[發明專利]一種RDMA模式下Ceph存儲集群測試方法及系統

有效

• 申請號: 201611110173.4
• 申請日: 2016-12-06
• 公開（公告）號: CN106776166B
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發明（設計）人: 劉杰
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 11227 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 羅滿

本申請公開了一種RDMA模式下Ceph存儲集群測試方法，包括：向位于目標測試程序的信號處理函數傳送第一信號，得到由信號處理函數輸出的第一被測參數，并利用第一被測參數，控制目標測試程序對Ceph存儲集群進行相應測試；在利用第一被測參數進行測試的過程中，若需要將目標測試程序中的被測參數由第一被測參數更改為第二被測參數，則確定與第二被測參數對應的第二信號；向信號處理函數傳送第二信號，得到對應的被測參數，然后利用該被測參數，控制目標測試程序對Ceph存儲集群進行相應測試。本申請能夠測試出Ceph存儲集群的抗壓能力以及對壓力改變的敏感程度。另外，本申請還公開了一種Ceph存儲集群測試系統。

技術領域

本發明涉及集群測試技術領域，特別涉及一種RDMA模式下Ceph存儲集群測試方法及系統。

背景技術

當前，在對Ceph存儲集群進行性能測試的時候，通常存在兩種常規測試手段。其中一種是，在測試每個測試用例之前，根據測試用例重新編譯可執行程序；另外一種是，根據測試用例設計測試程序的參數類型，通過參數傳入來對每個測試用例進行測試。這兩種方法存在一些缺陷，其共同的缺陷在于對每個測試用例進行測試時，都需要重新啟動測試程序。這樣不能測試出Ceph存儲集群系統對壓力改變的敏感程度，系統的抗壓能力也不能測試到。

綜上所述可以看出，如何測試出Ceph存儲集群的抗壓能力以及對壓力改變的敏感程度是目前有待解決的問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種RDMA模式下Ceph存儲集群測試方法及系統，能夠測試出Ceph存儲集群的抗壓能力以及對壓力改變的敏感程度。其具體方案如下：

一種RDMA模式下Ceph存儲集群測試方法，包括：

預先創建目標測試程序；其中，所述目標測試程序為包含信號處理函數的測試程序；所述信號處理函數為根據預設的對應關系創建的用于將接收到的信號轉換成相應被測參數的函數，所述對應關系為預先確定的信號與被測參數之間的對應關系；

向所述信號處理函數傳送第一信號，得到由所述信號處理函數輸出的第一被測參數，并利用所述第一被測參數，控制所述目標測試程序對Ceph存儲集群進行相應測試；

在利用所述第一被測參數進行相應測試的過程中，若需要將所述目標測試程序中的被測參數由所述第一被測參數更改為第二被測參數，則根據所述對應關系，確定與所述第二被測參數對應的第二信號；

向所述信號處理函數傳送所述第二信號，得到由所述信號處理函數輸出的與所述第二信號對應的被測參數，然后利用該被測參數，控制所述目標測試程序對所述Ceph存儲集群進行相應測試。

可選的，任一被測參數的參數類型均為時間參數。

可選的，所述目標測試程序為xio_client程序。

可選的，向所述信號處理函數傳送任一信號的過程，包括：

利用kill命令、pkill命令或killall命令，向所述信號處理函數發送該信號。

可選的，所述預先創建目標測試程序的過程之后，還包括：

確定本輪測試所對應的所有被測參數，得到被測參數集；

根據所述對應關系，確定出與所述被測參數集中的每個被測參數對應的信號，得到相應的信號集；

將所述信號集中的每個信號依次傳送至所述信號處理函數，以依次啟動與每個信號對應的測試過程。

可選的，在所述目標測試程序對所述Ceph存儲集群進行的每次測試過程中，均還包括：

記錄相應的數據寫入速率、內存壓力以及CPU占用率，得到與本次測試對應的性能表現參數；