[發明專利]檢測EEPROM讀寫功能的方法及裝置有效
| 申請號： | 201611105411.2 | 申請日： | 2016-12-05 |
| 公開（公告）號： | CN108153637B | 公開（公告）日： | 2021-07-09 |
| 發明（設計）人： | 杜文華;李帥輝;楊樹恒;王秋生 | 申請（專利權）人： | 武漢比亞迪汽車有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/26 | 分類號： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 張潤 |
| 地址： | 432200 湖北省*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 檢測 eeprom 讀寫 功能 方法 裝置 | ||
1.一種檢測電可擦寫只讀存儲器EEPROM讀寫功能的方法，其特征在于，包括：
在產品的印制電路板PCB裝配完成后，獲取所述PCB上EEPROM的存儲空間；
對所述EEPROM的存儲空間執行寫檢測；
在寫檢測成功后對所述EEPROM的存儲空間執行讀檢測；
當檢測成功后，在所述產品上下載面向市場的應用程序。
2.根據權利要求1所述的檢測EEPROM讀寫功能的方法，其特征在于，還包括：
按照預設的次數對所述EEPROM進行讀寫功能的檢測；
當預設的次數內均寫檢測和讀檢測成功，則返回檢測成功指示。
3.根據權利要求2所述的檢測EEPROM讀寫功能的方法，其特征在于，還包括：
在對所述EEPROM進行讀寫功能的檢測的過程中，按照預設的時間間隔返回當前檢測的進程指示。
4.根據權利要求3所述的檢測EEPROM讀寫功能的方法，其特征在于，還包括：
在檢測失敗時，返回用于描述檢測失敗的相關信息，其中所述相關信息包括檢測失敗時對應的存儲空間以及檢測失敗所對應的錯誤類型。
5.根據權利要求1-4任一項所述的檢測EEPROM讀寫功能的方法，其特征在于，按照分布式的讀寫方式或阻塞式的讀寫方式對所述EEPROM進行讀寫功能檢測。
6.一種檢測EEPROM讀寫功能的裝置，其特征在于，包括：
獲取模塊，用于在產品的印制電路板PCB裝配完成后，獲取所述PCB上EEPROM的存儲空間；
檢測模塊，用于對所述EEPROM的存儲空間執行寫檢測，以及在寫檢測成功后對所述EEPROM的存儲空間執行讀檢測；
下載模塊，用于當檢測成功后，在所述產品上下載面向市場的應用程序。
7.根據權利要求6所述的檢測EEPROM讀寫功能的裝置，其特征在于，所述檢測模塊，具體用于：
按照預設的次數對所述EEPROM進行讀寫功能的檢測；
當預設的次數內均寫檢測和讀檢測成功，則返回檢測成功指示。
8.根據權利要求7所述的檢測EEPROM讀寫功能的裝置，其特征在于，所述檢測的模塊，還用于：
在對所述EEPROM進行讀寫功能的檢測的過程中，按照預設的時間間隔返回當前檢測的進程指示。
9.根據權利要求8所述的檢測EEPROM讀寫功能的裝置，其特征在于，所述檢測模塊，還用于在檢測失敗時，返回用于描述檢測失敗的相關信息，其中所述相關信息包括檢測失敗時對應的存儲空間以及檢測失敗所對應的錯誤類型。
10.根據權利要求6-9任一項所述的檢測EEPROM讀寫功能的裝置，其特征在于，所述檢測模塊，具體用于按照分布式的讀寫方式或者阻塞式的讀寫方式對所述EEPROM進行讀寫功能檢測。
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