[發(fā)明專(zhuān)利]大面積微通道板型光電倍增管測(cè)試裝置與測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611143791.9 | 申請(qǐng)日: | 2016-12-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106707059B | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-05-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 司曙光;金真;黃國(guó)瑞;李珅;邵愛(ài)飛;王健;徐海洋;趙慧民;孫賽林;李婧雯 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北方夜視技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京中濟(jì)緯天專(zhuān)利代理有限公司 11429 | 代理人: | 王菊花 |
| 地址: | 650200 *** | 國(guó)省代碼: | 云南;53 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 大面積 通道 光電倍增管 測(cè)試 裝置 方法 | ||
1.一種利用大面積微通道板型光電倍增管測(cè)試裝置的大面積微通道板型光電倍增管測(cè)試方法,其特征在于,所述測(cè)試方法具體包括下述步驟:
(1)陰極量子效率測(cè)試
測(cè)試步驟:
步驟1、將微通道板型光電倍增管放置在旋轉(zhuǎn)暗箱的支撐架上,關(guān)好暗箱門(mén),關(guān)閉外界光源;
步驟2、打開(kāi)光源,波長(zhǎng)為420nm,連接皮安表,打開(kāi)量子效率測(cè)試軟件,測(cè)試光電倍增管的量子效率;
測(cè)試原理:測(cè)試420nm的波長(zhǎng)光照下的量子效率
式中:S
I
φ
λ—波長(zhǎng)
(2)平均量子效率及量子效率的均勻性
測(cè)試原理:以光電倍增管頂點(diǎn)為中心,測(cè)試10圈,每圈16個(gè)點(diǎn),根據(jù)不同量子效率值選擇不同的顏色表示,可得到量子效率均勻性的圖;
測(cè)試步驟:
步驟1、將光電倍增管水平放置在旋轉(zhuǎn)測(cè)試臺(tái)中,打開(kāi)旋轉(zhuǎn)臺(tái)控制系統(tǒng),轉(zhuǎn)動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái),使鋁膜朝外,轉(zhuǎn)動(dòng)燈架使其處于頂部90度的位置
步驟2、陰極和聚焦極分別接到電流表輸入和高壓輸出線上,關(guān)閉暗箱門(mén);
步驟3、將校準(zhǔn)樣管放置在測(cè)試暗箱中,對(duì)準(zhǔn)光纖,校準(zhǔn)管陰極和聚焦極分別接到電流表輸入和高壓輸出線上,關(guān)閉暗箱門(mén);
步驟4、調(diào)節(jié)光源驅(qū)動(dòng)信號(hào),頻率1kHz、占空比99%、調(diào)節(jié)信號(hào)幅度使待測(cè)管輸出光電流為1/10*QE*100nA;
步驟5、打開(kāi)量子效率均勻性測(cè)試軟件,準(zhǔn)確填寫(xiě)管號(hào)、頂部量子效率值及測(cè)試條件,開(kāi)始測(cè)試;
(3)增益、單光電子譜峰谷比
增益測(cè)試原理:測(cè)量光電倍增管單光電子譜,單光電子譜有兩個(gè)高斯峰,電子學(xué)臺(tái)階峰和單光電子脈沖電荷分布峰,峰位分別為Xped和Xsig,測(cè)試儀器每道電荷量為q,則電子增益為:
其中,e為電子電荷量;
當(dāng)增益不是1×10
單光電子譜峰谷比測(cè)試原理:信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖頻率為1kHz,脈沖寬度為10ns,作為L(zhǎng)ED的驅(qū)動(dòng)電壓,LED波長(zhǎng)選擇405nm;通過(guò)調(diào)節(jié)LED的驅(qū)動(dòng)脈沖電壓幅度,使得電荷譜的光電子信號(hào)計(jì)數(shù)與總計(jì)數(shù)比例為0.1;
測(cè)量光電倍增管工作在1×10
P/V=n
測(cè)試步驟:
步驟1、開(kāi)啟VME機(jī)箱,穩(wěn)定5min后開(kāi)始測(cè)量單光電子譜;
步驟2、將光電倍增管放置在旋轉(zhuǎn)臺(tái)支架上,管芯連接好分壓器,分壓器陽(yáng)極信號(hào)線接到示波器的輸入端,電壓輸入端接到高壓電源輸出線上,關(guān)好暗箱門(mén);
步驟3、轉(zhuǎn)動(dòng)高壓電源按鈕,給光電倍增管提供負(fù)高壓,查看示波器的信號(hào),使示波器上觀察到的信號(hào)幅度為20mV;
