[發明專利]一種光功率計綜合測試方法在審
| 申請號: | 201611079293.2 | 申請日: | 2016-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN106788705A | 公開(公告)日: | 2017-05-31 |
| 發明(設計)人: | 羅江君 | 申請(專利權)人: | 羅江君 |
| 主分類號: | H04B10/079 | 分類號: | H04B10/079 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518102 廣東省深圳市寶安*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 功率 綜合測試 方法 | ||
1.一種光功率計綜合測試方法,其特征在于:其平臺主要采用多路光分器、波分復用器、光功率計、光衰減器,主要應用于校準和測試光網絡單元相關的發射和接收;發射部分的校準和測試由光網絡單元設備本身發射1310nm波長的光經過光隔離器到達1310nm光功率計,并進行測量。
2.如權利要求1所述的光功率計綜合測試方法,其特征在于,所述接收部分的校準和測試由外部BERT提供1490nm波長的光經過光衰減器及光隔離器后以1:9的比例將1/10的光進入1490nm光功率計進行光功率大小測試,9/10的光進入光網絡單元設備,其中光衰減器的作用是控制調節光網絡單元時時需要的接收光功率大小。
3.如權利要求2所述的光功率計綜合測試方法,其特征在于,基于本發明方法的系統平臺基于單片機進行控制多通道所有光功率計和衰減器的大小和數據的讀取,外置PC通過兩個串口與單片機進行通信,進而控制平臺設備,兩個串口分別控制8個光功率計和4個衰減器,其中8個光功率計分為4個1310nm光功率計和4個1490nm光功率計,4個衰減器分別為1490nm衰減器,PC與內部系統的通信建立在雙方約定的自定義通信協議,包含發送和接收數據的格式和解析規則。
4.如權利要求3所述的光功率計綜合測試方法,其特征在于,所述基于本發明方法的系統包含接收光路部分和發射光路部分;其中接收光路部分包含BERT、程控衰減、光分和光功率計1,發射光路部分包含光功率計2;其中波分復用器作為連接接收光路、發射光路以及被測設備之間光路傳輸和1310及1490波長光隔離的介質,在傳輸過程將被測設備發射的1310波長的光轉發到光功率計2,將BERT發射的1490波長的光傳送給被測設備,兩種不同波長的光在發射光路和接收光路相互之間不透傳,使接收光路和發射光路對被測設備進行單獨通信。
5.如權利要求4所述的光功率計綜合測試方法,其特征在于, 所述接收光路中BERT作為光源,向被測設備發出1490波長并加載prbs7、 prbs23或prbs31碼型的連續光,中間經過程控衰減調節線路光衰,對輸入給被測設備的光功率的大小進行控制;經過一分二,比例為1:9的光分路器,將1/10的光傳輸給光功率計1,用來監控線路光功率的大小;將9/10的光傳輸經過波分復用器最終傳輸給被測設備。
6.如權利要求5所述的光功率計綜合測試方法,其特征在于,在所述發射光路中被測設備作為光源,其發射1310波長的連續光,經過波分復用器的分離,最終由所述光功率計2接收。
7.如權利要求4所述的光功率計綜合測試方法,其特征在于,所述基于本發明方法的系統包括光衰減器控制部分,光衰減器采用4 路光衰減器,光衰減器固定在盤纖盒上;通過連接線和印刷電路板連接;單片機進行控制,通過COM1 進行衰減量的調節;衰減范圍0dB~45dB;衰減器設置精度0.1dBm;增加數據存儲芯片提升可變光衰減器器件的設置精度。
8.如權利要求7所述的光功率計綜合測試方法,其特征在于,所述光衰減器控制部分的光路連接為:4個光纖盤纖阻塞分別固定在4個盤纖盒上;通過FC/UPC 和印刷電路板上的探測器連接;通過SIP2.54 連接線和印刷電路板上的可變光衰減器驅動電路連接。
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