[發明專利]彩色濾光片及其膜層厚度測量方法

有效

• 申請號: 201611112185.0
• 申請日: 2016-12-07
• 公開（公告）號: CN106707392B
• 公開（公告）日: 2019-02-01
• 發明（設計）人: 陳苡任;王天祺;蔡文仁;馮輝賢
• 申請（專利權）人: 友達光電（昆山）有限公司
• 主分類號: G02B5/20
• 分類號: G02B5/20;G02F1/1335
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

一種彩色濾光片及其膜層厚度測量方法，彩色濾光片具有顯示區和環繞顯示區域的非顯示區，還包括：基板；透明有機薄膜層，該透明有機薄膜層整面覆蓋于該基板的第一表面上；以及膜厚檢測結構，其設置于該非顯示區，該膜厚檢測結構上設置有至少一個測量孔，該基板的部分該第一表面自該至少一個測量孔中暴露出，以暴露出的部分該第一表面作為基準，測量該透明有機層的第二表面到該第一表面的厚度。將膜厚測量結構設置于基板的指定位置，并通過激光裝置形成至少一個測量孔，實現了自動化測量的目的，提高測量結果的準確度及測量效率。

技術領域

本發明涉及彩色濾光片的制造方法，特別關于一種彩色濾光片的膜層厚度測量方法。

背景技術

隨著液晶顯示器產品的日益普及，液晶顯示器件已成為信息與電子工業中占有重要地位的基礎元器件，液晶顯示器已發展成為一個龐大的產業，彩色濾光片是液晶顯示器結構中重要的一部分，以實現彩色顯示。

在液晶顯示器等平板顯示器中使用的彩色濾光片，通常是通過在透明的基板上印刷、涂布或者光刻法形成條紋圖案，條紋圖案與液晶顯示器每個像素一一對應，其中，條紋圖案包括：紅(R)、綠(G)及藍(B)油墨。

圖1為現有的彩色濾光片的俯視圖；圖2為圖1中區域A沿虛線a剖面示意圖。如圖1所示，彩色濾光片10包括透明基板11、彩色濾光層13及黑色矩陣14，其中，黑色矩陣14以劃分各像素；彩色濾光層13包括依次排列而形成條狀圖案的紅色濾光區13R、綠色濾光區13G以及藍色濾光13B。

紅色濾光區13R、綠色濾光區13G以及藍色濾光13B形成條紋圖案后，都由于油墨自身的表面張力，使得其形成為條紋時，容易造成兩端側高，而在中央部低的形狀，因此，作為上述條紋圖案集合體的油墨層的表面出現的凹凸不平的表面。而凹凸不平的表面存在如下問題：1)引起光的漫反射，顯示的對比度降低；2)在液晶顯示器驅動時發生液晶的響應不均，顯示異常。

作為降低凹凸不平的表面部分的高度的嘗試，在彩色濾光片的整個表面上形成透明有機薄膜層12。為了準確的獲得彩色濾光片10的表面是否平坦，需要測量彩色濾光片10上的膜層厚度。

現有膜層厚度測量方式，以表面輪廓儀(profiler)測定膜的厚度為例說明彩色濾光基板10上的膜層厚度測量過程。如圖1與圖2中所示，首先，于彩色濾光基板10上選擇區域A，并移除區域A中的部分透明有機薄膜層12形成測量孔15，其中，基板11可自測量孔15中露出；其次，將表面輪廓儀(profiler)的探針接觸測量孔15中基板11的表面；接著，使得表面輪廓儀(profiler)的探針移動至透明有機薄膜層12的表面，并沿著基板11的長邊方向，向基板11的邊緣劃一直線，以自測量孔15中露出基板11的表面為基準，測量出透明有機薄膜層12的厚度T1、透明有機薄膜層12與紅色濾光區13R的厚度和TR、透明有機薄膜層12與黑色矩陣14的厚度TB。其中，形成測量孔15的方式通過操作者直接刮除基板11上部分透明有機薄膜層12，然而，在操作者刮除部分透明有機薄膜層12的過程中，常常會造成，透明有機薄膜層12下方的彩色濾光層13、黑色矩陣14及基板11的刮傷，進而造成彩色濾光片10報廢或者需要補色。此外，由于操作者的個體差異，無法控制測量孔的形成位置(無固定位置)及力道，造成量測結果的不穩定。因此，測量彩色濾光片上的膜層厚度的方法需要改進。

發明內容

本發明提供一種新的彩色濾光片及其膜層厚度測量方法，以克服現有技術中無法自動化測量彩色濾光片上的膜層厚度的問題。本發明的彩色濾光片，具有顯示區和環繞顯示區域的非顯示區，該彩色濾光片還包括：基板；透明有機薄膜層，該透明有機薄膜層整面覆蓋于該基板的第一表面上；以及膜厚檢測結構，其設置于該非顯示區，該膜厚檢測結構上設置有至少一個測量孔，該基板的部分該第一表面自該至少一個測量孔中暴露出，以暴露出的部分該第一表面作為基準，測量該透明有機層的第二表面到該第一表面的厚度。