[發(fā)明專利]準(zhǔn)直測(cè)量?jī)x器一體化校零及對(duì)準(zhǔn)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611090022.7 | 申請(qǐng)日: | 2016-11-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108132027A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-06-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙天承;劉凱;王鍇磊;王占濤;汪濤;姜云翔;高秋娟;王強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所;中國(guó)運(yùn)載火箭技術(shù)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01B11/27 | 分類號(hào): | G01B11/27 |
| 代理公司: | 核工業(yè)專利中心 11007 | 代理人: | 任超 |
| 地址: | 100076 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 直線導(dǎo)軌 反光 液面 雙層鋼架 位置傳感器 測(cè)量?jī)x器 對(duì)準(zhǔn)裝置 自準(zhǔn)直儀 激光器 折光鏡 校零 準(zhǔn)直 電機(jī) 一體化 控制盒 左端 下層 上層 | ||
準(zhǔn)直測(cè)量?jī)x器一體化校零及對(duì)準(zhǔn)裝置,包括自準(zhǔn)直儀1、折光鏡2、反光液面3、位置傳感器4、控制盒5、激光器6、直線導(dǎo)軌8、電機(jī)9、雙層鋼架10。其中自準(zhǔn)直儀1與折光鏡2位于雙層鋼架10的上層,在雙層鋼架10的下層安裝有直線導(dǎo)軌8,在直線導(dǎo)軌8的左端為電機(jī)9,直線導(dǎo)軌8的右端為反光液面3,反光液面3的下方為激光器6,在反光液面3上還安裝有位置傳感器4。
技術(shù)領(lǐng)域
該技術(shù)屬于校零及對(duì)準(zhǔn)領(lǐng)域,具體涉及一種準(zhǔn)直測(cè)量?jī)x器一體化校零及對(duì)準(zhǔn)裝置。
背景技術(shù)
在許多航天器上,載體初始坐標(biāo)系的建立是以基準(zhǔn)鏡作為觀測(cè)目標(biāo)的,因而對(duì)基準(zhǔn)鏡調(diào)平精度的檢測(cè)是很重要的測(cè)試指標(biāo)。原有的測(cè)試過(guò)程主要由人工操作完成,過(guò)程繁瑣,人為影響大,不智能,可操作性差。
故需要一種準(zhǔn)直測(cè)量?jī)x器一體化校零及對(duì)準(zhǔn)裝置來(lái)解決以上問(wèn)題。在這個(gè)過(guò)程中零位的基準(zhǔn)采集和測(cè)試儀器光軸與基準(zhǔn)鏡測(cè)量平面的的對(duì)準(zhǔn)是一個(gè)需要解決的重要方面。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于:提供一種準(zhǔn)直測(cè)量?jī)x器一體化校零及對(duì)準(zhǔn)裝置,解決了人工操作繁瑣、復(fù)雜的問(wèn)題。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下:一種準(zhǔn)直測(cè)量?jī)x器一體化校零及對(duì)準(zhǔn)裝置,包括自準(zhǔn)直儀、折光鏡、反光液面、位置傳感器、控制盒、激光器、直線導(dǎo)軌、電機(jī)、雙層鋼架;其中自準(zhǔn)直儀與折光鏡位于雙層鋼架的上層,在雙層鋼架的下層安裝有直線導(dǎo)軌,在直線導(dǎo)軌的左端為電機(jī),直線導(dǎo)軌的右端為反光液面,反光液面的下方為激光器,在反光液面上還安裝有位置傳感器。
還包括控制盒,控制盒控制電機(jī)。
還包括被測(cè)基準(zhǔn)鏡,裝置使用時(shí),將反光液面移動(dòng)到位置傳感器的觸發(fā)點(diǎn),整體移動(dòng)本裝置,使激光器光束打在被測(cè)基準(zhǔn)鏡上。
本發(fā)明的顯著效果在于:操作過(guò)程簡(jiǎn)單,結(jié)構(gòu)新穎,集成化的解決了現(xiàn)有基準(zhǔn)鏡調(diào)平精度測(cè)試過(guò)程中校零和對(duì)準(zhǔn)的的繁瑣、復(fù)雜、操作不方便的問(wèn)題。基準(zhǔn)的采集和小棱鏡測(cè)量面的對(duì)準(zhǔn)準(zhǔn)確可靠,同時(shí)維修方便。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明所述的準(zhǔn)直測(cè)量?jī)x器一體化校零及對(duì)準(zhǔn)裝置示意圖
圖中:1自準(zhǔn)直儀、2折光鏡、3反光液面、4位置傳感器、5控制盒、6激光器、7被測(cè)基準(zhǔn)鏡、8直線導(dǎo)軌、9電機(jī)、10雙層鋼架。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
準(zhǔn)直測(cè)量?jī)x器一體化校零及對(duì)準(zhǔn)裝置,包括自準(zhǔn)直儀1、折光鏡2、反光液面3、位置傳感器4、控制盒5、激光器6、直線導(dǎo)軌8、電機(jī)9、雙層鋼架10。
其中自準(zhǔn)直儀1與折光鏡2位于雙層鋼架10的上層,在雙層鋼架10的下層安裝有直線導(dǎo)軌8,在直線導(dǎo)軌8的左端為電機(jī)9,直線導(dǎo)軌8的右端為反光液面3,反光液面3的下方為激光器6,在反光液面3上還安裝有位置傳感器4。
控制盒5控制電機(jī)9。
裝置使用時(shí),首先將反光液面3移動(dòng)到位置傳感器4的觸發(fā)點(diǎn),整體移動(dòng)本裝置,使激光器6光束打在被測(cè)基準(zhǔn)鏡7上,然后采集基準(zhǔn)零位,校零完成后在電機(jī)9驅(qū)動(dòng)下撤收反光液面3離開(kāi)自準(zhǔn)直儀1的視場(chǎng)范圍,
激光器6光軸位于反光液面3的下方,可代表測(cè)量光軸位置。降低了測(cè)量時(shí)找像的難度。
反光液面3在重力的作用下自動(dòng)與大地水平面平行,可以代表調(diào)平精度的檢測(cè)零位。激光器6位于反光液面3的下方,由位置傳感器4精確限定其線位移。這樣整個(gè)裝置在運(yùn)動(dòng)到位后,可以由自準(zhǔn)直儀1采集反光液面3的數(shù)值,進(jìn)行零位校正;同時(shí)激光器6發(fā)出可見(jiàn)的、與自準(zhǔn)直儀1同軸的激光束,進(jìn)行與被測(cè)基準(zhǔn)鏡7對(duì)準(zhǔn),這樣就完成了一體化的校零與對(duì)準(zhǔn)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所;中國(guó)運(yùn)載火箭技術(shù)研究院,未經(jīng)北京航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所;中國(guó)運(yùn)載火箭技術(shù)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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