[發明專利]一種利用光干涉法測量光學平板玻璃體積模量的方法

有效

• 申請號: 201611148051.4
• 申請日: 2016-12-13
• 公開（公告）號: CN106596265B
• 公開（公告）日: 2019-07-30
• 發明（設計）人: 郭長立;馮小強;韓湖斌
• 申請（專利權）人: 西安科技大學
• 主分類號: G01N3/08
• 分類號: G01N3/08;G01N3/06
• 代理公司: 西安弘理專利事務所 61214
• 代理人: 成丹

1.一種利用光干涉法測量光學平板玻璃體積模量的方法，其特征在于，具體按照以下步驟實施：

步驟1：通過螺絲(4)施加應力于光學平板玻璃(10)，并通過測量儀器(9)顯示應力傳感器(7)測量的應力，記錄下應力的大小；

步驟2：保持步驟1中的應力不變，利用鈉光源(1)發出鈉光，鈉光經反射鏡(3)反射后垂直入射到平凸透鏡(11)上，通過讀數顯微鏡(2)讀取在該應力下牛頓環干涉圖像中心黑斑的直徑Q，然后計算出黑斑的半徑r；

步驟3：通過螺絲改變應力的值，重復步驟1和步驟2，得到光學平板玻璃(10)的不同應力及對應不同應力情況下牛頓環干涉圖像中心黑斑的直徑Q及半徑r；

步驟4：利用步驟3測得的數據，得到光學平板玻璃(10)的體積模量K：

其中，σ為光學平板玻璃的中心應力，K為光學平板玻璃的體積模量，μ為光學平板玻璃的泊松比，a為光學平板玻璃的半徑，r為牛頓環干涉條紋黑斑的半徑，R為平凸透鏡的標準曲率半徑，h為光學平板玻璃的厚度；

所述測量方法采用的測量裝置的具體結構包括底座(6)，底座(6)的凹槽中放置有應力傳感器(7)，應力傳感器(7)的探頭高于底座(6)的凹槽上表面，應力傳感器(7)的探頭上放置有平凸透鏡(11)，平凸透鏡(11)上放置有光學平板玻璃(10)，平凸透鏡(11)的凸面與光學平板玻璃(10)接觸，光學平板玻璃(10)的上表面邊緣上放置有上蓋(5)，上蓋(5)通過螺絲(4)與底座(6)連接，上蓋(5)與底座(6)之間有空隙；

應力傳感器(7)的信號線穿過底座(6)上的通孔(8)與測量儀器(9)連接，測量儀器(9)用于顯示應力傳感器(7)采集到的應力；

所述應力傳感器(7)、所述光學平板玻璃(10)、所述平凸透鏡(11)同軸。