[發(fā)明專利]一種光線路終端測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611139775.2 | 申請日: | 2016-12-12 |
| 公開(公告)號: | CN108462530B | 公開(公告)日: | 2022-05-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曾林海;徐東峰;齊志華;魏才華;劉雅俊;韓偉偉 | 申請(專利權(quán))人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號: | H04B10/07 | 分類號: | H04B10/07 |
| 代理公司: | 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112 | 代理人: | 姜春咸;馮建基 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 線路 終端 測試 裝置 | ||
本發(fā)明一方面提供了一種光線路終端測試裝置,包括合光器和分光器,該分光器包括N個光纖接口和一個匯聚接口,該合光器包括一個聚合接口和2個光纖接口,該N為大于1的自然數(shù),其中,所述N個光纖接口,用于連接光線路終端無源光網(wǎng)絡(luò)線卡的光口;所述2個光纖接口,用于連接光網(wǎng)絡(luò)單元;所述匯聚接口通過光纖連接器與所述聚合接口連接。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)中測試效率低,接口連接復(fù)雜,光網(wǎng)絡(luò)設(shè)備利用率低的問題,降低了測試成本,提高了測試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及通信和計算機(jī)領(lǐng)域,特別涉及一種光線路終端測試裝置,方法以及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
無源光網(wǎng)絡(luò)(Passive Optical Network,PON)作為一種新興的覆蓋最后一公里的光纖寬帶接入技術(shù),包括以太網(wǎng)無源光網(wǎng)絡(luò)(Ethernet Passive Optical Network,EPON)/10G EPON/千兆無源光網(wǎng)絡(luò)(Gigabit-Capable PON,GPON)/10G GPON等技術(shù)。運(yùn)用PON接入的方式部署的網(wǎng)絡(luò)正成為寬帶網(wǎng)絡(luò)的一種主流方式,該技術(shù)充分利用光網(wǎng)絡(luò)以及無源光分路器為特色,降低運(yùn)營商設(shè)備成本及運(yùn)維成本,并為用戶提供更快更穩(wěn)定的寬帶網(wǎng)絡(luò)。在其網(wǎng)絡(luò)上可以同時承載語音、數(shù)據(jù)業(yè)務(wù),做到多網(wǎng)融合。目前,PON技術(shù)已成為寬帶接入技術(shù)的主要解決方案。面對日趨增長的PON設(shè)備市場需求,設(shè)備供應(yīng)商要保證產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性、穩(wěn)定性,對PON線卡硬件功能測試就顯得尤為重要;目前測試無源光網(wǎng)絡(luò)線卡需要將與線卡光接口同等數(shù)目的光網(wǎng)絡(luò)單元一一接入,造成接口連接復(fù)雜,成本高。如果線卡同時支持GPON和10GPON,或者同時支持EPON或10G EOPN,需要先后接入兩種制式的光網(wǎng)單元測試,就需要在測試過程中,將完成測試的光網(wǎng)絡(luò)單元替換為另一種制式的光網(wǎng)絡(luò)單元后才能繼續(xù)測試,這種測試方法效率低下,成本高。
針對目前光網(wǎng)絡(luò)測試終端測試方法測試效率低,接口連接復(fù)雜,光網(wǎng)絡(luò)設(shè)備利用率低的問題,
目前沒有有效的解決方案
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種光線路終端測試裝置,方法、系統(tǒng)以至少解決現(xiàn)有技術(shù)中測試效率低,接口連接復(fù)雜,光網(wǎng)絡(luò)設(shè)備利用率低的問題。
本發(fā)明一方面提供了一種光線路終端測試裝置,包括合光器和分光器,該分光器包括N個光纖接口和一個匯聚接口,該合光器包括一個聚合接口和2個光纖接口,該N為大于1的自然數(shù),其中,所述N個光纖接口,用于連接光線路終端無源光網(wǎng)絡(luò)線卡的光口;所述2個光纖接口,用于連接光網(wǎng)絡(luò)單元;所述匯聚接口通過光纖連接器與所述聚合接口連接。
進(jìn)一步地,所述N為2,4,8,16,或32。
進(jìn)一步地,所述2個光纖接口,還用于通過光纖連接器連接光網(wǎng)絡(luò)單元。
進(jìn)一步地,所述N個光纖接口分別與光模塊連接.
進(jìn)一步地,所述N個光纖接口分別通過光纖連接器與光模塊連接。
本發(fā)明還提供了一種光網(wǎng)絡(luò)單元測試方法,包括按一定的時間間隔一次開啟1路光接口接受光信號,所述光接口接受光信號時,同時關(guān)閉其他光接口光信號接收;其中,所述光信號是由兩個光網(wǎng)絡(luò)單元經(jīng)過合光器傳輸至所述分光器的,所述分光器包括所述N個光纖接口和一個匯聚接口,所述合光器包括一個聚合接口和2個光纖接口,所述2個光纖接口通過光纖連接器與所述兩個光網(wǎng)絡(luò)單元一對一連接,所述匯聚接口通過光纖連接器與所述聚合接口連接,所述N個光纖接口通過光纖連接器與光線路終端無源光網(wǎng)絡(luò)線卡的光口一對一連接;根據(jù)接收所述光信號的情況對所述光線路終端光網(wǎng)絡(luò)線卡進(jìn)行測試。
本發(fā)明另一方面還提供了一種光線路終端測試系統(tǒng),包括控制裝置,光線路終端測試裝置,光網(wǎng)絡(luò)單元,其中:
所述光線路終端測試裝置的分光器光纖接口與待測光線路終端無源光網(wǎng)絡(luò)線卡的光口一對一連接,所述光線路終端測試裝置的合光器光纖接口與所述光網(wǎng)絡(luò)單元連接;所述控制裝置與待測光線路終端連接;
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