[發明專利]嵌入式軟件運行時間測試方法在審
| 申請號： | 201611128661.8 | 申請日： | 2016-12-09 |
| 公開（公告）號： | CN106598855A | 公開（公告）日： | 2017-04-26 |
| 發明（設計）人： | 孟娟;林希佳;龔茜茜;劉國輝 | 申請（專利權）人： | 南京晨光集團有限責任公司 |
| 主分類號： | G06F11/36 | 分類號： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 南京理工大學專利中心32203 | 代理人： | 唐代盛 |
| 地址： | 210006 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 嵌入式 軟件 運行 時間 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種嵌入式軟件運行時間測試方法，其特征在于步驟如下：
(1)選擇需要測試的嵌入式軟件對應的硬件芯片可測試的IO口，并對IO進行相應的初始化配置；
(2)在被測嵌入式軟件可執行代碼前端后端進行插樁，其中代碼前端將IO口輸出值配置為低電平，代碼后端將IO口輸出值配置為高電平；
(3)將修改后代碼進行編譯，編譯無誤后重新寫入嵌入式硬件芯片，上電運行后，利用示波器測試該IO口，其中低電平時間即為被測嵌入式軟件代碼的運行時間。
2.一種嵌入式軟件運行時間測試方法，其特征在于步驟如下：
(1)選擇需要測試的嵌入式軟件對應的硬件芯片可測試的IO口，并對IO進行相應的初始化配置；
(2)在被測嵌入式軟件可執行代碼前端后端進行插樁，其中代碼前端將IO口輸出值配置為高電平，代碼后端將IO口輸出值配置為低電平。
(3)將修改后代碼進行編譯，編譯無誤后重新寫入嵌入式硬件芯片，上電運行后，利用示波器測試該IO口，其中高電平時間即為被測嵌入式軟件代碼的運行時間。
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