[發明專利]一種裂縫型儲集層孔隙結構定量評價方法

有效

• 申請號: 201611128885.9
• 申請日: 2016-12-09
• 公開（公告）號: CN106777649B
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 邱細斌;肖亮
• 申請（專利權）人: 博明（北京）能源技術有限公司;中國地質大學（北京）
• 主分類號: G06F30/13
• 分類號: G06F30/13;G06F30/20
• 代理公司: 北京興智翔達知識產權代理有限公司 11768
• 代理人: 蔣常雪

1.一種裂縫型儲集層孔隙結構定量評價方法，其特征在于，所述定量評價方法包括以下步驟：

1)利用微電阻率掃描成像測井采集數據，并對采集的數據進行處理，得到反映儲集層基質和裂縫孔隙度發育情況的孔隙度頻率譜；

2)通過對常規的三孔隙度測井資料進行處理，計算儲集層孔隙度曲線，并利用計算得到的孔隙度將儲集層劃分為三種不同類型；

3)針對三種不同類型的儲集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用分段冪函數刻度方法，將孔隙度頻率譜轉換為儲集層孔喉半徑分布譜；

4)根據毛管壓力與孔喉半徑之間的關系，將孔喉半徑分布譜轉化為偽毛管壓力曲線；

5)根據構造的偽毛管壓力曲線和孔喉半徑分布譜，計算儲集層孔隙結構評價參數，實現定量評價裂縫型儲集層孔隙結構的目的；

其中，

步驟1)中按照如下公式對微電阻率掃描成像測井資料進行處理，以得到儲集層孔隙度頻率譜；

式中：Φ為孔隙度，小數；m為膠結指數；n為飽和度指數；a和b為與巖性有關的常數；R_mf為泥漿電阻率；R_xo為沖洗帶電阻率，在微電阻率掃描成像測井資料中即為測量的電阻率結果，單位均為Ω.m；S_xo為沖洗帶含水飽和度；由于微電阻率掃描成像測井的探測深度較淺，主要反映泥漿侵入帶的信息，因此，認為S_xo等于1；

步驟2)中計算儲集層孔隙度曲線的方法為利用巖石體積物理模型或地區的經驗性公式，三種不同類型的儲集層按照如下標準劃分：I類儲集層：孔隙度≥6.0％；II類儲集層：2.0％≤孔隙度6.0％；III類儲集層：孔隙度2.0％；

步驟3)中對于三種不同類型的儲集層，采用如下方法將孔隙度頻率譜轉化為儲集層孔喉半徑分布譜：

1)對于I類儲集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用如下式所述的冪函數將孔隙度頻率譜轉化為儲集層孔喉半徑分布譜；

大孔隙部分：

小孔隙部分：

式中Rc為儲集層孔喉半徑，單位為μm；POR_dist為儲集層孔隙度頻率分布，單位為％；m₁₁為待定的系數，由巖心分析得到；n₁₁為待定的系數，由巖心分析得到；m₁₂為待定的系數，由巖心分析得到；n₁₂為待定的系數，由巖心分析得到；

2)對于II類儲集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用如下式所述的冪函數將孔隙度頻率譜轉化為儲集層孔喉半徑分布譜：

大孔隙部分：

小孔隙部分：

式中R_c為儲集層孔喉半徑，單位為μm；POR_dist為儲集層孔隙度頻率分布，單位為％；m₂₁為待定的系數，由巖心分析得到；n₂₁為待定的系數，由巖心分析得到；m₂₂為待定的系數，由巖心分析得到；n₂₂為待定的系數，由巖心分析得到；

3)對于III類儲集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用如下式所述的冪函數將孔隙度頻率譜轉化為儲集層孔喉半徑分布譜：

大孔隙部分：

小孔隙部分：

式中R_c為儲集層孔喉半徑，單位為μm；POR_dist為儲集層孔隙度頻率分布，單位為％；m₃₁為待定的系數，由巖心分析得到；n₃₁為待定的系數，由巖心分析得到；m₃₂為待定的系數，由巖心分析得到；n₃₂為待定的系數，由巖心分析得到；

步驟4)中按照如下式所述的關系將孔喉半徑轉化為毛管壓力：其中P_c為毛管壓力，單位為MPa；Rc為孔喉半徑，單位為μm；

步驟4)中偽毛管壓力曲線得到的步驟為：

1)將孔隙度頻率譜的幅度按照儲集層孔隙度頻率從大到小的順序進行反向累加，并進行歸一化，得到一條在物理意義上與毛管壓力曲線上非潤濕相飽和度相似的孔隙度頻率譜幅度累加曲線；

2)以歸一化后的孔隙度頻率譜幅度累加曲線為橫坐標，以轉化的毛管壓力為縱坐標作圖，即可得到儲集層偽造毛管壓力曲線。