[發(fā)明專利]負(fù)載測試裝置及負(fù)載測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611146173.X | 申請日: | 2016-12-13 | 
| 公開(公告)號: | CN106771628B | 公開(公告)日: | 2019-11-15 | 
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李冠興 | 申請(專利權(quán))人: | 環(huán)旭電子股份有限公司 | 
| 主分類號: | G01R27/06 | 分類號: | G01R27/06 | 
| 代理公司: | 72003 隆天知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 周濱;章侃銥<國際申請>=<國際公布>= | 
| 地址: | 201203上海市浦東新區(qū)張*** | 國省代碼: | 上海;31 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 負(fù)載 測試 裝置 方法 | ||
本公開公開了一種負(fù)載測試裝置及負(fù)載測試方法。負(fù)載測試裝置電性連接一待測裝置。所述負(fù)載測試裝置包括一第一射頻切換模塊、一傳輸模塊以及一負(fù)載模塊。第一射頻切換模塊包括一第一切換開關(guān)單元以及一第二切換開關(guān)單元。傳輸模塊包括一第一傳輸線連接第一切換開關(guān)單元以及一第二傳輸線連接第二切換開關(guān)單元。第一傳輸線的長度與第二傳輸線的長度不相等。待測裝置通過第一切換開關(guān)單元及第一傳輸線以對負(fù)載模塊進(jìn)行一第一負(fù)載測試處理,待測裝置通過第二切換開關(guān)單元及第二傳輸線以對負(fù)載模塊進(jìn)行一第二負(fù)載測試處理,第一負(fù)載測試處理與第二負(fù)載測試處理之間的時間間隔小于等于一預(yù)定時間。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及一種負(fù)載測試裝置,且特別是一種具有快速切換測試處理的負(fù)載測試裝置。
背景技術(shù)
近年來,移動裝置以及無線網(wǎng)絡(luò)的蓬勃發(fā)展,使得無線收發(fā)模塊技術(shù)越趨的成熟,不過由于用戶對于移動裝置的要求越來越多,特別是在通信質(zhì)量上,則是越加的嚴(yán)苛。無線收發(fā)模塊在負(fù)載測試上,雖然有相關(guān)的測試設(shè)備可供選擇,然而在測試的時間上卻需要相當(dāng)長的時間且測試設(shè)備昂貴,每個測試的間隔時間一般需要1-3分鐘以上,因此,一個無線收發(fā)模塊的完整測試時間,通常就需要2-3個小時以上。
因此,如何提供一個能夠大幅度縮短測試時間且降低成本的負(fù)載測試裝置,實(shí)是目前業(yè)界的一個重要課題。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本公開實(shí)施例提供一種負(fù)載測試裝置。負(fù)載測試裝置電性連接一待測裝置。所述負(fù)載測試裝置包括一第一射頻切換模塊、一傳輸模塊以及一負(fù)載模塊。第一射頻切換模塊包括一第一切換開關(guān)單元以及一第二切換開關(guān)單元。傳輸模塊包括一第一傳輸線連接第一切換開關(guān)單元以及一第二傳輸線連接第二切換開關(guān)單元。第一傳輸線的長度與第二傳輸線的長度不相等。負(fù)載模塊包括一第一負(fù)載以及一第二負(fù)載。第一負(fù)載以及第二負(fù)載分別連接所述傳輸模塊的第一傳輸線以及第二傳輸線。待測裝置通過第一切換開關(guān)單元及第一傳輸線以對負(fù)載模塊進(jìn)行一第一負(fù)載測試處理,待測裝置通過第二切換開關(guān)單元及第二傳輸線以對負(fù)載模塊進(jìn)行一第二負(fù)載測試處理,第一負(fù)載測試處理與第二負(fù)載測試處理之間的時間間隔小于等于一預(yù)定時間。
優(yōu)選地,第一切換開關(guān)單元與第一傳輸線共同提供一第一相位的傳輸特性,第二切換開關(guān)單元與第二傳輸線共同提供一第二相位的傳輸特性,第一相位不等于第二相位。
優(yōu)選地,預(yù)定時間為1秒。
優(yōu)選地,第一切換開關(guān)單元以及第二切換開關(guān)單元分別包括一開關(guān)以及一阻抗。
優(yōu)選地,負(fù)載模塊的第一負(fù)載與第二負(fù)載的阻抗特性為相同。
優(yōu)選地,負(fù)載模塊的第一負(fù)載與第二負(fù)載的阻抗特性為不相同。
優(yōu)選地,負(fù)載測試裝置還包括一第二射頻切換模塊,連接在傳輸模塊與負(fù)載模塊之間。第一射頻切換模塊、所述第二射頻切換模塊以及傳輸模塊共同提供不同相位的傳輸特性。
優(yōu)選地,負(fù)載測試裝置還包括一第三射頻切換模塊連接在第二射頻切換模塊與負(fù)載模塊之間,第一射頻切換模塊、第二射頻切換模塊、第三射頻切換模塊以及傳輸模塊共同提供不同相位的傳輸特性。
本公開實(shí)施例提供了一種負(fù)載測試裝置。負(fù)載測試裝置連接一待測裝置。負(fù)載測試裝置包括至少一射頻切換模塊、一傳輸模塊以及一負(fù)載模塊。射頻切換模塊包括多個切換開關(guān)單元。傳輸模塊包括多個傳輸線,分別連接多個切換開關(guān)單元。負(fù)載模塊連接傳輸模塊。待測裝置通過至少一射頻切換模塊、傳輸模塊以對負(fù)載模塊進(jìn)行至少兩個負(fù)載測試處理,至少兩個負(fù)載測試處理之間的時間間隔小于等于一預(yù)定時間。
優(yōu)選地,任兩個切換開關(guān)單元與其各自對應(yīng)接傳輸線分別提供不同相位的傳輸特性,所述多個不同相位的傳輸特性彼此不相同。
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