[發(fā)明專利]檢查設(shè)備和檢查方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611116487.5
• 申請日: 2016-12-07
• 公開（公告）號: CN108169254A
• 公開（公告）日: 2018-06-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 康克軍;程建平;陳志強;趙自然;李君利;王學(xué)武;曾志;曾鳴;王義;張清軍;顧建平;易茜;劉必成;徐光明;王永強
• 申請（專利權(quán)）人: 清華大學(xué);同方威視技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01N23/06;G01N23/20
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 王波波

1.一種檢查方法，包括步驟：

對被檢查物體進行X射線掃描以產(chǎn)生被檢查物體的圖像；

對所述被檢查物體的圖像進行分割以確定至少一個感興趣區(qū)域；

探測宇宙射線與所述感興趣區(qū)域的相互作用，得到探測值；

基于所述感興趣區(qū)域的尺寸信息和所述探測值計算宇宙射線在所述感興趣區(qū)域的散射特性值和/或吸收特性值；以及

利用所述散射特性值和/或吸收特性值分辨所述感興趣區(qū)域的材料屬性。

2.如權(quán)利要求1所述的檢查方法，所述被檢查物體的圖像包括如下圖像中的至少之一：

單能透射圖像、衰減系數(shù)圖像、CT值圖像、電子密度圖像、原子序數(shù)圖像。

3.如權(quán)利要求1所述的檢查方法，其中利用所述散射特性值分辨一個感興趣區(qū)域的材料屬性，用吸收特性值分辨另一個感興趣區(qū)域的材料屬性。

4.如權(quán)利要求1所述的檢查方法，還包括步驟：

通過執(zhí)行非參數(shù)檢驗來判斷所述感興趣區(qū)域中是否包含核材料。

5.如權(quán)利要求1所述的檢查方法，還包括步驟：

利用參數(shù)重建所述被檢查物體的三維圖像。

6.如權(quán)利要求1所述的檢查方法，當所述被檢查物體的材料屬性滿足預(yù)定條件的情況下，發(fā)出報警信號。

7.如權(quán)利要求1所述的檢查方法，其中利用所述散射特性值和/或吸收特性值分辨所述感興趣區(qū)域的材料屬性的步驟包括：

利用事先創(chuàng)建的分類曲線或者查找表，根據(jù)所述散射特性值和/或吸收特性值確定所述感興趣區(qū)域中材料的原子序數(shù)值。

8.如權(quán)利要求1所述的檢查方法，還包括步驟：

監(jiān)控所述被檢查物體的運動軌跡并且基于所述運動軌跡計算表示宇宙射線與被檢查物體的相互作用結(jié)果的探測值。

9.如權(quán)利要求1所述的檢查方法，其中對所述被檢查物體進行掃描包括如下至少之一：

對所述被檢查物體進行背散射掃描；

對被檢查物體進行單能透射掃描；

對所述被檢查物體進行單能CT掃描；

對被檢查物體進行雙能X透射掃描；

對被檢查物體進行雙能CT掃描。

10.如權(quán)利要求1所述的檢查方法，其中基于所述感興趣區(qū)域的尺寸信息和所述探測值計算宇宙射線在所述感興趣區(qū)域的散射特性值和/或吸收特性值的步驟包括：

通過下式計算散射特性值：

其中，σ_θ為散射角的均方根，p為入射粒子的平均動量，L為所述尺寸信息，具體為通過X射線掃描獲得的材料厚度；

通過下式計算阻擋能力值作為吸收特性值：

其中，N_scatter/(a_scatter·t_scatter)表示在t_scatter時間內(nèi)a_scatter成像面積或體積上探測到的與物質(zhì)發(fā)生散射作用的粒子個數(shù)N_scatter，N_stop/(a_stop·t_stop)表示在t_stop時間內(nèi)a_stop成像面積或體積上與物質(zhì)發(fā)生阻擋作用的粒子個數(shù)N_stop，p為入射粒子的平均動量，L為所述尺寸信息，具體為通過X射線掃描獲得的材料厚度。