[發(fā)明專利]發(fā)電機(jī)定子端部繞組的電暈檢測(cè)方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201611137629.6
• 申請(qǐng)日: 2016-12-12
• 公開（公告）號(hào): CN106646159B
• 公開（公告）日: 2019-03-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張杰;雷雨;王勁松;孫士濤;龍飛;岳東旭
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華北電力科學(xué)研究院有限責(zé)任公司;國家電網(wǎng)公司
• 主分類號(hào): G01R31/12
• 分類號(hào): G01R31/12
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 賈磊;王濤

本發(fā)明提供了一種發(fā)電機(jī)定子端部繞組的電暈檢測(cè)方法及裝置，其中，方法包括：獲得較暗環(huán)境下發(fā)電機(jī)定子線棒端部的電暈放電圖像；獲得正常光照環(huán)境下發(fā)電機(jī)定子線棒端部的自然光照?qǐng)D像，其中所述自然光照?qǐng)D像和所述電暈放電圖像由同一拍攝設(shè)備拍攝完成，并且拍攝所述自然光照?qǐng)D像和所述電暈放電圖像時(shí)保持所述拍攝設(shè)備的拍攝位置、拍攝角度、焦距和光圈不變；疊加所述電暈放電圖像和所述自然光照?qǐng)D像得到電暈定位圖像。本發(fā)明降低了試驗(yàn)時(shí)對(duì)周圍光照環(huán)境的要求，提高了試驗(yàn)效率，避免了人為因素對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的干擾，因此可以精確定位電暈放電區(qū)域。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及汽輪發(fā)電機(jī)領(lǐng)域，尤其涉及一種發(fā)電機(jī)定子端部繞組的電暈檢測(cè)方法，具體來說就是一種發(fā)電機(jī)定子端部繞組的電暈檢測(cè)方法及裝置。

背景技術(shù)

眾所周知，電暈放電是在極不均勻電場中，空氣發(fā)生電離，從而產(chǎn)生的一種自持式輝光放電。在極不均勻電場中，最大場強(qiáng)遠(yuǎn)高于平均場強(qiáng)，以致外加電壓還較低時(shí)，局部最大場強(qiáng)區(qū)域就已經(jīng)發(fā)生空氣電離，并發(fā)出大量的光輻射，使在黑暗中的該區(qū)域附近空間出現(xiàn)薄薄的發(fā)光層，一般表現(xiàn)為藍(lán)色暈光，即為電暈。

汽輪發(fā)電機(jī)定子線棒出槽口附近以及包括綁繩、墊塊和壓板處和線棒相帶間等端部區(qū)域，電場分布極不均勻，盡管已采取了噴涂防暈漆等一系列措施，但是由于防暈層磨損、氣隙填充不實(shí)、灰塵積累、運(yùn)行中濕度、壓力變化等因素的影響，仍易出現(xiàn)電暈，進(jìn)而威脅汽輪發(fā)電機(jī)的絕緣安全。一方面，電暈放電會(huì)使周圍氣體溫度升高，加速定子線棒絕緣的老化；另一方面，盡管電暈本身的放電能量并不高，但相對(duì)于電弧等放電形式，電暈放電使周圍空氣發(fā)生化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)生的O₃、NO、NO₂等要更多。O₃本身具有很強(qiáng)的氧化性和腐蝕性，NO、NO₂與水化合會(huì)生成酸。這些物質(zhì)都會(huì)腐蝕定子線棒的絕緣。腐蝕輕者，線棒防暈層及主絕緣表面變白并出現(xiàn)不同程度的蠶食；腐蝕嚴(yán)重者，腐蝕向絕緣材料內(nèi)部發(fā)展，主絕緣外露，線棒表面防暈層甚至主絕緣燒損，可能出現(xiàn)定子線棒的放電擊穿。

鑒于電暈放電對(duì)汽輪發(fā)電機(jī)的絕緣產(chǎn)生的上述威脅，在發(fā)電機(jī)機(jī)組檢修期間，一般會(huì)安排專門的電暈檢測(cè)試驗(yàn)，對(duì)定子線棒施加相電壓和線電壓來分別查找端部繞組同相內(nèi)和相繞組對(duì)地的電暈以及異相間的電暈。對(duì)于檢測(cè)到的電暈，通常采取清掃、打磨尖端，填充間隙重和重新噴涂防暈材料等手段進(jìn)行處理，以達(dá)到消除電暈，保障發(fā)電機(jī)絕緣安全的目的。

目前，檢測(cè)汽輪發(fā)電機(jī)定子線棒端部電暈放電最為常用的兩種方法為暗室目測(cè)法和紫外成像法。暗室目測(cè)法需利用帆布等為汽輪發(fā)電機(jī)端部搭建一個(gè)完全無光的暗室環(huán)境，在定子線棒施加相電壓和線電壓后，由暗室中的觀察者憑肉眼直接對(duì)電暈位置進(jìn)行查找和標(biāo)記，但這種方法效率低、耗時(shí)長，而且容易受觀察者個(gè)人經(jīng)驗(yàn)和主觀因素的影響，電暈位置需要在暗室加壓環(huán)境下進(jìn)行標(biāo)記，存在一定不便，并且除電暈位置信息外，無法獲得其他任何試驗(yàn)數(shù)據(jù)，難以進(jìn)一步做評(píng)估和定量分析。紫外成像法基于電暈放電會(huì)產(chǎn)生紫外光的原理，利用紫外成像儀對(duì)電暈放電位置進(jìn)行觀測(cè)，對(duì)放電量進(jìn)行測(cè)量；采用該方法無需搭建暗室環(huán)境，不過放電量測(cè)量結(jié)果受觀測(cè)角度，觀測(cè)距離和放電集中程度影響較為明顯，因而其讀數(shù)只適宜作為輔助手段，最終判定還應(yīng)以目測(cè)為準(zhǔn)；另外，與暗室目測(cè)法一樣，紫外成像法測(cè)量效率低下。

因此，本領(lǐng)域技術(shù)人員亟需研發(fā)一種不受檢測(cè)人員主觀因素影響的檢測(cè)發(fā)電機(jī)定子繞組電暈的方法，從而提高檢測(cè)效率，安全可靠。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于提供一種發(fā)電機(jī)定子端部繞組的電暈檢測(cè)方法，解決了現(xiàn)有技術(shù)中檢測(cè)發(fā)電機(jī)定子繞組電暈容易受到人為因素的干擾，檢測(cè)效率低下的問題。