[發(fā)明專利]一種航空發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201611145529.8
• 申請(qǐng)日: 2016-12-13
• 公開（公告）號(hào): CN106647701B
• 公開（公告）日: 2019-03-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周鴻杰;蔡亞兵;汪興;趙志堂
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 安徽航瑞航空動(dòng)力裝備有限公司
• 主分類號(hào): G05B23/02
• 分類號(hào): G05B23/02
• 代理公司: 蕪湖安匯知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 34107
• 代理人: 朱圣榮

1.一種航空發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試方法，其特征在于，發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試硬件包括輸入信號(hào)處理電路、輸出信號(hào)處理電路、控制器、硬件測(cè)試電路、硬件反饋電路，所述輸入信號(hào)處理電路接收傳感器、開關(guān)的信號(hào)，并對(duì)接收到的信號(hào)進(jìn)行處理，將處理過(guò)后的信號(hào)輸入到控制器，控制器根據(jù)接收到的信號(hào)判斷控制器輸入控制部分的正確性，同時(shí)控制器將接收到的信號(hào)通過(guò)軟件計(jì)算處理后輸出到輸出信號(hào)處理電路，輸出信號(hào)處理電路對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行處理后通過(guò)硬件反饋電路反饋到控制器，控制器結(jié)合輸入輸出及反饋信號(hào)判斷輸出控制部分的正確性；

所述發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試分為三種模式，分別為上電BIT測(cè)試、運(yùn)行BIT測(cè)試、維修BIT測(cè)試；上電BIT測(cè)試旨在控制器正常運(yùn)行之前發(fā)現(xiàn)發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)存在的故障；運(yùn)行BIT測(cè)試旨在發(fā)現(xiàn)發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí)存在的故障；維修BIT測(cè)試旨在發(fā)現(xiàn)發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)售后維修時(shí)存在的故障；

控制器進(jìn)入上電BIT模式后，首先進(jìn)行MCU BIT測(cè)試；MCU BIT測(cè)試完成后進(jìn)行控制器輸入/輸出BIT測(cè)試；上電BIT測(cè)試包括如下：

1)MCU BIT測(cè)試

MCU BIT測(cè)試是完成對(duì)控制器MCU功能的檢查，包括MCU Flash、隨機(jī)存儲(chǔ)區(qū)域RAM、非易失性存儲(chǔ)區(qū)域NvRam、輸入/輸出接口檢測(cè)；其中，F(xiàn)lash BIT測(cè)試讀取完整的Flash空間數(shù)據(jù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)和計(jì)算，之后與預(yù)先寫入Flash的數(shù)據(jù)校驗(yàn)和進(jìn)行比較，以判斷Flash數(shù)據(jù)完整性；RAM BIT測(cè)試是檢查RAM空間的讀寫功能，對(duì)RAM空間循環(huán)進(jìn)行讀寫操作，比較讀取數(shù)據(jù)與預(yù)先寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行比較以判斷RAM讀寫性；NvRam BIT測(cè)試是檢查NvRam空間的讀寫功能，在對(duì)NvRam空間進(jìn)行寫數(shù)據(jù)操作時(shí)，在寫數(shù)據(jù)完成后同時(shí)將本次所寫數(shù)據(jù)校驗(yàn)和寫入NvRam，之后讀取該NvRam空間數(shù)據(jù)并計(jì)算讀取數(shù)據(jù)的校驗(yàn)和，并與預(yù)先寫入的校驗(yàn)和進(jìn)行比較判斷NvRam讀寫性能；MCU輸入輸出接口BIT測(cè)試在控制器輸入輸出測(cè)試時(shí)同時(shí)進(jìn)行；

2)控制器輸入輸出BIT測(cè)試

控制器輸入輸出BIT測(cè)試是完成對(duì)控制器輸入輸出及MCU輸入輸出功能的檢查，包括模擬輸入、數(shù)字輸入、頻率輸入、數(shù)字輸出、頻率輸出測(cè)試；

模擬輸入BIT測(cè)試過(guò)程是：控制器獲取模擬信號(hào)，通過(guò)模擬輸入信號(hào)處理電路輸入到MCU，MCU模擬信號(hào)采集模塊對(duì)輸入模擬信號(hào)進(jìn)行采樣，并通過(guò)直接內(nèi)存存取模塊將采樣結(jié)果存放到內(nèi)存指定區(qū)域，MCU根據(jù)采樣結(jié)果通過(guò)軟件控制算法判斷控制器模擬輸入信號(hào)處理電路和MCU模擬輸入接口功能的正確性；

數(shù)字輸入BIT測(cè)試過(guò)程是：控制器輸出確定的數(shù)字信號(hào)，該數(shù)字信號(hào)通過(guò)數(shù)字輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU數(shù)字輸入引腳和控制器數(shù)字輸入信號(hào)處理電路，MCU通過(guò)比較從數(shù)字輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU信號(hào)和經(jīng)數(shù)字輸入信號(hào)處理電路反饋到MCU信號(hào)判斷控制器數(shù)字輸入信號(hào)處理電路、MCU數(shù)字輸入接口、控制器數(shù)字輸出信號(hào)處理電路功能的正確性；

頻率輸入BIT測(cè)試過(guò)程是：控制器輸出確定頻率和占空比的頻率信號(hào)，該頻率信號(hào)通過(guò)頻率輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU輸入引腳和控制器頻率輸入信號(hào)處理電路，MCU通過(guò)比較從頻率輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU信號(hào)和經(jīng)頻率輸入信號(hào)處理電路反饋到MCU信號(hào)判斷控制器頻率輸入信號(hào)處理電路、MCU頻率輸入接口、控制器頻率輸出信號(hào)處理電路功能的正確性；

數(shù)字輸出BIT測(cè)試過(guò)程是：控制器輸出確定電平的數(shù)字信號(hào)，該信號(hào)通過(guò)數(shù)字輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU輸入引腳，MCU檢測(cè)輸入數(shù)字信號(hào)的電平狀態(tài)，并與指定電平進(jìn)行比較判斷MCU數(shù)字輸出和控制器數(shù)字輸出信號(hào)處理電路功能的正確性；

頻率輸出BIT測(cè)試過(guò)程是：控制器輸出確定頻率和占空比的頻率信號(hào)，該信號(hào)通過(guò)頻率輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU輸入引腳，MCU捕獲輸入頻率信號(hào)的頻率和占空比，并與指定頻率和占空比進(jìn)行比較判斷MCU頻率輸出和控制器頻率輸出信號(hào)處理電路功能的正確性。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的航空發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試方法，其特征在于，所述發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試硬件還包括分別和輸入信號(hào)處理電路連接的多通道模擬輸入電路、多通道數(shù)字輸入電路、多通道頻率輸入電路；多通道模擬輸入獲取發(fā)動(dòng)機(jī)傳感器信號(hào)，多通道數(shù)字輸入獲取發(fā)動(dòng)機(jī)外部離散輸入信號(hào)，多通道頻率輸入獲取曲軸傳感器、凸輪軸傳感器頻率輸入信號(hào)。