[發明專利]一種光譜測試調整方法及測試調整裝置

在審

• 申請號: 201611148898.2
• 申請日: 2016-12-13
• 公開（公告）號: CN106840396A
• 公開（公告）日: 2017-06-13
• 發明（設計）人: 呂天剛;王躍飛;杜友珍;楊永發
• 申請（專利權）人: 鴻利智匯集團股份有限公司
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28
• 代理公司: 廣州中浚雄杰知識產權代理有限責任公司44254
• 代理人: 劉各慧

技術領域

本發明涉及光譜的測試調整方法和測試調整裝置。

背景技術

對于用芯片激發熒光粉的光源或用多種顏色芯片混合形成的光源來說，即使采用同一批芯片和同一批熒光粉，由于同一批芯片可能存在著不一致性，或熒光粉的影響，用同一批芯片和熒光粉或同一批芯片制造出來的光源對應的光譜也會有不同，而光譜的不同會對用戶的使用產生不良的影響，因此，在產品出廠前對光譜的測試是非常必要的。

另外，現在LED光源一般都采用藍光芯片激發熒光粉混合形成白光。質量不好的LED照明產品，LED光譜圖中會在藍光區域內光譜比較強。藍光過多會對人眼造成影響——主要是藍光危害，即藍光對人眼的光化學作用，灼傷視網膜，導致視網膜炎癥。

發明內容

本發明的目的是提供一種對光譜的測試調整方法及測試調整裝置。利用本發明的技術方案，測試的精度高。

為達到上述目的，一種光譜測試調整方法，包括如下步驟：

(1)采集被檢測的光譜并形成光譜圖；

(2)在X軸方向上將光譜圖劃分成二段以上的區域；

(3)根據光譜圖的分段區域將標準光譜圖在X軸對應的位置分成與光譜圖相等的段數區域；

(4)分別計算標準光譜圖分段后每段區域的面積S_i和采集的光譜圖分段后每段區域的面積S_i’；

(5)計算光譜圖與標準光譜圖在X軸上對應段的面積比值A_i＝S_i’/S_i；

(6)計算X值，其中，

(7)判斷X值是否落入到B值范圍內，其中1-m＜B＜1+m，m為預先設定允許被檢測光譜圖與標準光譜圖的偏差值，若X落入到B值范圍內，則判斷被檢測的光譜圖與標準光譜圖接近，符合使用要求，若X未落入到B值范圍內，則判斷被檢測的光譜圖與標準光譜圖差別大。

一種光譜測試調整裝置，包括：

光譜圖采集形成單元，用于采集被檢測的光譜并形成光譜圖；

光譜圖區域劃分單元，用于在X軸方向上將光譜圖劃分成二段以上的區域；

標準光譜圖區域劃分單元，用于根據光譜圖的分段區域將標準光譜圖在X軸對應的位置分成與光譜圖相等的段數區域；

面積計算單元，用于分別計算標準光譜圖分段后每段區域的面積S_i和采集的光譜圖分段后每段區域的面積S_i’；

面積比值計算單元，用于計算光譜圖與標準光譜圖在X軸上對應段的面積比值A_i＝S_i’/S_i；

X值計算單元，用于計算X值，其中，

比較判斷單元，用于判斷X值是否落入到B值范圍內，其中1-m＜B＜1+m，m根據相似度的要求設定，若X落入到B值范圍內，則判斷被檢測的光譜圖與標準光譜圖接近，符合使用要求，若X未落入到B值范圍內，則判斷被檢測的光譜圖與標準光譜圖差別大。

上述測試調整方法和測試調整裝置，由于對采集的光譜進行分段，同時對標準光譜圖進行對應位置的分段，通過計算比較判斷采集的光譜是否與標準光譜接近，因此，測試的精度高。

進一步的，測試調整裝置還包括調整單元，用于在測試到被檢測的光譜圖與標準光譜圖差別大時，將被檢測的光譜圖對應的選定區域調整為標準光譜對應的選定區域，通過對選定區域光譜的調整，則能削弱選定光譜的部分，從而使得得到的光譜更加的接近日光光譜，減小光對人眼的影響。

進一步的，調整單元的具體調整方法為：若選定區域為藍光區域，選定X軸坐標上藍光區域，然后比較標準光譜與被檢測的光譜在該區域上Y軸上的最大值，在該區域內，若標準光譜在Y軸上的最大值小于被檢測光譜在Y軸的最大值，則將被檢測光譜的Y值乘以預設的I值得到調整后的光譜圖，其中I＝標準光譜在該區域內Y值的平均值/被檢測光譜在該區域內Y值的平均值。這樣能削弱被檢測光譜圖中藍光區域的光強，從而進一步減少藍光對人眼的傷害。

進一步的，光譜圖區域劃分單元在劃分光譜圖區域時，按照不同的顏色對應的波長進行劃分。對不同的波段進行分別劃分區域，能進一步提高測試的精度。

進一步的，光譜圖區域劃分單元在劃分光譜圖區域時，在同一種顏色對應的波長中劃分成二段以上的區域，對同一波段進行進一步細分區域，能進一步提高測試的精確度。

附圖說明

圖1為被測光譜能量相對百分比分布曲線圖。

圖2為標準光譜能量相對百分比分布曲線圖。