[發明專利]一種梯度復合結構的激光成形方法有效
| 申請號: | 201611104820.0 | 申請日: | 2016-12-05 | 
| 公開(公告)號: | CN108145160B | 公開(公告)日: | 2019-11-22 | 
| 發明(設計)人: | 吳海峰;高源源;邱美玲 | 申請(專利權)人: | 航天特種材料及工藝技術研究所 | 
| 主分類號: | B22F3/105 | 分類號: | B22F3/105;B33Y10/00 | 
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 | 
| 地址: | 100074 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 激光成形 梯度復合結構 過渡層 掃描軌跡 嵌套 界面應力 連續過渡 平面結合 設備準備 嵌套的 層間 兩層 抵消 轉化 | ||
1.一種梯度復合結構的激光成形方法,所述的梯度復合結構由A層、過渡層(A+B)和B層組成,其特征在于,通過以下步驟實現:
第一步、激光成形設備準備;
第二步、設計激光成形工藝,
A2.1、建立模型,模型由A層、過渡層(A+B)和B層組成,采用剖分軟件對模型各層進行層數剖分;
A2.2、設計過渡層(A+B)的激光掃描軌跡,
將過渡層(A+B)在厚度方向上劃分為若干個循環單元,每個循環單元由4n個激光掃描層組成,n=1,2,3,…,4n個激光掃描層中i層和i+1層為一組,i=1,3,5…,每組中兩層的激光掃描軌跡互相嵌套,每個激光掃描層根據激光光斑直徑大小劃分為M個區域,i層和i+1層的激光掃描軌跡間隔,即i層的激光掃描軌跡為mi,i+1層的激光掃描軌跡mi+1,每個循環單元中激光掃描層的激光掃描軌跡夾角均勻對稱分布;
A2.3、確定激光成形工藝參數;
第三步、激光成形,
A3.1、成形A層;
A3.2、成形過渡層(A+B),
A3.2.1、根據步驟A2.1過渡層(A+B)的剖分層數確定過渡層(A+B)成形時間T;
A3.2.2、確定原材料A、B的送粉速度,原材料A的送粉速度為在步驟A3.2.1確定的時間T內由100%均勻變化為0,原材料B的送粉速度為在步驟A3.2.1確定的時間T內由0均勻變化為100%;
A3.2.3、根據步驟A3.2.2確定的原材料A、B的送粉速度,按照步驟A2.2確定的激光掃描軌跡進行逐層掃描,得到過渡層(A+B);
A3.3、成形B層。
2.根據權利要求1所述的一種梯度復合結構的激光成形方法,其特征在于:所述步驟A2.1中過渡層(A+B)剖分的層厚度低于A層和B層剖分的任一層層厚度。
3.根據權利要求1或2所述的一種梯度復合結構的激光成形方法,其特征在于:所述步驟A2.1中過渡層(A+B)剖分的層厚度≤0.2mm。
4.根據權利要求1所述的一種梯度復合結構的激光成形方法,其特征在于:所述步驟A2.2中n的取值為1、2、3或4。
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