[發明專利]一種終端和指紋識別方法

在審

• 申請號: 201611084670.1
• 申請日: 2016-11-30
• 公開（公告）號: CN106803058A
• 公開（公告）日: 2017-06-06
• 發明（設計）人: 楊顯鈞
• 申請（專利權）人: 努比亞技術有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司11262
• 代理人: 韓輝峰,李丹

1.一種終端，其特征在于，所述終端包括：檢測模塊、調整模塊和確定模塊；

所述檢測模塊，用于在指紋識別模式下，檢測手指上的一個或多個特征點；

所述調整模塊，用于根據檢測出的所述特征點調整識別正確率；

所述確定模塊，用于當所述識別正確率達到預設閾值時確定指紋識別成功。

2.如權利要求1所述的終端，其特征在于，所述檢測模塊檢測手指上的一個或多個特征點包括：

在所述手指與指紋識別裝置初始接觸時檢測第一初始接觸面積內的特征點；

在所述第一初始接觸面積的基礎上，隨所述手指與所述指紋識別裝置的接觸面積的增大，依次在每一圈預設的第一增大面積內分別檢測出相應的特征點。

3.如權利要求2所述的終端，其特征在于，所述檢測模塊在所述手指與指紋識別裝置初始接觸時檢測第一初始接觸面積內的特征點包括：

檢測所述第一初始接觸面積內的多個第一指紋特征；

將檢測出的所述多個第一指紋特征與預存的第一標準指紋特征相比較；

當任意一個所述第一指紋特征與所述第一標準指紋特征相匹配時，將相匹配的所述第一指紋特征作為一個特征點，并標記為第一特征點。

4.如權利要求2所述的指紋識別方法，其特征在于，所述檢測模塊依次在每一圈預設的第一增大面積內分別檢測出相應的特征點包括：

在所述每一圈預設的第一增大面積內分別檢測多個指紋特征；

將在所述每一圈預設的第一增大面積內檢測出的所述多個指紋特征與預存的相應的標準指紋特征相比較；其中所述每一圈預設的第一增大面積分別對應不同的標準指紋特征；

當在所述每一圈預設的第一增大面積內檢測出的所述多個指紋特征中的任意一個與所述相應的標準指紋特征相匹配時，將相匹配的所述指紋特征作為一個特征點，并依次標記為不同的標簽。

5.如權利要求3所述的終端，其特征在于，所述調整模塊根據檢測出的所述特征點調整識別正確率包括：

當匹配出所述第一特征點時，將所述識別正確率標記為第一識別正確率；

當匹配出所述第二特征點時，將所述識別正確率標記為第二識別正確率；

當匹配出所述第三特征點時，將所述識別正確率標記為第三識別正確率，直至指紋識別結束；

其中，所述第二識別正確率大于所述第一識別正確率；所述第三識別正確率大于所述第二識別正確率。

6.一種指紋識別方法，其特征在于，所述方法包括：

在指紋識別模式下，檢測手指上的一個或多個特征點；

根據檢測出的所述特征點調整識別正確率；

當所述識別正確率達到預設閾值時確定指紋識別成功。

7.如權利要求6所述的指紋識別方法，其特征在于，所述檢測手指上的一個或多個特征點包括：

在所述手指與指紋識別裝置初始接觸時檢測第一初始接觸面積內的特征點；

在所述第一初始接觸面積的基礎上，隨所述手指與所述指紋識別裝置的接觸面積的增大，依次在每一圈預設的第一增大面積內分別檢測出相應的特征點。

8.如權利要求7所述的指紋識別方法，其特征在于，所述在所述手指與指紋識別裝置初始接觸時檢測第一初始接觸面積內的特征點包括：

檢測所述第一初始接觸面積內的多個第一指紋特征；

將檢測出的所述多個第一指紋特征與預存的第一標準指紋特征相比較；

當任意一個所述第一指紋特征與所述第一標準指紋特征相匹配時，將相匹配的所述第一指紋特征作為一個特征點，并標記為第一特征點。

9.如權利要求7所述的指紋識別方法，其特征在于，所述依次在每一圈預設的第一增大面積內分別檢測出相應的特征點包括：

在所述每一圈預設的第一增大面積內分別檢測多個指紋特征；

將在所述每一圈預設的第一增大面積內檢測出的所述多個指紋特征與預存的相應的標準指紋特征相比較；其中所述每一圈預設的第一增大面積分別對應不同的標準指紋特征；

當在所述每一圈預設的第一增大面積內檢測出的所述多個指紋特征中的任意一個與所述相應的標準指紋特征相匹配時，將相匹配的所述指紋特征作為一個特征點，并依次標記為不同的標簽。

10.如權利要求8所述的指紋識別方法，其特征在于，所述根據檢測出的所述特征點調整識別正確率包括：

當匹配出所述第一特征點時，將所述識別正確率標記為第一識別正確率；

當匹配出所述第二特征點時，將所述識別正確率標記為第二識別正確率；

當匹配出所述第三特征點時，將所述識別正確率標記為第三識別正確率，直至指紋識別結束；

其中，所述第二識別正確率大于所述第一識別正確率；所述第三識別正確率大于所述第二識別正確率。