[發明專利]輸入裝置以及電子設備

有效

• 申請號: 201611114817.7
• 申請日: 2016-12-07
• 公開（公告）號: CN106990852B
• 公開（公告）日: 2020-07-03
• 發明（設計）人: 大平啟喜;松本良尚
• 申請（專利權）人: 卡西歐計算機株式會社
• 主分類號: G06F3/02
• 分類號: G06F3/02;G06F3/044
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 徐冰冰;黃劍鋒

本發明涉及一種輸入裝置，該輸入裝置具備：向某一方向位移的鍵；第1檢測電路，具備對因按壓體向上述鍵的接觸或者接近而產生的靜電電容的變化進行檢測的靜電電容檢測部；以及第2檢測電路，具有第1電極，并且檢測與上述鍵的位移一起向上述某一方向位移的第2電極和上述第1電極的電連接，其中，根據上述鍵的位移量，以排他的方式切換由上述第1檢測電路檢測并且同時上述第2檢測電路不檢測的第1檢測狀態和由上述第2檢測電路檢測并且同時上述第1檢測電路不檢測的第2檢測狀態。

本申請基于2015年12月18日申請的特愿2015－247182號、2016年9月30日申請的特愿2016－192554號、2016年10月28日申請的特愿2016－211534號各日本專利申請來主張優先權，將這些申請的全部內容引入到本發明中。

技術領域

本發明涉及輸入裝置以及電子設備。

背景技術

以往公知有例如日本特開2010－74689號公報那樣具備輸入裝置的電子設備，其中，所述輸入裝置具有：檢測正被觸碰的鍵的第1檢測單元、和對被進行了使狀態變位的操作的鍵加以檢測的第2檢測單元。

在以往的電子設備的輸入裝置中，在鍵的觸摸操作時當然進行通過第1檢測單元對觸摸操作的檢測，即便是鍵的按下操作時(參照專利文獻1的圖3(C))，也進行了通過第1檢測單元對觸摸操作的檢測。即，需要在鍵向其按下方向位移的期間，也能夠檢測因對鍵的觸摸操作而產生的靜電電容的變化的構成。由此，設計能夠檢測對各鍵的觸摸操作和按下操作雙方的輸入裝置時的自由度受到限制。

發明內容

本發明鑒于上述課題而提出，其目的在于，提供一種輸入裝置，該輸入裝置具備：向某一方向位移的鍵；第1檢測電路，具備對因按壓體向上述鍵的接觸或者接近而產生的靜電電容的變化進行檢測的靜電電容檢測部；以及第2檢測電路，具有第1電極，并且檢測與上述鍵的位移一起向上述某一方向位移的第2電極和上述第1電極的電連接，其中，根據上述鍵的位移量，以排他的方式切換由上述第1檢測電路檢測并且同時上述第2檢測電路不檢測的第1檢測狀態和由上述第2檢測電路檢測并且同時上述第1檢測電路不檢測的第2檢測狀態。

另外，本發明還提供一種電子設備，具備輸入裝置和控制部，上述輸入裝置具備：向某一方向位移的鍵；第1檢測電路，具備對因按壓體向上述鍵的接觸或者接近而產生的靜電電容的變化進行檢測的靜電電容檢測部；以及第2檢測電路，具有第1電極，并且檢測與上述鍵的位移一起向上述某一方向位移的第2電極和上述第1電極的電連接，其中，根據上述鍵的位移量，以排他的方式切換由上述第1檢測電路檢測并且同時上述第2檢測電路不檢測的第1檢測狀態和由上述第2檢測電路檢測并且同時上述第1檢測電路不檢測的第2檢測狀態，上述控制部根據上述第1檢測電路以及上述第2檢測電路的檢測結果來執行至少一個功能。

附圖說明

其中，附圖中的各部件不一定相互成比例。

圖1是表示本發明的實施方式涉及的作為輸入裝置的電子計算器10的俯視圖。

圖2是表示本發明的實施方式涉及的電子計算器10的輸入部11的數值鍵110的圖，(A)是數值鍵110的俯視圖，(B)是表示數值鍵110的鍵結構的觸摸操作檢測時的Ⅱ-Ⅱ剖視圖，(C)是表示數值鍵110的鍵結構的觸擊操作檢測時的Ⅱ-Ⅱ剖視圖。

圖3是表示本發明的實施方式涉及的電子計算器10的觸摸檢測片120上的導電圖案的透視俯視圖。

圖4是本發明的實施方式涉及的電子計算器10的框圖。

圖5是表示使用了本發明的實施方式涉及的電子計算器10的輸入操作檢測處理的流程圖。

圖6是表示本發明的實施方式涉及的電子計算器10的存儲部400中存儲的觸摸輸入圖案的數據結構。

圖7是表示使用了本發明的實施方式涉及的電子計算器10的用戶操作的一個例子的圖。