[發明專利]提供擴充聯合測試工作組接口的擴充電路板

有效

• 申請號: 201611127661.6
• 申請日: 2016-12-09
• 公開（公告）號: CN108226740B
• 公開（公告）日: 2020-06-02
• 發明（設計）人: 宋平
• 申請（專利權）人: 英業達科技有限公司;英業達股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 王中

本發明公開一種提供擴充聯合測試工作組接口的擴充電路板，將測試數據輸入引腳、測試數據輸出引腳、測試時鐘引腳以及測試模式選擇引腳通過線路的配置、多工器以及緩沖器的組合與控制，提供擴充聯合測試工作組接口與對擴充的聯合測試工作組接口進行控制，藉此可以達成提供擴展聯合測試工作組連接接口以提高聯合測試工作組測試需求的技術功效。

技術領域

本發明涉及一種擴充電路板，尤其是指一種將測試數據輸入引腳、測試數據輸出引腳、測試時鐘引腳以及測試模式選擇引腳通過線路的配置、多工器以及緩沖器的組合與控制，提供擴充聯合測試工作組接口與對擴充的聯合測試工作組接口進行控制以提供擴充聯合測試工作組接口的擴充電路板。

背景技術

一般電路的邊界掃描測試(boundary scan test)或是利用邊界掃描(boundaryscan)進行插槽的測試通常是通過測試訪問端口控制器來進行測試，然而測試訪問端口控制器一般僅提供數量有限的測試訪問端口，若電路的邊界掃描測試是需要大量聯合測試工作組接口，則需要使用多個測試訪問端口控制器，但這樣子的測試成本較高，若是使用數量有限的測試訪問端口控制器時，又需要耗費多余的測試時間，也有可能造成測試信號覆蓋欠缺的問題。

綜上所述，可知現有技術中長期以來一直存在現有測試訪問端口控制器提供測試訪問端口數量有限而無法滿足大量測試或是滿足大量測試卻需要較高的測試成本的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。

發明內容

有鑒于現有技術存在現有測試訪問端口控制器提供測試訪問端口數量有限而無法滿足大量測試或是滿足大量測試卻需要較高的測試成本的問題，本發明遂揭露一種提供擴充聯合測試工作組接口的擴充電路板，其中：

本發明所揭露的提供擴充聯合測試工作組接口的擴充電路板，其包含：聯合測試工作組(Joint Test Action Group，JTAG)擴充電路板，聯合測試工作組擴充電路板更包含：聯合測試工作組接口以及八個擴充聯合測試工作組接口。

其中，聯合測試工作組接口更包含第一測試數據輸入(Test Data Input，TDI)引腳、第一測試數據輸出(Test Data Output，TDO)引腳、第一測試時鐘(Test Clock，TCK)引腳以及第一測試模式選擇(Test Mode Select，TMS)引腳；聯合測試工作組接口電性連接于測試訪問端口(Test Access Port，TAP)控制器的測試訪問端口。

擴充聯合測試工作組接口，每一個擴充聯合測試工作組接口更包含第二測試數據輸入引腳、第二測試數據輸出引腳、第二測試時鐘引腳以及第二測試模式選擇。

第一測試數據輸入引腳通過第一多工器(Multiplexer)分別電性連接至每一個擴充聯合測試工作組接口的第二測試數據輸入引腳；第一測試數據輸出引腳通過第二多工器分別電性連接至每一個擴充聯合測試工作組接口的第二測試數據輸出引腳；每一個擴充聯合測試工作組接口的第二測試數據輸出引腳通過保護電阻與另一個擴充聯合測試工作組接口的第二測試數據輸入引腳電性連接，藉以使每一個擴充聯合測試工作組接口形成串聯；第一測試時鐘引腳通過第一緩沖器(Buffer)分別電性連接于擴充聯合測試工作組接口的第二測試時鐘引腳；及第一測試模式選擇引腳通過第二緩沖器分別電性連接于擴充聯合測試工作組接口的第二測試模式選擇引腳。