

所述刮刀沿所述第一導軌和所述第二導軌切割所述基板的表面涂層，以進行劃格試驗。

所述導軌組件包括相對設置的第一端和第二端；所述支撐底座包括相對的第一固定件和第二固定件及相對的第三固定件和第四固定件；所述第一端固定至所述第一固定件，且所述第二端固定至所述第二固定件時，所述第一端和所述第二端之間形成所述第一導軌；所述第一端固定至所述第三固定件，且所述第二端固定至所述第四固定件時，所述第一端和所述第二端之間形成所述第二導軌。

所述導軌組件包括第一導向邊，所述第一導向邊連接于所述第一端和所述第二端之間，所述第一導向邊固定至所述第一固定件和所述第二固定件之間時，所述第一導向邊為所述第一導軌；所述第一導向邊固定至所述第三固定件和所述第四固定件之間時，所述第一導向邊為所述第二導軌。

所述導軌組件包括第一導向槽，所述第一導向槽連接于所述第一端和所述第二端之間，且貫穿所述導軌組件，所述第一導向槽固定至所述第一固定件和所述第二固定件之間時，所述第一導向槽為所述第一導軌；所述第一導向槽固定至所述第三固定件和所述第四固定件之間時，所述第一導向槽為所述第二導軌。

所述導軌組件包括相對設置的第一端和第二端，及相對設置的第三端和第四端；所述支撐底座包括相對的第一固定件和第二固定件及相對的第三固定件和第四固定件；所述第一端固定至所述第一固定件，所述第二端固定至所述第二固定件，所述第三端固定至所述第三固定件，所述第四端固定至所述第四固定件時，所述第一端和所述第二端之間形成所述第一導軌，所述第三端和所述第四端之間形成所述第二導軌。