[發(fā)明專利]等離子體產(chǎn)生裝置及包含該裝置的半導(dǎo)體設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611097322.8 | 申請(qǐng)日: | 2016-12-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108155093A | 公開(公告)日: | 2018-06-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 申愛科 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/3065 | 分類號(hào): | H01L21/3065;H01J37/32 |
| 代理公司: | 北京思創(chuàng)畢升專利事務(wù)所 11218 | 代理人: | 廉莉莉;孫向民 |
| 地址: | 100176 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 副筒 主筒 等離子體產(chǎn)生裝置 半導(dǎo)體設(shè)備 周向設(shè)置 等離子體 晶圓表面 同軸設(shè)置 均勻性 晶圓 刻蝕 | ||
1.一種等離子體產(chǎn)生裝置,所述等離子體產(chǎn)生裝置包括主筒和沿所述主筒周向設(shè)置的主筒線圈,其特征在于,還包括副筒和沿所述副筒周向設(shè)置的副筒線圈,其中,所述副筒設(shè)置于所述主筒下方,且所述副筒與所述主筒同軸設(shè)置,所述副筒的內(nèi)徑大于所述主筒的內(nèi)徑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述副筒的內(nèi)徑大于待加工工件的外徑。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述副筒的下端面與待加工工件的上表面之間的距離為10-80mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述副筒線圈為平面帶狀線圈。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述平面帶狀線圈的厚度為1.0mm-2.0mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述主筒線圈和所述副筒線圈分別連接至第一射頻系統(tǒng)和第二射頻系統(tǒng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述等離子體產(chǎn)生裝置還包括屏蔽罩和蓋板,所述屏蔽罩套設(shè)于所述主筒和所述副筒外側(cè),所述屏蔽罩內(nèi)周壁與所述主筒外周壁之間形成第一環(huán)形空間,所述蓋板密封所述第一環(huán)形空間的底部。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述副筒固定設(shè)置于所述蓋板下表面。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述等離子體產(chǎn)生裝置還包括用于支撐所述副筒的支撐板,所述屏蔽罩內(nèi)周壁與所述副筒外周壁之間形成第二環(huán)形空間,所述支撐板密封所述第二環(huán)形空間的底部。
10.一種半導(dǎo)體設(shè)備,其特征在于,所述半導(dǎo)體設(shè)備包括:
反應(yīng)腔;
基座,設(shè)置在所述反應(yīng)腔內(nèi),用于承載待加工工件;以及
根據(jù)權(quán)利要求1-9中任一項(xiàng)所述的等離子體產(chǎn)生裝置,所述等離子體產(chǎn)生裝置設(shè)置在所述反應(yīng)腔的上方,且所述等離子體產(chǎn)生裝置與所述基座相對(duì)設(shè)置。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司,未經(jīng)北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611097322.8/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 用于檢測(cè)半導(dǎo)體設(shè)備的裝置
- 監(jiān)測(cè)半導(dǎo)體存儲(chǔ)設(shè)備可靠性的方法及其裝置
- 半導(dǎo)體晶體移除設(shè)備和半導(dǎo)體晶體的產(chǎn)生方法
- 具有機(jī)械熔絲的半導(dǎo)體封裝
- 監(jiān)控退火設(shè)備出現(xiàn)小顆粒尺寸缺陷的方法
- 多晶硅柵極關(guān)鍵尺寸的先進(jìn)控制方法
- 具有磁耦合設(shè)備的半導(dǎo)體開關(guān)
- 半導(dǎo)體工藝及半導(dǎo)體設(shè)備
- 半導(dǎo)體設(shè)備封裝及其制造方法
- 半導(dǎo)體微波設(shè)備的控制方法和半導(dǎo)體微波設(shè)備





