[發明專利]一種確定被測物電磁性能的測試裝置

有效

• 申請號: 201611088914.3
• 申請日: 2016-12-01
• 公開（公告）號: CN108132388B
• 公開（公告）日: 2019-12-06
• 發明（設計）人: 韓棟
• 申請（專利權）人: 深圳市新益技術有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R1/04
• 代理公司: 11508 北京維正專利代理有限公司
• 代理人: 楊春女<國際申請>=<國際公布>=<進入

本發明公開了一種確定被測物電磁性能的測試裝置，旨在解決現有技術中平面近場測試中還沒有使用過采樣技術，測量過程繁瑣、測量精度低，其技術方案要點是：一種確定被測物電磁性能的測試裝置，包括箱體、載物臺、支架，所述支架包括立架和滑移桿，沿所述滑移桿的軸線方向設有多個探頭；還包括用于驅動所述滑移桿沿所述立架移動的橫向驅動裝置和用于驅動多個所述探頭同時沿所述滑移桿的軸線方向移動的軸向驅動裝置。本發明的測試裝置使用多探頭，每次進行平面上多個點的掃描，通過兩種位移裝置，提供迅速構建平面場的快速掃描方法，具有能實現對被測物的過采樣、采樣過程更加簡單方便、采樣的數據點分布的更加密集、檢測結果更加可靠等優點。

技術領域

本發明涉及天線測試技術領域，更具體地說，它涉及一種確定被測物電磁性能的測試裝置。

背景技術

在對天線的電磁性能進行測試時，需要對被測物進行多個位點的檢測，測試出多組數據從而可以更加全面的反映出被測物的電磁性能，為了提高檢測結果的精確度，通常采用過采樣的方式對被測物進行檢測。眾所周知，作為平面近場掃描，為了有效推導出一定范圍內的遠場，必須在整個平面內采樣，并且必須滿足采樣點間距L<lambda/2,其中lambda為輻射信號的波長；而目前過采樣的方法只在球面近場中普遍使用，在平面近場測試中還沒有使用過采樣技術。

發明內容

針對現有技術存在的不足，本發明的目的在于提供一種確定被測物電磁性能的測試裝置，具有能夠實現數據過采樣的優點。

本發明的上述技術目的是通過以下技術方案得以實現的：一種確定被測物電磁性能的測試裝置，包括載物臺和支架，所述支架包括設置在所述載物臺兩側的立架和滑移連接于所述立架且能夠形成覆蓋所述載物臺的滑移面的滑移桿，沿所述滑移桿的軸線方向設有多個探頭；還包括用于驅動所述滑移桿沿所述立架移動的橫向驅動裝置和用于驅動多個所述探頭同時沿所述滑移桿的軸線方向移動的軸向驅動裝置，所述滑移桿包括外桿、滑動套接在所述外桿內用于固定多個所述探頭的內桿、以及開設在所述外桿上供所述探頭滑移的滑槽，所述滑移桿上設有用于限制所述內桿滑移距離的限位組件，所述限位組件包括開設在所述外桿上的安裝槽、滑動連接在所述安裝槽內限位塊、形成于所述限位塊上面向所述立架一側的滑移斜面、兩端分別固定于所述限位塊和所述安裝槽底壁且始終處于壓縮狀態的第一彈性件、以及開設在所述內桿上的限位槽，且當位于最外側的所述探頭靠近所述立架時，所述限位塊嵌入所述限位槽內。

通過采用上述技術方案，測試時，先將被測物放置在載物臺上，啟動測試裝置，通過探頭對被測物進行探測，多個探頭可以對被測物的多個位點進行探測，當滑移桿位于某一位置測得一組數據后，通過橫向驅動裝置驅動滑移桿移動一段距離，探頭也隨之移動一段距離，即可得出第二組數據，以此類推，將滑移桿由被測物的一側移動至另一側后，即可形成一組覆蓋整個被測物并呈矩陣形式分布的數據點；隨后通過軸向驅動裝置，驅動多個探頭同時沿著滑移桿的軸線方向移動一段距離，即可對前次未檢測到的部分進行再次檢測，將滑移桿重新由被測物的一側移動至另一側，即可形成另一組覆蓋整個被測物并呈矩陣形式分布的數據點；通過橫向驅動裝置和軸向驅動裝置，對多個探頭的檢測位置進行調節，從而形成多組覆蓋被測物并呈矩陣形式分布的數據組，實現了對被測物的過采樣，采樣過程更加簡單方便，采樣的數據點分布的更加密集，檢測結果更加可靠。滑動內桿即可帶動多個探頭同時移動，調節探頭的過程簡單方便。內桿在正常的滑移距離內滑移時，限位塊受內桿的抵觸被壓縮在安裝槽內，當內桿滑移至限位槽與限位塊相對齊時，限位塊受第一彈性件的彈性力作用而嵌入限位槽內，從而使內桿無法繼續向前移動，使探頭不會撞擊到立架上；而由于在限位塊上面向立架的一側設有滑移斜面，內桿可以反向滑移而使限位塊脫離限位槽，從而不會影響內桿在正常滑移距離內滑移。

本發明進一步設置為：所述橫向驅動裝置包括固定于所述立架的第一驅動電機、固定在所述第一驅動電機轉軸上的主動輪、轉動連接在所述立架上的從動輪、以及套設于所述主動輪和從動輪且固定于所述滑移桿的傳送帶。