[發明專利]一種瓷磚智能磨邊工藝及裝置

在審

• 申請號: 201611140703.X
• 申請日: 2016-12-12
• 公開（公告）號: CN108214109A
• 公開（公告）日: 2018-06-29
• 發明（設計）人: 徐斌;周祖兵
• 申請（專利權）人: 廣東科達潔能股份有限公司
• 主分類號: B24B1/00
• 分類號: B24B1/00;B24B9/06;B24B47/20;B24B49/02;B24B41/00;B24B51/00
• 代理公司: 廣州新諾專利商標事務所有限公司 44100
• 代理人: 李國釗;李德魁

本發明涉及一種瓷磚智能磨邊工藝及裝置。本發明的瓷磚智能磨邊裝置，包括基座、推磚機構、磨邊機構、檢測儀和控制器；推磚機構、磨邊機構和檢測機構依序平行設置在基座上；推磚機構包括推磚電機、推磚軸和推磚爪；推磚軸與推磚電機的輸出端連接，推磚爪固定在推磚軸上；磨邊機構包括進給組件和磨邊組件；進給組件包括進給器和進給件，進給器固定在基座上，進給器的輸出端與進給件連接，進給件用于帶動磨邊組件對磚坯磨邊；檢測儀用于檢測磨邊后的磚坯的尺寸；控制器與檢測儀、推磚機構和磨邊機構信號連接。本發明的瓷磚智能磨邊工藝及裝置具有自動化程度高、精度高、合格率高、智能化、操作方便的優點。

技術領域

本發明涉及瓷磚生產技術領域，特別是涉及一種瓷磚智能磨邊工藝及裝置。

背景技術

在現有的瓷質磚(石材)拋光加工流程包括粗磨邊---刮平定厚---研磨拋光---精磨邊倒角---納米液涂覆等工序。粗磨邊工序是對磚坯四周進行粗磨到固定的尺寸，并消除瓷磚邊緣的缺陷和波浪邊等瓷磚邊緣變形。刮平定厚工序是對磚坯表面進行粗加工，將瓷磚表面的燒結層去掉，露出瓷磚表面的花紋；同時消除磚坯的變形、翹曲、表面凹凸不平等缺陷，并獲得厚度一致和平整性的表面。研磨拋光工序是對磚坯表面進行精細研磨，使瓷磚表面獲得光潔平整的高光澤度的鏡面效果。精磨邊倒角工序主要完成磚坯四邊的側磨及倒角磨削修整，達到周邊平直、對邊和對角尺寸準確一致的拋光磚成品。納米液涂覆工序是由于拋光后的瓷磚表面殘留大量的氣孔和加工痕跡，這些缺陷影響了瓷磚表面質量。為了獲得瓷磚表面超潔亮的效果，在瓷磚表面涂覆納米液，將瓷磚表面的缺陷進行填充。

在此過程中，由于磚坯尺寸規格不同，設備的加工尺寸需經常人工調節變換；同時，由于磨邊磨輪對陶瓷磚坯在磨削過程中本身有損耗，在此過程中要人工頻繁進給磨削磨輪；再者，由于設備傳動主軸在使用過程中有磨損，在磨損到一定程度后，會出現設備加工磚坯對角線質量達不到要求，因而需要停機對設備傳動軸進行維修更換。

每臺磨邊機幾十個磨頭，每個磨頭的切削量是多少，過去一直都是靠人工聽聲音，看火花這樣原始的方式觀察判斷，磨邊操作就成了經驗活。瓷磚加工過程中需要多次調整，效率低，過程中會有部分磚超差降級，且對磨邊工的經驗要求較高。如果停機調節影響生產，不停機調整又有安全隱患。

發明內容

基于此，本發明的目的在于，提供一種瓷磚智能磨邊工藝及裝置，其具有自動化程度高、精度高、合格率高、智能化、操作方便的優點。

一種瓷磚智能磨邊工藝，包括以下步驟：

S1.在控制器設置磚坯加工的額定尺寸及額定公差；

S2.推磚機構控制推磚爪的進給量和入磚角度以將毛磚坯推動到磨邊機構；

S3.磨邊機構的進給器控制磨邊組件的進給量并對毛磚坯進行磨邊；

S4.檢測儀對磨邊后的磚坯進行尺寸檢測，檢測儀將檢測尺寸信號傳送至控制器，控制器計算得出檢測尺寸并計算出其與額定尺寸的誤差；

S5.若檢測尺寸與額定尺寸的誤差小于額定公差，則自S2重復執行；

若檢測尺寸與額定尺寸的誤差大于額定公差，則控制器發送調整指令至推磚機構和磨邊機構進行推磚和磨邊調整，直至檢測尺寸與額定尺寸的誤差小于額定公差，進而自S2重復執行。

本發明還提供了一種瓷磚智能磨邊裝置，包括基座、推磚機構、磨邊機構、檢測儀和控制器；

所述推磚機構、磨邊機構和檢測機構依序平行設置在所述基座上；

所述推磚機構包括推磚電機、推磚軸和推磚爪；所述推磚軸與所述推磚電機的輸出端連接，所述推磚爪固定在所述推磚軸上；

所述磨邊機構包括進給組件和磨邊組件；所述進給組件包括進給器和進給件，所述進給器固定在所述基座上，所述進給器的輸出端與所述進給件連接，所述進給件用于帶動所述磨邊組件對磚坯磨邊；