步驟4、信號(hào)發(fā)生器輸出同步觸發(fā)門(mén)信號(hào)和光源脈沖驅(qū)動(dòng)信號(hào),并將信號(hào)線和門(mén)信號(hào)線連接到測(cè)試插件相應(yīng)端口,啟動(dòng)測(cè)試;
步驟5、調(diào)節(jié)高壓電源輸出電壓使增益值為1×10
(4)暗計(jì)數(shù)率
暗計(jì)數(shù)測(cè)試原理:光電倍增管在無(wú)光輸入狀態(tài)下連續(xù)工作時(shí)間大于2h后方可進(jìn)行暗噪聲計(jì)數(shù)測(cè)試;使用低閾甄別器配合定標(biāo)器測(cè)試光電倍增管暗噪聲計(jì)數(shù),低閾甄別器閾值設(shè)置為2mV,定標(biāo)器測(cè)試時(shí)間設(shè)置為100s,定標(biāo)器測(cè)試值除以100的值為光電倍增管每秒的暗噪聲計(jì)數(shù);
測(cè)試步驟:
步驟1、開(kāi)啟NIM低閾甄別器,將光電倍增管放置在旋轉(zhuǎn)臺(tái)支架上,管芯連接好分壓器,分壓器陽(yáng)極信號(hào)線接到示波器的輸入端,電壓輸入端接到高壓電源輸出線上,關(guān)好暗箱門(mén);
步驟2、調(diào)節(jié)光電倍增管工作電壓至增益為1×10
步驟3、將陽(yáng)極信號(hào)線連接到閾值甄別器2mv檔,按下計(jì)數(shù)插件開(kāi)始按鈕開(kāi)始測(cè)試,測(cè)試時(shí)間100s;
步驟4、測(cè)試結(jié)束后,計(jì)數(shù)停止,計(jì)數(shù)值/100s得到暗計(jì)數(shù)率;
(5)時(shí)間參數(shù)
1)信號(hào)上升時(shí)間
指信號(hào)前沿從幅度值的10%上升到90%的時(shí)間
2)信號(hào)下降時(shí)間
指信號(hào)后沿從幅度值的90%下降到10%的時(shí)間
3)渡越時(shí)間漲落
指陰極面發(fā)射的電子渡越到陽(yáng)極的時(shí)間漲落,實(shí)際測(cè)量時(shí)以輸出脈沖時(shí)間分布高斯的半高寬來(lái)度量;
測(cè)試步驟:
步驟1、將光電倍增管放在旋轉(zhuǎn)臺(tái)支撐架上
步驟2、調(diào)節(jié)光電倍增管工作電壓至增益為1×10
步驟3、將陽(yáng)極信號(hào)線連接到示波器輸入端口;
步驟4、打開(kāi)時(shí)間參數(shù)測(cè)試軟件,開(kāi)始時(shí)間參數(shù)測(cè)試;
(6)探測(cè)效率、探測(cè)效率均勻性
測(cè)試原理:對(duì)比頂部量子效率為QE
按照陰極區(qū)域S
DE
其中,S
步驟1、將標(biāo)準(zhǔn)樣管放置在暗箱中,待測(cè)管放置在旋轉(zhuǎn)臺(tái)支撐架上,連接好分壓器、陽(yáng)極信號(hào)線、電源線,關(guān)閉暗箱門(mén);
步驟2、打開(kāi)旋轉(zhuǎn)臺(tái)控制系統(tǒng),轉(zhuǎn)動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái),使鋁膜朝外,轉(zhuǎn)動(dòng)燈架使其處于頂部90度的位置;
步驟3、標(biāo)準(zhǔn)樣管R12860接正高壓電源,調(diào)節(jié)電壓至增益為1×10
步驟4、調(diào)節(jié)門(mén)信號(hào)與光源脈沖驅(qū)動(dòng)信號(hào)之間延遲時(shí)間,使標(biāo)準(zhǔn)管信號(hào)與待測(cè)管信號(hào)均在門(mén)信號(hào)內(nèi);
步驟5、啟動(dòng)相對(duì)收集效率測(cè)試過(guò)程,每個(gè)點(diǎn)測(cè)試其光計(jì)數(shù)及暗計(jì)數(shù),燈架自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)到下個(gè)點(diǎn),測(cè)試10圈,每圈16個(gè)點(diǎn),得到探測(cè)效率均勻性圖;
(7)前脈沖比例、后脈沖比例
前脈沖比例測(cè)試原理:光電倍增管工作在1×10
其中,η
n
其中,f
后脈沖比例測(cè)試原理:按光電倍增管工作在1×10
其中,n
n
其中,f
測(cè)試步驟:
步驟1、將光電倍增管放在旋轉(zhuǎn)臺(tái)支撐架上,連接好分壓器、陽(yáng)極信號(hào)線、電源線,關(guān)閉暗箱門(mén);
步驟2、調(diào)節(jié)待測(cè)管工作電壓使其增益為1×10
步驟3、調(diào)整脈沖信號(hào)與門(mén)信號(hào)之間延遲時(shí)間,使主峰位置與門(mén)信號(hào)下降沿同步;
步驟4、打開(kāi)前后脈沖測(cè)試,基于前、后脈沖比例測(cè)試原理開(kāi)始測(cè)試。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
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