[發明專利]一種微電阻率掃描成像測井數據異常校正方法及裝置

有效

• 申請號: 201611123548.0
• 申請日: 2016-12-08
• 公開（公告）號: CN106646634B
• 公開（公告）日: 2020-04-14
• 發明（設計）人: 王慧萍;李治江;楊春文;田新;陳虎;周賢斌;何素文;楊頔;何小兵;劉洋
• 申請（專利權）人: 中石化石油工程技術服務有限公司;中石化華北石油工程有限公司
• 主分類號: G01V3/18
• 分類號: G01V3/18;G01V3/38
• 代理公司: 鄭州睿信知識產權代理有限公司 41119
• 代理人: 崔旭東

1.一種微電阻率掃描成像測井數據異常校正方法，其特征在于，該校正方法包括以下步驟：

1)采集測井數據，判斷測井數據是否異常以及異常類型；

2)根據異常類型選取異常數據相鄰的正常數據計算平均值；

3)利用異常數據與相鄰的正常數據的相似性計算異常數據的可信度，根據可信度判斷異常數據是否可信；

4)當異常數據不可信時，將平均值代替異常數據作為校正值；若異常數據可信，則提取異常數據的變化特征，并將變化特征加上其對應的平均值作為異常數據的校正值；

所述的異常數據至少包括以下任意一種：極板或電扣數據與鄰近極板或電扣相比整體偏大或偏小；不同井段間縱向電導率差異大于設定值；檢測的測井數據為負數；

當檢測的測井數據為負數時，則將測井數據映射為正數，并判斷映射的數據是否存在偏大或偏小的異常，若存在，則利用步驟2)-4)進行校正。

2.根據權利要求1所述的微電阻率掃描成像測井數據異常校正方法，其特征在于，當異常數據為極板或電扣數據與鄰近極板或電扣相比整體偏大或偏小時，平均值計算過程為：

I.根據極板和電扣在儀器上的排列規律，在橫向上和縱向上找出異常數據相鄰的正常數據；

II.利用相鄰的正常數據，通過反距離加權插值法依次計算出異常數據深度位置的正常數據。

3.根據權利要求1所述的微電阻率掃描成像測井數據異常校正方法，其特征在于，當不同井段間縱向電導率差異大于設定值時，平均值計算過程為：

a.設異常數據深度范圍為B-C，其相鄰正常深度范圍為A-B與C-D，深度方向上A＜B＜C＜D；

b.計算A-B的平均值為P，C-D的平均值為Q；

c.將B-C深度范圍劃分為n段，計算每一段的平均值V_i，

4.根據權利要求1所述的微電阻率掃描成像測井數據異常校正方法，其特征在于，所述步驟3)中異常數據可信度的計算如下：

將異常數據B和與其相鄰的正常數據A和C平均分為m段，并計算異常數據中每一段的平均值B_i和與其相鄰的正常數據中每一段的平均值A_i和C_i，1≤i≤m-1；

分別統計A_i+1-A_i與B_i+1-B_i以及C_i+1-C_i與B_i+1-B_i符號相同的個數，計算B與C以及B與A的相同率R_B-C和R_B-A，R_B-C和R_B-A中的較大者即為異常數據B的可信度。

5.根據權利要求1所述的微電阻率掃描成像測井數據異常校正方法，其特征在于，當異常數據可信時，其校正過程如下：

(1)在異常范圍內將異常數據平均分為至少兩段，每一段中每個電扣有l個數據；

(2)計算所述l個數據的均值H，并計算每個數據相對于H的增量W_j，W_j＝E_j/H，1≤j≤l；

(3)將增量W_j與F結合得到校正后的值Z_j，即Z_j＝W_j*F。