[發明專利]基于改進體積插值方法的最大互信息圖像配準方法

在審

• 申請號: 201611140966.0
• 申請日: 2016-12-12
• 公開（公告）號: CN106600634A
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發明（設計）人: 劉儉;譚久彬;李勇;劉妍
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G06T7/35
• 分類號: G06T7/35
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所23109
• 代理人: 劉士寶

1.基于改進體積插值方法的最大互信息圖像配準方法，其特征在于，該方法的具體過程為：

步驟1、統計待配準參考圖和待配準浮動圖的聯合直方圖Hist(R,F)，R表示待配準的參考圖，F表示待配準的浮動圖；采用改進的體積插值算法計算待配準圖像的聯合直方圖：

Hist(F(P₀),R(O))＝Hist(F(P₀),R(O))+w_b

Hist(F(P₀),R(A))＝Hist(F(P₀),R(A))+w_c

Hist(F(P₀),R(B))＝Hist(F(P₀),R(B))+w₀

Hist(F(P₀),R(C))＝Hist(F(P₀),R(C))+w_a；

其中，P₀表示待配準浮動圖上的一個像素點，O、A、B、C分別表示待配準參考圖相鄰的圍繞P₀的四個像素點，w_b、w_c、w₀、w_a分別表示改進的體積插值算法的核函數；

步驟2、根據以下公式計算待配準圖像的互信息：

MI(R,F)＝H(R)+H(F)-H(R,F)

$H\left(R\right)=-\underset{r}{\Σ}{p}_R\left(r\right){\log }_2{p}_R\left(r\right)$

$H\left(F\right)=-\underset{f}{\Σ}{p}_F\left(f\right){\log }_2{p}_F\left(f\right)$

$H(R,F)=-\underset{r,f}{\Σ}{p}_{RF}(r,f){\log }_2{p}_{RF}(r,f)$

其中：MI(R,F)表示待配準參考圖和待配準浮動圖的互信息，H(R)表示待配準參考圖的熵，H(F)表示待配準浮動圖的熵，H(R,F)表示待配準參考圖和待配準浮動圖的聯合熵，p_RF(r,f)表示待配準參考圖和待配準浮動圖的聯合概率分布函數，p_R(r)表示待配準參考圖的邊緣概率分布函數，p_F(f)表示待配準浮動圖的邊緣概率分布函數；

步驟3、采用鮑威爾算法進行圖像配準。