[發明專利]一種分析含偽差心電圖的方法和裝置

有效

• 申請號: 201611137304.8
• 申請日: 2016-12-12
• 公開（公告）號: CN106667479B
• 公開（公告）日: 2018-02-16
• 發明（設計）人: 徐擁軍;潘高
• 申請（專利權）人: 廈門納龍科技有限公司
• 主分類號: A61B5/0402
• 分類號: A61B5/0402;A61B5/00
• 代理公司: 廈門市精誠新創知識產權代理有限公司35218
• 代理人: 何家富

1.一種分析含偽差心電圖的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1，按時間段識別出心電圖中含顯著偽差部分和不含顯著偽差部分；

S2，篩選出受干擾小的心電電極集合SET；

S3，將含顯著偽差部分根據S2步驟所篩選出的心電電極集合SET生成衍生導聯L_d；

S4，從衍生導聯L_d中選取質量最好的一條或者多條衍生導聯L_d進行進一步處理。

2.根據權利要求1所述的分析含偽差心電圖的方法，其特征在于，所述步驟S2中，是通過對不含顯著偽差部分的分析處理中篩選出受干擾小的心電電極集合SET。

3.根據權利要求2所述的分析含偽差心電圖的方法，其特征在于，所述步驟S2具體為：從心電電極中選取所有不重復的任意兩個電極來組成第一過渡心電電極對集合SET′，將不含顯著偽差部分按第一過渡心電電極對集合SET′生成第一過渡衍生導聯L′_d1；并根據該第一過渡衍生導聯L′_d1設立一個閾值Threshold1，選取第一過渡衍生導聯L′_d1幅度大于閾值Threshold1的所有電極對，形成心電電極集合SET。

4.根據權利要求1所述的分析含偽差心電圖的方法，其特征在于，所述步驟S2中，是通過對含顯著偽差部分和不含顯著偽差部分相配合的分析處理中篩選出受干擾小的心電電極集合SET。

5.根據權利要求4所述的分析含偽差心電圖的方法，其特征在于，所述步驟S2具體為：從心電電極中選取所有不重復的任意兩個電極來組成第一過渡心電電極對集合SET′，將不含顯著偽差部分按第一過渡心電電極對集合SET′生成第一過渡衍生導聯L′_d1；并根據該第一過渡衍生導聯L′_d1設立一個閾值Threshold1，選取第一過渡衍生導聯L′_d1幅度小于閾值Threshold1的所有電極對，形成第二過渡心電電極集合SET′1；

將含顯著偽差部分按第二過渡心電電極集合SET′1來生成第二過渡衍生導聯L′_d2；選取第二過渡導聯L′_d2幅度仍小于閾值Threshold1的電極對，然后從第一過渡心電電極對集合SET′中找出與這對電極相關的所有元素，構成心電電極集合SET。

6.根據權利要求1所述的分析含偽差心電圖的方法，其特征在于：所述步驟S4具體為選取質量最好的一條或者多條衍生導聯L_d進行顯示處理。

7.根據權利要求6所述的分析含偽差心電圖的方法，其特征在于：所述顯示處理還包括：同時顯示該衍生導聯L_d反映的是哪兩個電極之間的電位差。

8.根據權利要求1所述的分析含偽差心電圖的方法，其特征在于，將含顯著偽差部分根據S2步驟所篩選出的心電電極集合SET生成衍生導聯L_d具體方法為：計算心電電極集合SET中的每個元素組間的電位差產生衍生導聯L_d。

9.根據權利要求3或5所述的分析含偽差心電圖的方法，其特征在于，將不含顯著偽差部分按第一過渡心電電極對集合SET′生成第一過渡衍生導聯L′_d1具體方法為：計算第一過渡心電電極對集合SET′中的每個元素組間的電位差產生第一過渡衍生導聯L′_d1。

10.根據權利要求3或5所述的分析含偽差心電圖的方法，其特征在于：所述步驟S2中的閾值Threshold1采用自適應方法設立。

11.根據權利要求10所述的分析含偽差心電圖的方法，其特征在于，所述步驟S2中的閾值Threshold1采用自適應方法設立具體為：計算心搏數據在第一過渡衍生導聯L′_d1上的幅度，選所有幅度的中位數或者平均值作為閾值threshold1。

12.根據權利要求1所述的分析含偽差心電圖的方法，其特征在于，所述步驟S4具體為：計算各條衍生導聯L_d心電信號的能量，并按心電信號能量占總能量的比重排序；選取心電信號能量比重最大的一條或者多條衍生導聯L_d進行進一步處理。