[發明專利]全井眼測井圖像生成方法

有效

• 申請號: 201611149402.3
• 申請日: 2016-12-14
• 公開（公告）號: CN106600535B
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發明（設計）人: 張兆輝;杜社寬;廖建波;楊貴前
• 申請（專利權）人: 中國科學院地質與地球物理研究所蘭州油氣資源研究中心
• 主分類號: G06T3/40
• 分類號: G06T3/40
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 唐維虎

1.一種全井眼測井圖像生成方法，其特征在于，所述方法包括：

獲得目標窗口范圍內的測井電成像數據；

對所述目標窗口范圍內測井電成像數據進行灰度化處理，得到灰度圖像；

在灰度圖像上確定待填充區域，并在所述待填充區域上選取一填充中心點；

基于所述填充中心點周圍預設紋理檢測范圍內的圖像紋理特征確定一待填充塊；

在所述填充中心點周圍一預設搜索范圍內的已填充區域中，選取多個與該待填充塊大小相同的候選填充塊；

從多個所述候選填充塊中篩選剔除與所述待填充區域的灰度差異大于預設灰度差異閾值的候選填充塊；

在篩選后的所述候選填充塊中選取一與所述待填充塊相似度最高的候選填充塊作為最優填充塊；

使用所述最優填充塊對該待填充塊進行圖像填充；

重復確定所述待填充塊并進行圖像填充的步驟，對所述目標窗口范圍內的所有待填充區域進行圖像填充；

其中，所述候選填充塊與所述待填充塊相似度通過一空間加權灰度距離表征，所述在篩選后的所述候選填充塊中選取一與所述待填充塊相似度最高的候選填充塊作為最優填充塊的步驟，包括：

針對所述待填充區域中已有灰度值的每個像素點，計算所述像素點與所述候選填充塊中位置對應的像素點的灰度差，獲得所述待填充區域與所述候選填充塊的灰度距離；

記所述灰度距離為GD，計算公式如下：

其中：d(Ψp,Ψq)表示候選填充塊Ψq與待填充塊Ψp之間的灰度距離；ε表示待填充塊與候選填充塊的邊長；p_ij、q_ij分別表示待填充塊和候選填充塊內第i行、第j列像素灰度值；f(i,j)表示待填充塊內第i行、第j列像素是否參與相似度計算，f(i,j)＝0參與計算，f(i,j)＝1不參與計算；ω(p_ij,q_ij)表示待填充塊和候選塊填充內第i行、第j列像素的空間距離；i、j滿足0i≤ε、0j≤ε；分別為在搜索區域內點坐標，滿足

采用所述待填充區域與所述候選填充塊中對應像素點的空間距離，對所述灰度距離進行加權計算，獲得所述待填充區域與所述候選填充塊的空間加權灰度距離，并將與所述待填充塊的空間加權灰度距離最小的候選填充塊作為所述最優填充塊。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，對所述目標窗口范圍內測井電成像數據進行灰度化處理，得到灰度圖像的步驟，包括：

在所述測井電成像數據上選取未進行灰度化處理的圖像數據，對所述未進行灰度化處理的圖像數據進行歸一灰度化處理得到灰度圖像。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在灰度圖像上確定待填充區域，并在所述待填充區域上選取一填充中心點的步驟，包括：

在所述灰度圖像上選取空白的區域作為待填充區域；

基于像素點周圍預設優先級計算范圍內的像素點置信度及像素點的數據計算所述待填充區域邊界點的優先級，選取一優先級最高的邊界點作為填充中心點。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述紋理特征由所述填充中心點周圍預設紋理檢測范圍內的像素平均梯度模值表征；所述基于所述填充中心點周圍預設紋理檢測范圍內的圖像紋理特征確定一待填充塊的步驟，包括：

計算所述填充中心點周圍預設紋理檢測范圍內的像素平均梯度模值；

基于所述像素平均梯度模值，以所述填充中心點為中心確定一待填充塊的大小。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，從多個所述候選填充塊中篩選剔除與所述待填充區域的灰度差異大于預設灰度差異閾值的候選填充塊的步驟，包括：

計算所述待填充塊中已有灰度值的像素點的平均像素灰度，及多個所述候選填充塊中像素點的平均像素灰度；

計算多個所述候選填充塊的平均像素灰度與所述待填充塊的平均像素灰度之差的絕對值，并剔除所述絕對值大于一預設灰度差異閾值的候選填充塊。