[發明專利]一種射頻器件的調試方法

有效

• 申請號: 201611121785.3
• 申請日: 2016-12-08
• 公開（公告）號: CN106602202B
• 公開（公告）日: 2019-03-12
• 發明（設計）人: 歐勇盛;王志揚;江國來;楊鏡鋒;孟令江;呂琴;馮偉
• 申請（專利權）人: 中國科學院深圳先進技術研究院
• 主分類號: H01P11/00
• 分類號: H01P11/00
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 李慶波

本發明實施例公開了一種射頻器件的調試方法，包括：對調諧螺桿的螺桿位置的搜索空間進行采樣，進而獲得多組螺桿位置組合，其中每一螺桿位置組合中包括分別對應于每一調諧螺桿的待調試位置；按照每一螺桿位置組合中的待調試位置分別對對應的調諧螺桿進行位置調整，并獲取調整后的射頻器件的第一調試波形；計算每一螺桿位置組合所對應的第一調試波形與目標波形的相似度，并根據相似度設置對應的螺桿位置組合的權重值，其中相似度越大，對應的螺桿位置組合的權重值越高；根據權重值和螺桿位置組合對每一調諧螺桿的目標位置進行估算。通過上述方式，能夠有效降低對人工經驗的依賴度、提高調試效率，同時具有極強的普適性和泛化性。

技術領域

本發明實施例涉及通信領域，特別是涉及一種射頻器件的調試方法。

背景技術

在部分射頻器件(例如，腔體濾波器、雙工器以及合路器等)的生產過程中，通常需要對其上的調諧螺桿的位置進行調試，從而調整諧振腔內的狀態和諧振腔之間的耦合關系，使得器件實現符合生產要求的指標輸出。然而，上述調試過程是一種非常典型的復雜工序。例如，腔體濾波器通常由多路諧振腔構成，因此需要對幾個至幾十個調諧螺桿的位置進行調試。

目前，上述射頻器件的調試仍需要依賴人工調試，即工人使用螺絲刀，在觀察矢量網絡分析儀上顯示的射頻器件的特定參數波形的同時，逐個手動調節每個調諧螺桿的位置，直到波形符合要求。因此，調試過程相對繁瑣，同時調試效率和效果完全依賴于人工經驗，且對不同的產品型號無法具有普適性和泛化性。

發明內容

本發明實施例主要解決的技術問題是提供一種射頻器件的調試方法，能夠有效降低對人工經驗的依賴度、提高調試效率，同時具有極強的普適性和泛化性。

為解決上述技術問題，本發明實施例采用的一個技術方案是：提供一種射頻器件的調試方法，該射頻器件包括至少一調諧螺桿，該方法包括：對調諧螺桿的螺桿位置的搜索空間進行采樣，進而獲得多組螺桿位置組合，其中每一螺桿位置組合中包括分別對應于每一調諧螺桿的待調試位置；按照每一螺桿位置組合中的待調試位置分別對對應的調諧螺桿進行位置調整，并獲取調整后的射頻器件的第一調試波形；計算每一螺桿位置組合所對應的第一調試波形與目標波形的相似度，并根據相似度設置對應的螺桿位置組合的權重值，其中目標波形為用于表征射頻器件滿足調試要求的波形，相似度越大，對應的螺桿位置組合的權重值越高；根據權重值和螺桿位置組合對每一調諧螺桿的目標位置進行估算。

其中，計算每一螺桿位置組合所對應的第一調試波形與目標波形的相似度，并根據相似度設置對應的螺桿位置組合的權重值的步驟包括：計算第一調試波形與目標波形之間的均方誤差；根據均方誤差計算相似度，其中均方誤差越大，相似度越低。

其中，根據均方誤差計算相似度的步驟包括：將均方誤差的倒數作為相似度。

其中，計算第一調試波形與目標波形之間的均方誤差的步驟進一步包括：對第一調試波形進行平移，并計算平移后的第一調試波形與目標波形之間的均方誤差；根據均方誤差計算相似度的步驟包括：根據均方誤差中的最小均方誤差及其對應的平移量計算相似度，其中平移量越大，相似度越低，最小均方誤差越大，相似度越低，其中最小均方誤差為平移前和/或平移后計算得到的至少兩個均方誤差中數值最小的均方誤差。

其中，根據均方誤差中的最小均方誤差及其對應的平移量計算相似度的步驟包括：根據以下公式計算相似度：

在上述公式中，S表示相似度，d為最小均方誤差，δ為最小均方誤差所對應的平移量，λ為經驗系數，μ為比例系數。