[發明專利]一種基于反射特性的光通信高頻電路板傳輸特性測試方法

有效

• 申請號: 201611085560.7
• 申請日: 2016-11-30
• 公開（公告）號: CN106788693B
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發明（設計）人: 李鳳;成璇璇;翟宇佳;胡毅;馬衛東
• 申請（專利權）人: 武漢光迅科技股份有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071;H04B10/079
• 代理公司: 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 嚴彥

本發明提供一種基于反射特性的光通信高頻電路板傳輸特性測試方法，測試過程包括在未連接高頻電路板的情況下對矢量網絡分析儀進行校準；連接高頻電路板的端口1到矢量網絡分析儀的校準平面，高頻電路板的端口2處于開路狀態，利用矢量網絡分析儀測得高頻電路板的反射S參數，進行頻域到時域的變換；去除高頻電路板本身的反射，只保留高頻電路板端口2的開路反射段響應，進行時域到頻域的轉換，得到新的反射S參數，獲取高頻電路板的傳輸參數。本發明所需設備簡單，成本更低，通用性強；測試過程簡單，后期處理簡便，不僅可以快速計算測試出高頻傳輸S參數，且能同時分析高頻電路板的阻抗特性。

技術領域

本發明涉及到一種光通信用高頻電路板的傳輸特性測試的方法，特別是涉及一種利用網絡分析儀基于反射特性計算傳輸特性的方法，本發明屬于光通信測試技術領域。

背景技術

當今通信領域，光通信已成為廣泛使用的一類通信科學。隨著通信速率的增加，對光通信用高頻電路板的性能要求也越來越高。在高速傳輸運作下，信號載送的質量相當重要，為了獲得最大的傳輸效率，各項高頻參數將成為設計、除錯改良、實際應用上的重要參考依據，因此加強對高頻電路板的特性測試顯得尤為重要。常見的高頻電路板的特性測試包括阻抗測試和傳輸S參數測試，一般來說，在高頻測試中所使用的儀器大致上有“時域反射計”以及“網絡分析儀”。S參數，也就是散射參數，是微波傳輸中的一個重要參數。通常，標記S12為反向傳輸系數，S21為正向傳輸系數，S11為輸入反射系數，S22為輸出反射系數。

對于兩個端口可用同軸射頻線或高頻探針進行連接的高頻電路板，可用時域反射計直接測量阻抗特性，用網絡分析儀直接進行傳輸S參數的測量。但是針對有一個端口無法用同軸射頻線或高頻探針進行連接的特殊高頻電路板，可用時域反射計直接測量阻抗特性，但是卻無法用網絡分析儀直接測量其傳輸S參數。為估算此類特殊高頻電路板的傳輸S參數，可制作專門的電路板，一端口與特殊高頻電路板的非同軸接口匹配，另一端用同軸接口引出，保證兩端口之間的高頻傳輸線傳輸損耗較小，然后測量兩個電路板級聯的傳輸S參數，但是這種方法對電路板的制作要求較高，且通用性不強。

發明內容

本發明的目的在于提供了一種基于反射特性的光通信高頻電路板傳輸特性測試方法，可以解決特殊高頻電路板無法測量傳輸特性的問題，所述特殊高頻電路板有一個測試端口無法用射頻線或探針進行連接。該方法測試過程簡單，測試設備裝置簡單，可以快速測試出高頻傳輸S參數。

本發明技術方案提供一種基于反射特性的光通信高頻電路板傳輸特性測試方法，所述高頻電路板有一端為非同軸接口，不能與矢量網絡分析儀直接連接，設高頻電路板有端口1和端口2，端口1能夠與矢量網絡分析儀直接連接，端口2不能夠與矢量網絡分析儀直接連接，通過以下步驟實現測試，

步驟1，在未連接高頻電路板的情況下對矢量網絡分析儀進行校準；

步驟2，連接高頻電路板的端口1到矢量網絡分析儀的校準平面，高頻電路板的端口2處于開路狀態，利用矢量網絡分析儀測得高頻電路板的反射S參數，記為輸入端反射系數Γ_IN1；

步驟3，對反射S參數Γ_IN1進行頻域到時域的變換，得到時域低通沖擊信號；

步驟4，去除高頻電路板本身的反射，只保留高頻電路板端口2的開路反射段響應，得到相應時域低通沖擊信號；

步驟5，對步驟4所得結果進行時域到頻域的轉換，得到新的反射S參數，記為輸入端反射系數Γ_IN2；

步驟6，利用步驟5轉換得到的輸入端反射系數Γ_IN2，得出高頻電路板的傳輸參數。

而且，步驟4中，保留高頻電路板的開路反射段響應，實現方式如下，

1)從終止頻率往起始頻率的方向進行最大值的查找，當新的最大值比之前的最大值大于預設數值T時，將這個新的最大值的頻率點作為選通的中心頻率點，