[發明專利]多端口微波器件測試系統及方法

在審

• 申請號: 201611143686.5
• 申請日: 2016-12-13
• 公開（公告）號: CN106771554A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 陳超;張少林;孫昌盛;孫宏建
• 申請（專利權）人: 深圳市威通科技有限公司
• 主分類號: G01R21/00
• 分類號: G01R21/00;G01R23/16;G01R31/00;G01R23/02;G01R25/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙)11371
• 代理人: 張紅平

技術領域

本申請涉及微波測量技術領域，具體而言，涉及一種多端口微波器件測試系統及方法。

背景技術

微波測量是微波領域的重要部分，多端口微波器件功率的測量，互調、防雷、饋電的測試是微波測量的重要步驟。

多端口微波器件的檢測，廠商要安排大量的人力和測量儀器來檢驗產品的合格性，有些多端口微波器件的端口多達十多個，電檢員在檢驗時要頻繁換線，要使用不同的接口連接待測器件。費時且影響測試的正確性和穩定性，成本較高，速度較低。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供了一種多端口微波器件測試系統及方法，與現有的多端口微波器件測試方法相比，本發明實施例提供的多端口微波器件測試系統及方法能夠降低生產成本，提高效率，提高測試的可靠性和穩定性。

為實現上述目的，本發明實施例提供了一種多端口微波器件測試系統，用于對多端口微波器件進行測試，所述系統包括：控制器、執行器、開關矩陣以及多個測試儀器。所述開關矩陣分別與所述執行器、多個測試儀器以及多端口微波器件耦合，所述執行器還與所述控制器耦合。當對所述多端口微波器件進行預設測試時，所述控制器發送對應的控制信號至執行器；所述執行器根據接收的控制信號，對所述開關矩陣進行控制，以導通所述多個測試儀器中，與所述控制信號相對應的測試儀器與所述多端口微波器件之間的通路。

本發明實施例還提供了一種多端口微波器件測試方法，所述方法包括：當對多端口微波器件進行預設測試時，控制器發送對應的控制信號至執行器；所述執行器根據接收的控制信號，對開關矩陣進行控制，以導通多個測試儀器中，與所述控制信號相對應的測試儀器與所述多端口微波器件之間的通路。

本發明實施例提供的多端口微波器件測試系統及方法的有益效果為：

本發明實施例提供的多端口微波器件測試系統及方法包括：控制器、執行器、開關矩陣以及多個測試儀器。所述開關矩陣分別與所述執行器、多個測試儀器以及多端口微波器件耦合，所述執行器還與所述控制器耦合。當對所述多端口微波器件進行預設測試時，所述控制器發送對應的控制信號至執行器。所述執行器根據接收的控制信號，對所述開關矩陣進行控制，以導通所述多個測試儀器中，與所述控制信號相對應的測試儀器與所述多端口微波器件之間的通路。本發明實施例能夠在需要測試某項參數時，通過控制器跟執行器發指令以使執行器導通開關矩陣中的對應測量儀器與多端口微波器件之間的通路，從而實現自動測試，提高了效率的同時提高了測試的可靠性和穩定性。

附圖說明

為了更清楚的說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發明實施例提供的多端口微波器件測試系統的示意性結構框圖；

圖2是多端口微波器件測試系統中開關矩陣的多個節點中的一個的結構示意圖；

圖3是多端口微波器件測試系統中開關矩陣的部分結構示意圖；

圖4是本發明實施例一種具體實施方式提供的多端口微波器件測試系統的示意性結構框圖；

圖5是本發明實施例提供的多端口微波器件測試方法的流程圖。

圖標：100-多端口微波器件測試系統；110-控制器；120-執行器；130-開關矩陣；131-節點；132-繼電器；140-測試儀器；141-網絡分析儀；142-功率測試儀；143-防雷測試儀；144-饋電測試儀；145-頻譜儀；200-多端口微波器件。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本申請一部分實施例，而不是全部的實施例。以下對在附圖中提供的本申請的實施例的詳細描述并非旨在限制要求保護的本申請的范圍，而是僅僅表示本申請的選定實施例?；诒旧暾埖膶嵤├?，本領域技術人員在沒有做出創造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本申請保護的范圍。

請參見圖1，圖1示出了本發明實施例提供的多端口微波器件測試系統100，用于對多端口微波器件200進行測試。所述系統包括控制器110、執行器120、開關矩陣130以及多個測試儀器140。開關矩陣130分別與執行器120、多個測試儀器140以及多端口微波器件200耦合，執行器120還與控制器110耦合。